Фотоэлектрический способ измерения толщины пластин из прозрачного л1атериала
ОБНИЩАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
СОюз СОыятскиат
Стоциалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 16.VI.1971 (№ 1672045 25-28) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано ОЗ.Х.1973. Бюллетень № 39
И. Кл. G 01b 11/06
Государстоеннь и комитет
Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий т
УДК 531.715.2 (088.8) Дата опубликования описания 24.II.1974
Авторы изобретения
Заявитель
А А, Бялик и C. И. Кадлец
Киевский филиал Всесоюзного научно-исследовательского „=.:,:.,:,;, и прас«тно-«0«c«pó«òîpñêîãо ныстт тута по анто«тати«анни предприятий промышленности строительных материалов
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ TOJlЩИНЫ
ПЛАСТИН йЗ и РОЗРАЧ НОГО МАТЕРИАЛА
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к области бесконтактного измерения толщины пластин из прозрачного материала, например толщины листового стекла.
Известен фотоэлектрический способ измерения толщины пластин из прозрачного материала, например листового стекла, заключающийся в том, что на пластину направляют луч света наклонно к ее поверхности и определяют временной интервал, пропорциональный смещению луча, вызванному его преломлением.
Луч моделируют поперечными смещениями непрозрачного стержня, пространственный сдвиг теневых проекций которого с помощью фотоэлемента преобразуют в сдвину|ыс по времени сигналы, по разности которых и судят о толщине пластины.
Известный способ, основанный на использовании комплекса оптических явлений «отражение — преломление — отражение — преломление», практически не пригоден для технологического контроля толщины пластины, так как непараллельность (клиновидность пластины) приводит к снижению точности за счет нарушения параллельности отраженных от обеих поверхностей световых потоков.
Предлагаемьш способ отличается те", что, с целью повышения точности измерения, производят непрерывное сканирование луча в одной плоскости. Толщину определяют по скорости прохождения луча между точками, расположенными в поле сканирования прошед5 шего через пластину светового луча, которая обратно пропорциональна величине временного пнтервала.
На чертеже изображена схема измерения
10 толщины листового стекла.
Она содержит источник 1 света, блок 2 сканирования, объектив 3, фотоприемники 4 и 5, цифровой блок б, высокостабильный генератор 7, счетчик 8, цифровое табло 9, пзмеряе15 мую пластину 10.
Предлагаемый способ осуществляют следу«опшм образом.
Световой луч от источника 1 света попадает в блок 2 сканирования, который псремс20 щает луч в фокальной плоскости обьектива 3 так, что выходящий пз объектива 3 луч непрерывно сканирует и, преломляясь в стекле пластины 10, попадает поочередно на фотоприемники 4 и 5, установленные по разные
25 стороны от оптической оси объектива па равном удалении от пее. Импульсы напряжения. возникающие при этом на фотоприемниках ч п 5, поступают в цифровой блок б измерения времени, которьш определяет интервал вре30 менп между импульсами.
399723
4 г(р е -1 з! (! T! 3 0 0 р с т е !I и .7
Составители A. Лобзова
Тсхрсл Л. Богданова
Корректоры A. Николаева и Л. Корогод
I сдактор Л. Народная
Заказ 222!8 Изд. № 42 Тираж 755
Ц11ИИПИ Государстве:.ного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-85, Раугпская пао., д. 4 5
Типография, пр. Сапунова, 2
Измерение временного интервал I 17 блоке
6 осуществляют путем счета I!iIпульсов высскостабильпого генератора 7. зюпуcI когорого пр01!звод!! т 1! !17 льсо;! и апряже1!ия с фотоприемп1!ка 5, а выклю !01!ис — импу льсом с 5 фотоприемника 4. Счетчик 8 caII7aeг количеСТВО ИМПУЛЬСОВ И ПО ОКОНЧаНИИ CeIÅò7 ВЫДает сигнал на цифровое табло 9, которое осугцсствляет индикацию результата измерения в единицах толщины. 10
При изменении толщины стекла /1, I. IïðIIмер при увеличении ее на величину Л/2, скорость прохождения луча света между фотоприемниками уменьшается и, следовательно, увеличивается временной интервал между из1- 15 пульсами напряжения с фотоприемников. Этот време!Гной интервал, пропорциональны!7 новой толщине стекла, регистрируется цифровым бло-,îì 6 измерения времени.
Фотоэлектрический способ п3мсрепп;! -.О.",1цпцы I!7àeIè!I нз прозра-111010 матерна Iа. 1!апример листового с7екла, заклю !а:о1цийся в том, что на пластину направляют луч све!а наклонно к ее поверхности и измеря!от временной интервал, пропорциональный е. IåùeI1810 луча. вызваHIIoму ег() преломлением, ох.!и !аю!иийс.! тем, что, с целью повышегп!я точности измерения, производят непрерывное сканирование луча в одной плоск<>сти. à 017. ределсние толщины производят по скорости прохождения луча между точками, расположенными в поле сканирования про:IIe7111eI о через пластину светового луча, которая обратно IIpoIIopLIHoIIHëhIIà величине времен.ol"î интервала.
