Всесоюзная iшш04?кш:'^п1^;^|

 

336620

О П И С А Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Соеетокив

Социелистическик

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

М, Кл. G 01г 31/22

Заявлено ЗОВ!!.1970 (№ 1456312/26-9) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 21.1т/.1972. Бюллетень № 14

Дата опубликования описания 29Х.1972

Ковтитет по делим изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 621.317,3(088.8) Авторы изобретения

Л. Н, Зуев и А. В. Тодуа

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ ВКЛЮЧЕНИЯ

ТИРИСТОРА

Предмет изобретения

Изобретение относится к области промышленной электроники и может быть использовано в радиотехнике, вычислительной технике и автоматике.

Известен способ измерения напряжения включения тиристора, основанный на том, что на анод тиристора подают последовательность импульсов с постоянной для каждого импульса и монотонно меняющейся от импульса к импульсу амплитудой напряжения и измеряют напряжение включения.

Однако точность измерения напряжения переключения тиристоров известным способом низка.

Цель изобретения — повышение точности измерения.

Достигается это тем, что перед измерением напряжения включения измеряют период квазирезонансной частоты перехода анод-катод тиристора в его предвключенном состоянии и устанавливают длительность .плоской вершины импульса много больше периода квазирезонансной частоты.

Влияние длительности плоской вершины воздействующего напряжения на точность измерения напряжения включения тиристора определяется частотной характеристикой последнего. Для тиристоров различного типа длительность плоской вершины воздействующего напряжения различна в силу»v различных частотных параметров, Период квазирезонансной частоты определяет время включения тпри стора, а величина тока включения— момент включения.

Перед измерением напряжения включения

5 тиристора измеряют период квазирезонансной частоты коэффициента передачи от напряжения к току коммутирующего силового перехода тиристора. Затем на анод тиристора подают напряжение, включающее тиристор за вре10 мя, значительно большее периода квазирезонансной частоты, с тем, чтобы учесть влияние переходных процессов на его включение.

Фронт измеряемого при этом напряжения— линейно нарастающий с произвольной кру15 т изной.

Способ измерения напряжения включения тиристора, основанный на том, что на анод

20 тиристора подают последовательность импульсов с постоянной для каждого импульса и монотонно меняющейся от импульса к импульсу амплитудой напряжения и измеряют напряжение включения, отлачающийся тем, 25 что, с целью повышения точности измерения, и ред измерением напряжения включения измеряют период квазирезонансной частоты перехода анод-катод тирпстора в его предвключенном состоянии и устанавливают длитель30 ность плоской вершины импульса много больше периода квазирезонансной частоты,

Всесоюзная iшш04?кш:^п1^;^| 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх