Устройство для измерения пикового тока туннельного диода

 

Й

38945

О И C А-Н"И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ (i i) 4

Союз Соаетских

Социалистических

РЕспублик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) 3 аявлено 26.12.72 (21) 1862404/26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 05.08.74. Бюллетень ¹ 29

Дата опубликования описания 27.01.75 (51) М. Кл. 6 OIr 31/26

Государственный канитет

Саввта Министрав СССР по делам иеебретений и открытий (53) УДК 621,317.799 (088.8)

621.382.2 (088.8) (72) Автор изобретения

В. М, Смотрицкий (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПИКОВОГО ТОКА

ТУННЕЛЬНОГО ДИОДА

Изобретение относится к устройствам для контроля электрических свойств полупроводниковых диодов.

Известно устройство для измерения пикового тока туннельного диода (ТД), содержащее источник питания, резистор, конденсатор, ключ, усилитель и регистрирующий прибор.

Недостатками этого устройства являются снижение точности измерения пикового тока ТД по мере увеличения скорости его изменения и зависимость результатов измерения от изменения входного сопротивления вольтметра. Эти недостатки объясняются тем, что принципиально нельзя выбрать необходимую постоянную разряда конденсатора через входное сопротивление вольтметра по времени установления стрелки вольтметра и считывания с учетом возможного изменения пикового тока при очередном переключении туннельного диода.

Поэтому возможности известного устройства ограничены и исключено его применение для измерения быстроменяющегося пикового тока ТД, например, при определении влияния вибрации, температуры на ТД.

Целью изобретения является уменьшение погрешности измерения меняющегося во времени пикового тока и исключение влияния величины входного сопротивления измерительного прибора, например вольтметра, на результат измерения путем устранения коммутации конденсатора.

Поставленная цель достигается благодаря

5 тому, что параллельно токовому выходу источника питания и клеммам подключения испытуемого диода включены ключи, первый из которых соединен с усилителем, а второй— с генератором импульсов. Между источником

10 питания и резистором включен диод, соединенный с вольтметром, зашунтированным емкостью.

На чертеже показана блок-схема предложенного устройства для измерения пикового

15 тока ТД.

Устройство содержит источник питания 1, ключ 2, шунтирующий в проводящем состоянии токовый выход источника питания и соединенный с диодом 3, napaллельио включен20 ные конденсатор 4 и вольтметр 5, резистор 6, последовательно соединенньш с испытуемым туннельным диодом (ТД) 7, усилитель 8, ключ 9, шунтирующий ТД в проводящем состоянии, генератор импульсов 10.

25 В начале цикла работы устройства ТД 7 находится в состоянии низкого напряжения. оба ключа, 2 и 9, закрыты. Нарастающий ток смещения от источника питания 1, проходя через диод 3, дозаряжает конденсатор 4, одно3Q временно с этим растет ток через резистор 6

438945

Составитель Т. Дозоров

Техред Л. Акимова

Редактор T. Орловская

Корректор И. Позияковская

Заказ 3706/20 Изд. № 134 Тираж 678 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 7К-35, Раугпская наб., д 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 и ТД 7. Когда этот ток достигacr величины пикового тока ТД, последний переключается в состояние высокого напряжения. При этом благодаря усилителю 8 открывается ключ 2, чем прекращается нарастание тока смещения.

ТД 7 находится в состоянии высокого напряжения до прихода импульса от генератора 10, открывающего ключ 9. При этом ТД шунтируется и переключается в состояние низкого напряжения, ключ 2 закрывается. Ключ 9 закрывается после окончания импульса, и далее цикл повторяется.

Нарастание тока смещения происходит с постоянной заряда, ориентировочно определяемой сопротивлением источника тока и емкостью конденсатора 4. Изменение входного сопротивления вольтметра 5 изменяет скорость нарастания тока, но не изменяет результата измерения — напряжения, при котором ТД переключается в состояние высокого напряжения и которое пропорционально пиковому току ТД и величине сопротивления постоянного резистора 6. При нахождении ТД в состоянии высокого напряжения происходит частичный разряд кондечсатора 4 через входное сопротивление вольтметра 5, чем обеспечивается измерение меняющегося пикового тока ТД.

Таким образом, на вольтметр постоянно подается напряжение, пропорциональное пико5 вому току ТД, чем и достигается поставленная цель. Изменение этого напряжения за счет частичного разряда и дозаряда конденсатора 4 может быть сделано как угодно малым, вплоть до уровня шумов ТД, выбором

10 постоянных заряда, разряда и частотой повторения импульсов генератора 10.

Предмет изобретения

Устройство для измерения пикового тока

15 туннельного диода, содержащее источник питания, резистор, конденсатор, ключ, усилитель и регистрирующий прибор, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерений, параллельно токовому выходу источ20 ника питания и клеммам подключения испытуемого диода включены ключи, соединенные первый с усилителем, и второй с генератором импульсов соответственно, а между источником питания и резистором включен диод, сое25 диненный с вольтметром, зашунтированным емкостью.

Устройство для измерения пикового тока туннельного диода Устройство для измерения пикового тока туннельного диода 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх