Устройство для измерения теплового

39)5ОЗ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 26.Х.1970 (Л" 1486546, 26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 25.VII.1973. Ь!оллете»ь № 31

Дата опубликования описания 10.XII.1973

М. Кл. G Olr 31,/26

Государственный комите1

Совета Министров СССР по делам иоооретений и открытий

УДK 621. 382.2 (088.8) Авторы изобретения

В. Б. Бальзовский и М. Э. Кричевский

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕПЛОВОГО

СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВ

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано для измерения параметров полупроводниковых приборов как па этапах разработки, так и в процессе произ водства.

В известном устройстве для измерения теплового сопротивления полупроводниковых диода в, содержащем источники греющего и измерительного тока с параллельным ключом и разделительным диодом между источником греющего тока и измерительной схемой, измеpcIIHH теплового сопротивления диодов с относитель»о большим временем жизни неоснов»ых носителей заряда, особенно в импульсном режиме, имеет место большая погрешность за счет рассасывания заряда, накапливаемого в базе диода при прохождении греющего тока.

В результате момент измерения отстоит от момента окончания греющего тока на время рассасывания накопленного заряда. За это время температура р — n перехода снижается, что приводит к погрешности измерения.

Цель изобретения — повышение точности измерс»ий.

Это достигается тем, что устройство содержит регулируемый исто шик отрицательного смещения, соединенный положительным полюсом через измерительную схему с катодом исслед» смого диода, а отрицательным полюсом через параллельный клю11 — с разделительным диодом.

I-l3 чертеже представлена схема продлагае5 мо1о устройства.

:1 стройство состоит из генератора 1 греюl го тока, pàзделитсльного диода 2, измерительной схемы 8, исследуемого диода 4, па10 раллельного ключа 5 и регулируемого»сточ»пка б отрицательного cìåùñí»ÿ.

УстРойстBO P360T3CT c;Icpriolll»xil ooP330ill.

15 От исто.-нн»ка 1 греющий ток проходит через разделител.ный диод 2, измерительную схему 8 и исследуемый гдиод 4. Момент окончания греющего тока задается включением параллельного ключа 5, .при включепи» кото2р рого шунтируется источник 1 и прекращается греющий ток через исследуемый, диод 4. Одновременно .источник б отрицательного смещения подключается к исследуемому диоду 4 и разделительному диоду 2, включенным последовательпо. При этом черсз»сследусмый диод 4 проход»т импульс обратного тока, который рассгсывает накопившийся в ба",с»сслсдуc»oro диода заряд неосновпых носите;!cll. I13сс3 1>! пан.ие li,pQKp3IJJ3PTlcH к мо IciIT) чп восстанови".ñ Iiië обрат»ого сопротивления раз391503

Предмет изобретения

Составитель 3. Челнокова

Тсхред А. Камышиикова Корректор Л. Новожилов»

Редактор А. Батыгин

Заказ 3262/16 Из;д. № 840 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретенлй и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 делительного диода 2; при этом .из исследуемого диода 4 извлекается большая часть накопленного заряда за значительно меньший промежуток времени, чем при рассасывании без подачи обратного на пряжения, что дает возможность проводить измерения с меньшей задержкой относительно момента окончания греющего тока, за счет чего снижается погрешность измерения.

Устройство может быть использовано также для измерения теплового сопротивления других типов полупроводниковых приборов, имеющих хотя бы один p — а переход.

Устройство для измерения теплового сопротивления полупроводниковых диодов, содер5 жащее генератор греющего тока, разделительный диод, измерительную схему и параллельный ключ, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, оно содержит регулируемый источник отрицательного сме10 щения, соединенный положительным полюсом через измерительную схему с катодом исследуемого диода, а отрицательным полюсом через параллельный ключ — с разделительным диодом.