Патент ссср 277270

Взамен ранее изданного (ii) 277270

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Реслублкк (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 03.03.69 (21) 1310986 25-28 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 15.12.75. Бюллетень № 46

Дата опубликования описания 05.03.76 (51) М. Кл. G Olb 11/12

G 0lb 9/02

Государственный комитет

Совета Министров СССР (53) УДК 531.717.12:531. .715.1(088.8) ло делам изобретенмм м открытмй (72) Авторы изобретения (71) Заявитель

Э. П, Янушкевич и А. А. Ветвинский

Харьковский государственный научно-исследовательский институт метрологии (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТВЕРСТИЙ

ПО АТТЕСТОВАННЫМ ПРОБКАМ

Предлагаемый способ относится к измерительной технике, а именно к технике измерения отверстий.

Известен способ измерения отверстий в прозрачном материале по аттестованным пробкам, заключающийся в том, что вводят в измеряемое отверстие непрозрачную пробку, подсвечивают ее с боков, добиваются оптического контакта пробки со стенками отверстия, прижимая ее к стенке отверстия, и определяют разность размеров отверстия и пробки по количеству наблюдаемых интерференционных полос.

Однако этот способ отличается тем, что он позволяет измерять отверстия, выполненные только в прозрачном материале.

Предлагаемый способ отличается тем, что, с целью измерения отверстий в непрозрачном материале, используют пробку из прозрачного материала с внутренней отражающей поверхностью, подсвечивают пробку со стороны торцов и наблюдают сквозь них интерференционные полосы. Для наиболес удобного наблюдения интерференционных полос добиваются оптического контакта перекосом пробки в отверстии в плоскости, перпендикулярной отражающей поверхности; с целью достижения наибольшей точности измерения интерференционные полосы ориентируют симметрично относительно продольных рисок пробки и отсчитывают их число со стороны обои.: торцов пробки относительно ее поперечной риски.

На фиг. 1 показано отверстие с введенной в него аттестованной пробкой (вид в направлении, перпендикулярном оси); на фиг. 2 — то же, вид сверху вдоль оси. Кроме того, на фиг, 2 показано изоораженпс интерференционных полос и рисок, нанесенных на поверхности пробки.

Предлагаемый способ осуществляют следующим образом. В отверстие изделия 1 вводят аттестованную пробку 2 и перекашивают ее в плоскости, перпендикулярной отражающей поверхности 3, до получения оптического контакта в точках А и В (пробка выполнена из прозрачного материала и состоит из двух элементов, склеенных непрозрачными отражающими поверхностями. расположенными под углом

20 примерно 45 к ее оси). Затем пробку подсвечивают со стороны торцов и через прозрачные торцы наблюдают интерференционные полосы равной толщины.

Полосы ориентируют симметрично относиоГ тельно нанесенных вдоль образующей поверхности пробки продольных рисок 4 и, считая пятна контакта А и В нулевыми полосами, 277270 отсчитывают со стороны обоих торцов целое число и дробную часть интерференцпон Iblx полос до поперечной риски 5, также нанесенной на поверхности пробки.

По суммарному числу полос определяют разность размеров отверстия и пробки в заданном направлении.

Таким образом, приведенный способ позволяет измерять внутренние размеры в непрозрачном материале по аттестованным пробкам с использованием интерференционных полос.

Применение явления интерференции света для измерения внутренних полостей, выполненных в непрозрачном материале, значительно повышает точность их измерения и позволяет измерять отверстия в любых диаметральных сечениях и направлениях.

Предмет изобретения

1. Способ измерения отверстий по аттестованным пробкам, заключающийся в том, что вводят в измеряемое отверстие пробку, подсвечивают ее добиваются оптического контакта пробки со стенками отверстия и определяют разность размеров отверстия и пробки по количеству наблюдаемых интер ференционных полос, отличающийся тем, что, с целью измерения отверстий в непрозрачном материале, используют пробку из прозрачного материала с внутренней отражающей поверхностью, подсвечивают пробку со стороны торцов и наблюдают сквозь них интерференционные

10 полосы.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что, с целью наиболее удобного наблюдения интерференционных полос, добиваются оптического контакта перекосом пробки в отвер15 стии в плоскости, перпендикулярной отражающей поверхности.

3. Способ по пп. 1 и 2, отличающийся тем, что, с целью достижения наибольшей точности измерения, иптерференционные поло20 сы ориентируют симметрично относительно продольных рисок пробки и отсчитывают их число со стороны обоих торцов пробки относительно ее поперечной риски.

J с

Составитель О. Филиппова

Редактор П. Горькова Текред А. Камышникова

Корректоры: М. Лейзерман и 3. Тарасова

Заказ 305/1 Изд. № 2053 Тираж 782 Г1одпнсное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4,5

Типография, пр. Сапунова, 2