Дифракционный интерферометр

Авторы патента:


 

299736

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 14.Х!1.1963 (№ 870530/26-25) с присоединением заявки № 1361491/26-25

Приоритет 08. IX.1969

Опубликовано 26.lll.1971. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания 21 V.1971

МПК G 01Ь 9/02

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 535,873(088 8) Автор изобретения

В. А. Комиссарук

Заявитель »М т.»е

ДИФРАКЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР третьего порядка, что в свою очередь, вызывает наклон интерференционных полос относительно штрихов решеток.

Предпочтительный угол между меридио5 нальным сечением астигмати-»еского элемента и направлением штрихов решеток — 45 . Ширина и направление полос изменяются перемещением вдоль оптической оси решеток 8, 4 и астигматического компонента В.

Дифракционный интерферометр для изучсния прозрачных неоднородностей, содержа15 щий два встречных коллиматорных объектива и по меньшей мере одну дифрационную решетку, отличающийся тем, что, с целью получения интерференционных полос, не параллельных штрихам решетки, в нем перед пер20 ным коллиматорным объективом установлена астигматическая система, например, в виде одиночной цилиндрической линзы или сочетания линз с цилиндрическими и сферическими поверхностями.

Изобретение относится к приборам для исследования прозрачных неоднородностей и волновых аберраций оптических систем.

Известные дифракционные интерферометры дают либо полосы только параллельные штрихам решетки, либо полосы невысокого качества. Предлагаемый дифрационный интерферометр позволяет получить полосы произвольной ориентации и хорошего контраста.

На чертеже показан предлагаемый дифракционный интерферометр. В фокальных плоскостях двух встречных коллиматорных объективов 1 и 2 располо кены параллельные дифракционные решетки 8 и 4. Между объективами расположен объект исследования 5, изображение которого переносится объективами 2 и б в плоскость фотопленки 7. Изображение источника света фокусируется на решетку 8.

Астигматический элемент 8, помещенный вблизи решетки 8, представляет собой одиночную цилиндрическую линзу или комбинацию цилиндрических и сферических линз. Введение астигматического элемента приводит к появлению в оптической системе астигматизма

Предмет изобретения

299736

Составитель Б. Арлов

Техред Л. Л. Евдонов Корректор Л. А. Царькова

Редактор Е. Гончар

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 1110/11 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Дифракционный интерферометр Дифракционный интерферометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области волоконной оптики и может быть использовано при конструировании электронного блока обработки информации волоконно-оптического гироскопа, а также других датчиков физических величин на основе кольцевого интерферометра

Изобретение относится к интерферометрам и может быть использовано для абсолютного измерения линейной длины отрезков

Изобретение относится к волоконно-оптическим автоколебательным системам на основе микромеханического резонатора, возбуждаемого светом, и может быть использовано в системах измерения различных физических величин, например, концентрации газов, температуры, давления и др

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в скоростных дифрактометрах
Наверх