Способ измерения пороговых характеристик магнитопленочных запоминающих элементов

 

Gaea Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 04.XI1.1969 (№ 1383230/18-24) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 07Х11.1972. Бюллетень № 21

Дата опубликования описания 14.VIII.1972

М. Кл. G 11с 29/00

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 681.327.66(088.8) Авторы изобретения

А. Д. Бех, Н. К. Бабенко, В. М. Корсунский, В. В. Чернецкий и Б. И. Павлусь

Институт кибернетики АН Украинской ССР

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОРОГОВЫХ ХАРАКТЕРИСТИК

МАГНИТОПЛЕНОЧНЫХ ЗАПОМИНА1ОЩИХ ЭЛЕМЕНТОВ

Изобретение относится к области запоминающих устройств.

Известен способ измерения пороговых характеристик магнитопленочных запоминающих элементов путем фиксирования амплитуды разрядного тока по разности амплитуд считанного сигнала и сигнала полного переключения.

Недостатком известного способа является низкая точность измерения пороговых токов матрицы элементов, обусловленная разбросом амплитуд сигналов отдельных элементов.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что считанный сигнал от каждого контролируемого запоминающего элемента задерживают до временного совпадения с сигналом полного переключения от того же запоминающего элемента.

Это позволяет повысить точность при автоматическом измерении.

Предлагаемый способ измерения пороговых характеристик магнитопленочных запоминающих элементов реализуется в следующей последовательности.

Формируют испытательную токовую программу адресных и разрядных импульсов, которые затем коммутируют на один из элементов матрицы. На этот же элемент со сдвигом во времени коммутируют и разрядные импульсы, обеспечивающие полное переключение запоминающего элемента. Сигналы от элемента усиливают и коммутируют в два канала для их дальнейшей независимой обработки.

При автоматическом сравнении (вычитании) разнесенных во времени сигнала полного переключения и считанного сигнала последний задерживают на время, обеспечивающее пол.

1о ное совпадение этих сигналов. При изменении величины разрядного тока изменяется величина считанного сигнала, и в момент равенства считанного сигнала и сигнала полного переключения вырабатывается сигнал измерения

15 и регистрации пороговых токов, Предмет изобретения

Способ измерения пороговых характеристик магнитопленочных запоминающих элементов

20 путем фиксирования амплитуды разрядного тока по разности амплитуд считанного сигнала и сигнала полного переключения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности при автоматическом измерении, считанный сигнал

25 от каждого контролируемого запоминающего элемента задерживают до временнбго совпадения с сигналом полного переключения от того же запоминающего элемента,

Способ измерения пороговых характеристик магнитопленочных запоминающих элементов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в устройствах вычислительной техники и системах управления

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности, к устройствам хранения информации, и может найти приме нение в специализированных системах хранения и обработки изображений, в ассоциативных параллельных процессорах при решении информационно-логических задач, задач поиска и сортировки данных, в устройствах обработки сигналов в реальном масштабе времени

Изобретение относится к полупроводниковому запоминающему устройству, содержащему схему обнаружения и исправления множественных ошибок

Изобретение относится к способам записи в энергонезависимую память и может быть использовано в приборах, осуществляющих хранение и обновление оперативной информации в процессе своей работы

Изобретение относится к устройствам тестирования электронных элементарных схем и групповых линий соединений

Изобретение относится к средствам для программирования/стирания электрически стираемых программируемых полупроводниковых постоянных запоминающих устройств

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к электронным запоминающим устройствам (ЗУ) с электрически программируемыми ячейками
Наверх