Способ ультразвуковой дефектоскопии

l союзнам

" о" но то

=хничео, @„

- " "." тотема М

ОПИСАН ИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

245428

Союз Соввтскив

Социалистическив

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 30. т/.1967 (№ 1160150/25-28) с присоединением заявки №

Кл. 42k, 46/06

Приоритет

МПК G Oln

УДК 620.179.16(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 04.VI.1969. Бюллетень № 19

Дата опубликования описания 23.Х.1969

Авторы изобретения

Л. Г. Меркулов и А. В. Харитонов

Заявитель

Ленинградский электротехнический институт имени В. И. Ульянова (Ленина) СПОСОБ УЛЫ РАЗВУКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Предмет изобретения

Изобретение может найти применение в металлообрабатывающей, химической и нефтяной промышленности для контроля листов, труб и других изделий.

Известные способы, основанные на возбуждении нормальной волны, посылке ее к приемнику через контролируемую зону изделия и выявлении дефекта по ослаблению принятого сигнала возбужденной моды нормальной волны, в ряде случаев обладают невысокой чувствительностью.

Описываемый способ отличается от известных тем, что, с целью повышения точности, исследуют спектр волн после прохождения зоны контроля и по амплитуде одной из трансформированных волн или по амплитудным соотношениям их судят о наличии и характере дефекта.

Сущность предлагаемого способа заключается в следующем.

При наличии дефекта нормальная волна, распространяющаяся в изделии, частично отражается от границ дефекта и трансформируется в другие моды нормальных волн, каждая из которых несет определенную информацию о дефек е. Для выявления дефектов в изделии возбуждают одну из мод нормальной волны и посылают ее через контролируемую зону изделия к приемнику. Последним регистрируют одну из трансформированных волн или весь спектр волн и о наличии и характере дефекта судят по амплитуде первой или по

10 амплитудным соотношениям волн.

Способ ультразвуковой дефектоскопии из1s делий, например листов и труб, основанный па возбуждении нормальной волны и посылке ее к приемнику через контролируемую зону изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, исследуют спектр волн

20 после прохождения зоны контроля и по амплитуде одной из трансформированных волн или по амплитудным соотношениям их судят о наличии и характере дефекта.