Всрос-'-'

 

О П И С А Н И Е 375714

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советекин

Сапиалистическин

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 06.1Ч.1970 (№ 1424065/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 23.111.1973. Бюллетень № 16

Дата опубликования описания 1.Ч1.1973

М. Кл. Н 0117/68

Комитет по делам изобретений и открытий прн Совете Министров

СССР

УДК 621.328.2.002.54 (088.8) Авторы изобретения

H А. Трофимов, А. Э. Яраус и С, Ф. Гилев

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

ДИОДОВ НА СТАБИЛЬНОСТЬ

Изобретение относится,к технологическому оборудованию для производства полупроводHHKoIBbIx пр ибо ров и может быть использовадо для проверки полупроводниковых приборов на .стабильность.

Известные устройства для проверки полупроводниковых приборов содержат узел загрузки, накопитель, mipanrающийся ротор, на котором расположены контактные гнезда, куда загружают приборы, узел разгрузки проверенных при боро в. Загруженные приборы при д выжении ротора |в течение всего времени проверочки связаны с измерительной схемой через скользя|щие контакты.

Скользящие контакты создают дополнительные переходные сопротивления, уменьшая надежность оборудования и снижая производительность процесса проверки.

Цель ызобретения — увеличение производительности и повышение надежности устройства. Цель достигается тем, что |в предла,гаемом устройстве узел подсоединения диодов к измерительному блоку выполнен в виде кольце вой неподвижной колодки, на верхней плоскости которой расположены контактные гнезда, а механизм распределения, подающий диоды и удаляющий их из контактных гнезд, выполнен в виде двух закрепленных на вертикальном валу лотков, раздаточного и приемного, причем входной участок раздаточ|ного лотка и выходной участок приемного ,лотка совмещены с осью вала, а их п ротивоположные концевые участии, расположены по окружности IKDHTBKTHblx гнезд.

На фиг. 1 представлена кинематическая ,схема описываемого устройства; на фиг. 2 изображен механизм распределения диодов.

Устройство для проверки полуп роводниковых диодов на стабильность состоит из нако10,п ителя 1, транспортера 2 для перегрузки диодов из накопителя в однопозиционную колодку 8. Для точной уклад|ки применен ловитель

4 с приводом от кулачка 5. Раскрытие под,вижных контактов колодки 8 осуществляется

15,черкез .рычаг б кулачком 7, В колодке 8 име,ются штыри 8 о риентации с преводом от электромагнитов 9.

Под колод кой .расположен загрузочный узел 10, вы полоненный в виде качающейся во20 ранки с приводом от электромагнитов 11.

От храпового устройства 12, привод кото,рого осуществляется кулачком 18, пр ерывистое движение передается на распределительный механизм 14.

25 Распределительный механизм (фиг. 2) представляет собой вертикальный пустотелый вал, состоящий из двух частей, верхней

15 и нижней 1б, соединенных между собой.

Фла нцевое соединение позволяет разворачи30 вать части между собой на любой угол, На

375714

;верхней части вала закреплен раздаточный лоток 17, верхний конец которого совмещен с осью вертикального вала, а нижний при вращении вертикального вала обходит контактные гнезда неподвижной мнопопозиционной колодки 18. На этой же половине вала закреплен кронштейн 19 с роликами 20, кото,рые при вращении вертикального вала, нажимая на рычаги 21, раскрывают контактные гнезда в многопозиционной колодке, в которые должна быть про извед1ена загрузка диодоВ, 1-1а нижней половине вала зак,реплен пр иемный лоток 22, верхний KctHpö которого прн вращении вертикального вала снизу обходит контактные гнезда многопозиционной колодки 18, а нижний конец совмещен с осью вертикального,вала и находится над,ра"-грузоч.пым узлом 28. На,нижней части вала закреплен кронштейн 24 с,роликами 25, которые ,при вращении вертикального вала нажимают на рычаги 21 и раскрывают контактные ,гнезда для разгрузки приборов.

Привод всего устройства осуществляется от электродвигателя 26 через клыноременную п ередачу 27, редуктор 28, пару конических колес 29 и,распределительный вал 80.

Миогопозиционная:.колодка 18 имеет расположенные по окружности контактные гнезда. Каждому контактному pHезду:соответствуют два контакта 81 и два подпружиненных ,рычага 21.

Полупроводниковые п риборы из накопителя 1 поштучно передаются на транспортер 2.

Ловитель 4,снимает приборы из транспорте,ра и укладывает в измерительную колодку 8.

В колодке определяется ориентация прибо,ров по поляр|ности и п роисходит их п роверка на соответствие данной группе. Выгрузка приборов из колодки осуществляется в ор иентированном положении, для чего преду,смотрены штыри 8,с приводом от электромагнитов 9. При срабатывании одного из элект1ромагнитов (в завиоимости от полярности) один из штырей убирается и приборы все время одним и тем же,выводом попадают в узел 10 загрузки. Приборы, не соответствую щие данной группе, при срабатывании одного аз электромагнитов 11 узла загрузками по боковым лоткам разгружаются в тару. Hip»боры данной труппы через воронку узла загрузки попадают в верхний конец раздаточного лотка 17 распределительного механизмаа. При вр ащении,р аспр еделительного,меха,низма приборы mo одному загружаются во все,контактные гнезда неподвижной многопозиционной колодки 18.

Выводы пр иборов прижимаются к контактам 81 в контактных гнездах подпружиненными рычагами 21, которые при загрузке,приборов открывают контактные гнезда при нажатии на них роликами 20 кронштейна 19.

В многопоз иционной колодке 18 диоды с помощью контактов 81 подключаются непо,средственно в цепь измерения для проверки их параметров на стабильность. Проверяе,мые диоды относительно контактов 81 в процессе проверки неподвижны, что исключает необходимость в скользящих контактах цепи измерения.

Каждый пр|ибор в многопозиц ионной колодке 18 постояяно связан со схемой измерения до тех пор, пока к нему снизу не подходит п1рием ный лоток 22,распределительного

:механизма. Ролики 25 кронштейна 24 нажимают на рычати 21, которые освобождают проверенный прибор, и он по приемному лотку 22,попадает в узел, разгрузки 28.

По результатам про верки,с помощью элект,ромапнитов узла разгрузки п|роизводится разбраковка приборов в тару для брака или годных.

Время, проверки стабильности электрическ их параметров по техническим условиям для различных диодов различно и составляет 1,5 — 75 сек. Конструкция, распределительного механизма позволяет устанавливать любое время проверки. Это достигается за счет изменения угла между уаздаточны м 17 и приемным 22 лотками путем поворота верхней части 15 вертикального вала относительно нижней 1б.

Чем .на боль щей угол приемный лоток 22 опережает,раздаточный 17 (по ходу вращения), тем меньшее время приборы находятся

:в колодке 18 и, следовательно, тем выше производительность устройства.

П р е д м е т:и з о б р е т е н и я

Устройство для проверки полуп роводниковых диодов на стабильность, содержащее накопитель, м|еханизм распределения д иодов, узел подсоединения д|иодов к измерительному блоку, измерительный блок, привод, отличающееся тем, что, с целью увеличения производ ительности и повышения надежности, узел подсоединения диодов к измерительному блоку выполнен в виде кольцевой неподвижной колодки, на верхней плоскости кото,рой расположены контактные гнезда, а механизм распределения, подающий диоды и удаляющ ий их из контактных гнезд, выполнен в виде двух зак реплениых на вертикальном валу лотков, раздаточного и приемного, .причем ,входной участок раздаточного лотка и выходной участок приемного лотка совмещены с осью вала, а их противоположные концевые участки расположены по окружности конта ктн ых гнезд.

375714

Составитель В. Гришин

Техред Е. Борисова

Корректор Г. Запорожец

Редактор И. Орлова

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 1604/б Изд. № 1373 Тираж 780 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Всрос-- Всрос-- Всрос-- Всрос-- 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин
Наверх