Способ измерения толщины прозрачного пленочного покрытия на изделии
0
<)4282OI
Союз Советских
Сощиалистимеских
Республик
ОП ИCAH,И Е
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) За ви си мое от акт. ови детельства— (22) Заявлено 03.05.72 (21) 1780982/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (32) Приоритет—
Опубликовано 15.05.74. Бюллетень № 18
Дата опубликования аписан|ия 18.03.75 (51) М. Кл. 6 01Ь 11/06
Государственный комитет .Совета 1йинистров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 531.715 27 (088.8) (72) Авторы изобретения А. В. Баркаускас, В. И, Чуприн и М. М. Гутаускас
Каунасский политехнический институт (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПРОЗРАЧНОГО
ПЛЕНОЧНОГО ПОКРЫТИЯ НА ИЗДЕЛИИ
Изобретение относится к технике измерения, а именно к приборам, предназначенным для определения толщины лаковых и других прозрачных покрытий на древесине, полимерах ит. п.
Из|вестен способ измерения толщины прозрачного пленочного покрытия на изделии, заключающийся в том, что устанавливают на изделии д войной микроскоп, основанный на методе светового сечения, и наводят на резкость линии отражения света от поверхностей покрытия.
Известный способ имеет следующие недостатки. Измерение является трудоемким из-за объема работ по совмещению сетки окуляра последовательно с двумя линиями отражения с вета и двойного отсчета положения сетки (по шкале окуляра и по лимбу насадки). Причем эта работа я|вляется очень утомительной, поскольку требует большого напряжения зрения.
При наводке сетки на видимые линии и при отсчете пс казаний по шкале окуляра ча сто применяют вспомогательный прием дополнительного подовечивания измеряемой поверхности объекта, что еще больше увеличивает затраты времени на измерение. Низкая точность измерения из-за отсутствия контраста между сеткой и наблюдаемым фоном, вследствие чего невозможно установить линии сетки микрометрической насадки на границе между переходом линии †ф.
С целью,повышения производительности и точности измерения по предлагаемому спосо5 бу закрывают д вумя задвижными шторками зону, .находящуюся за пределами линий отражения света, про пускают через образовавшуюся щель между шторками калиброванный поток овета, и по изменению тока в измерительном приборе судят об измеряемой толщине. На чертеже схематично изображено уст.ройст во, реализующее предлагаемый способ.
Устройство состоит из экрана 1, задвижных шторок 2, калиброванного по мощности источника овета 8, фотодатчика 4 с измерительным прибором б, поворотного зеркальца б.
Предлагаемый апособ осуществляют следующим образом.
На экране 1 устанавливают четкие линии отражения света от поверхностей .прозрачного покрытия 7 объекта 8. Затем (вручную или автоматизированным способом) закрывают шторками 2 часть экрана, т. е. ту зону, которая находится за пределами линий отражения с вета. Этот пр ием выполняют значительно точнее известных перемещений сетки в микрометрической насадке, ибо нвпрозрачная шторка 2 выглядит контрастно и на неравномерно оовещенном фоне экрана 1. После этого поворачивают зеркало б из положения 1 в поло428201
Составитель Лобзова
Техред А. Камышникова
Редактор В. Новоселова
Корректор В. Гутман
Заказ 777/84 Изд. № 1591 Тираж 760 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Тип. Харьк. фил. пред. «Патент» жение II и через образовавшуюся щель между шторками 2 пропуокают поток авета калиброванного источника 8 на чувствительный элемент фотодатчика 4. Ток, возн|икший от освещения фотодатчика 4, вызывает отклонение стрелки измерительного прибора 5, по положению которой относительно шкалы (шкал может быть несколько в за висимости от характеристик материала прозрачного покрытия) отсчитывают толщину пленочного покрытия 7 объекта 8 непосредственно в микронах.
Предмет изобретения
Способ измерения толщины прозрачного пленочного, покрытия на .изделии, заключаю-щийся в том, что устанавл и вают на .изделии двойной микроскоп, основанный на методе светового сечения, и наводят на резкость линии отражения света от поверхностей покрытия, отличающийся тем, что, с целью повышения произ|водительно сти и точности измерения, закрывают двумя за д вижными шторками зону, находящуюся за пределами линий отражения
10 света, пропускают через образовавшуюся щель между шторками калиброванный поток света, и по изменению тока в измерительном приборе микроскопа судят об измеряемой толщине,