Способ определения положения стереоскопической базовой линии

Авторы патента:

H01J37/26 - электронные или ионные микроскопы, трубки с дифракцией электронов или ионов

Сотоз Советских

Социалистических

Республик

О П И С А Н И Е п>428482

ИЗОЬРЕтЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельствавЂ” (22) Заявлено,15.09.72 (21) 1829082/26-25 с присоединением заявки МвЂ” (32) ПриоритетвЂ”

Опубликовано 15.05.74. Бюллетен;- Хе 18 (51) М. Кл. H Olj 37/26

Государственный комитет .Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.385.833 (088.8) Дата опубл икова ниi! описания 1.0". /о (72) Авторы изобретения В. И. Чих, Л. Г. Шпынова, В, И. Синенькая и М, А. Саницкий (71) Заявитель Льв (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ

СТЕРЕОСКОПИЧЕСКОЙ БАЗОВОЙ ЛИНИИ

Предмет изобретения

Изобретение относится к электронно-микроскопическому исследованию объектов, Известен способ определения стереоскопической базовой линии, заключающийся в том, что в стерсопатрон микроскопа помещают реп- 5 лику дифракциоппой решетки. Стереоскопическая базовая .пиния на изображении перпендикулярна линиям решетки, так как последние располагаются параллельно оси наклона объекта. 10

Однако этот способ определения базовой липни является очень длительным.

С целью уменьшения времени определения стереоскопической базовой линии, любую характерную точку изображения объекта совмещают с центром градусной сетки, нанесенной на экране микроскопа, и путем поворота объекта вокруг оси, перпендикулярной оптической оси микроскопа, по сетке на экране о!!ределяют линию, вдоль которой перемещается характерная точка изображения, а по лиnnè вЂ” положение стереоскопической базовой линии. Суть изобретения поясняется чертежом, на котором изображена предлагаемая градусная сетка.

Способ опр деления положения заключается в следующем.

Выбирают характерную точку изображения путем перемещения столика объекта, совмещатот точку с центром градусной сетки О.

Затем гопиометром поворачивают объект па один градус вокруг горизонтальной оси. Выбранная точка прп этом перемещается по экрану, например, по линии Ol, составляющей угол <Р с нулевой линией. Этот угол и есть угол, образуемый стереоскопической базовой линией и меньшей стороной прямоугольника, ограничивающего изображение на снимке.

Способ определения положения стереоскопической базовой линии на экране электронного микроскопа, отличающийся тем, что, с целью уменьшения времени определения стереоскопической базовой линии, характерную точку изображения объекта совмещают с центром градусной сетки, нанесенной па экране микроскопа, и путем поворота объекта вокруг оси, перпендикулярной оптической оси микроскопа, по сетке на экране определяют линию, вдоль которой перемещается характерная точка изображения, а по линии вЂ” положение стереоскопической базовой линии, 428482

Составитель Г. Жукова

Техред Г. Васильева

Корректор В. Гутман

Редактор Л. Цветкова

Тип. Харьк. фил. пред. «Патент»

Заказ 769/75 Изд. ЛЪ 1624 Тираж 760 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Способ определения положения стереоскопической базовой линии

Устройство для осевого перемещения объекта // 422055

Устройство для препарирования электронномикроскопических объектов // 421908

Растровый электронный микроскоп для катодолюминесцентного анализав п т в- ff^ •• v г»1 .'^ s • "^ г г ~' е'^ ^^ р.cpoiifi aiiiihfchii // 420013

Патент 418920 // 418920

Патент 418420 // 418420

Патент 415547 // 415547

Установка для подготовки образцовк трансмиссионной электронноймикроскопии // 412523

Патент 411545 // 411545

Электростатическая фокусирующая система // 408393

Зондирующий эмиттер для сканирующего туннельного микроскопа // 2117359

Способ и устройство для анализа состава дна углублений // 2123178

Сверхвысоковакуумная транспортная система для сканирующих зондовых микроскопов // 2158454

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим транспортировку и установку зондов и образцов в позиции измерения и функционального воздействия

Способ и устройство контроля и исследования поверхности внутри ядерных и термоядерных установок // 2169954

Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации

Способ получения панорамного изображения в растровом электронном микроскопе // 2181515

Изобретение относится к способам получения изображений в растровой электронной микроскопии

Устройство управления скоростью сканирования туннельного микроскопа // 2269803

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе

Наконечник держателя и сетка для электронной томографии // 2300822

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано при выпуске просвечивающих электронных микроскопов

Нанотехнологический комплекс // 2308782

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники

Электронный микроскоп // 2313850

Изобретение относится к микробиологии и может применяться при профилактике инфекционных болезней

Сверхвысоковакуумная транспортная система // 2380785

Изобретение относится к вакуумной технике и предназначено для проведения операций по перемещению объектов внутри вакуумных систем