Устройство для классификации полупроводниковых диодов

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик (») 443340

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Ъ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 19 10.70 (21) 1485102. 26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 15.09.74. Бю.плетень № 34

Дата опубликования описания 18.06.75 (51) М. Кл. б 01г 31, 26

Государственный комитет

Совета Министров СССР но делам изобретений и открытий (53) УДК 621.382.2 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. 3. Лубяный, В. М. Маслов, А. В. Божко и В. С. Тверезовский (71) Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КЛАССИФИКАЦИИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЪ|Х

ДИОДОВ

Изобретение относится к области электронной техники и может быть применено для автоматической классификации полупроводниковых приборов по их электрическим параметрам.

Известны устройства для классификации полупроводниковых диодов, содержащие подающий блок, измерительные блоки, блоки выгрузки диодов, блоки ориентации, механические или электронные.

В таких устройствах ориентация осуществляется непосредственно на измерительной позиции. Время, необходимое для контроля одного диода по одному параметру, будет:

/н — о+ изм где t„— время, необходимое для контроля диода; 1„— - время ориентации диода; 4,„,— время измерения параметра диода.

Схема ориентации включает в себя электромагнитные элементы, довольно инерционные, поэтому время, необходимое для ориентации диода, составляет значительную долю во времени контроля. Если учитывать, что диод, совершая старт-стопное движение, последовательно обходит несколько измерительных позиций в параллельных классификациях, на которых имеются отдельные устройства ориентации, то конструкция усложняется, Для увеличения быстродействия и автоматизации процесса измерений в предлагаемом устройстве схема ориентации соединена с резистором и через клеммы для подключения испытуемого диода — с выходом генератора импульсов, вход которого соединен со схемой управления, другой вход схемы ориентации соединен со входами схемы разгрузки и со схемой управления, а выходы схемы ориентации через схемы переключения соединены с ключевыми элементами, выход которых соединен с измерительными схемами.

1|а чертеже представлена блок-схема описываемого устройства, где 1 — генератор импульса, 2 — схема управления, 3 — схема ориентации, 4 — схема переключения, 5 — схема разгрузки, состоящая из нескольких групп регистров сдвига 5 и 5", 6 — измерите.пьные схемы, 7 — дешифратор, 8 — триггер, 9 — электромагниты блока сортировки, 10 — 13 — ключевые элементы, 14 — резистор, 15 — испытуемый диод, 16 — 19 — клеммы для подключения испытуемого диода (нзмерительные позиции).

Устройство работает следующим образом.

Диоды, подлежащие контролю, последовательно проходят измерительные позиции в непрерывном потоке с кратковременной остановкой, необходимой для измерения парамезо тров. Количество измерительных позиций рав443340

I0

EI0 количеству контролируемых параметров диодов.

Кроме того, устройство содержит дополнительно еще одну измерительную позицию, которая служит для получения информации о положении диода.

С приходом диода 15 на первую измерительную позицию (клеммы 16 и 17) с генератора импульсов 1 по команде со схем управления 2 на диод 15 поступает импульс положительной полярности. В случае, когда диод оказывается включенным в прямом направлении, на резисторе 14 выделяется импульс.

Если же диод оказывается включенным в цепь в обратном направлении, на резисторе 14 импульс не выделяется. Информация о положении диода на первой группе измерительных контактов, полученная с резистора 14, подается на вход схемы ориентации 3. Количество триггеров (на чертеже не показано) в регистре сдвига схемы ориентации равно числу измерительных позиций плюс триггер, вход которого соединен с резистором 14 и который стоит первым в регистре. В момент передвижения диода от одной измерительной позиции к другой на другой вход схемы ориентации 3 со схемы управления 2 поступает импульс сдвига, который переносит информацию о положении диода от одного триггера регистра к другому. Каждый триггер регистра, кроме первого, управляет соответствующей схемой переключения 4, которая управляет ключевыми элементами 10 — 13, обеспечивающими ориентацию диода к моменту его прихода на очередную измерительную позицию. Ориентация осуществляется в момент движения диодов в непрерывном потоке.

С последней измерительной позиции (клеммы 18 и 19) диод подлежит разгрузке. Схема разгрузки 5 состоит из нескольких групп регистров сдвига 5, 5", их количество равно количеству измерительных схем 6, а количество регистров в каждой группе определяется количеством подгрупп, на которое разбивается диапазон каждого в отдельности контролируемого параметра. На входы регистров каждой группы поступает информация с одной из из- мерительных схем 6.

Первая группа регистров содержит столько триггеров (на чертеже не показано), сколько имеется измерителей, входы которых соединены с соответствующими ключевыми элементами.

Каждая последующая группа регистров содержит на один триггер меньше предыдущей.

Такое сочетание групп регистров сдвига необходимо для того, чтобы вместе с движением диода от одной измерительной позиции к другой двигалась информация о каждом контролируемом параметре диодов. И при поступлении диода на последнюю измерительную позицию на выходах последних триггеров будет информация по всем контролируемым параметрам диода. Эта информация подается на вход дешифратора 7, где производится классификация диодов по группам и запоминание с помощью триггеров 8, последние управляют электромагнитными блоками сортировки 9.

Предмет изобретения

Устройство для классификации полупроводниковых диодов, содержащее схему управления, схему ориентации, схему разгрузки, измерительные схемы, дешифратор, триггеры и электромагниты блока сортировки, о тл и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повышения быстродействия и автоматизации процесса измерений, схема ориентации соединена с резистором и через клеммы для подключения испытуемого диода — с выходом генератора импульсов, вход которого соединен со схемой управления, другой вход схемы ориентации соединен с входом схемы разгрузки и со схемой управления, а выходы схемы ориентации через схемы переключения соединены с ключевымн элементами, выход которых соединен с измерительными схемами.

443340

Составитель 3. Челнокова

Техред Т. Миронова

Редактор И. Шубина

Корректор Н. Учакин»

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 1395/6 Изд. Мз 1307 Тираж 678 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Устройство для классификации полупроводниковых диодов Устройство для классификации полупроводниковых диодов Устройство для классификации полупроводниковых диодов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх