Патент ссср 413376

Авторы патента:

G01B11/06 - для измерения толщины

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 29.Ч1.1971 (№ 1681726/25-28) М. Кл. G Olb 19/37

1 ! с присоединением заявки ¹

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР по делам нзооретений и открытий

Приоритет

Опубликовано 30.1.1974. Бюллетень № 4

Дата опубликования описания 27.Ч.1974

УДК 531.71(088.8) Автор изобретения

В. В. Иванов

Заявитель

Всесоюзный научно-исследовательский институт автоматизации черной металлургии

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОЛОСЫ

НА ПРОКАТНЫХ СТАНАХ стиях валков 2, 3, освещаются пучками света от осветителей 5. Отраженные лучи цаправляIoTcB lIo lK lIp03p3 kiIblhiii зерна. ioми 6, зерка лами 7 и объекп вом 8 ца фотоэлектрическое

5 устройство 9 и образуют на нем изображения оптических меток 4.

Выходной сигнал Л фотоэлектрического устройств". 9, пропорциональный расстоянию между оптическпмп метками, поступает в блок

10 10 коррекции. На другие входы этого блока подаются уставкп и сигналы, необходимые для введения поправки на деформацшо валков. С выхода блока 10 снимается сигнал S, пропорциональный толщине полосы 1.

Способ измерения толщины полосы»а прокатных станах, заключающийся в том, что пз20 меряют зазор между частями рабочих валков, вычитают из него известную величину зазора при нулевой толщине полосы и вводят поправку на деформацию валков, отличающийся тем, что, с целью повышения точ25 ности измерения, по центру осевых отверстий валков в середине их бочки устанавливают две оптические метки и измеряют зазор между ними.

Изобретение относится к области измерительной техники.

Известен способ измерения толщины полосы на прокатных станах, заключающийся в том, что измеряют зазор между частями рабочих валков, вычитают из него известную величину зазора при нулевой толщине полосы и вводят поправку на деформацию валков.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что по центру осевых отверстий валков в середине их бочки устанавливают две оптические метки и измеряют зазор между ними.

Это позволяет повысить точность измерения.

На чертеже изображена блок-схема устройства для реализации предлагаемого способа.

Способ измерения толщины полосы 1 заключается в том, что измеряют зазор между центрами рабочих валков 2 и 3 по оптическим меткам 4, установленным в осевых отверстиях в середине бочки валков, вычитают из него величину зазора при нулевой толщине полосы и вводят поправку на деформацию валков.

Точность измерения повышается благодаря уменьшению погрешности, вносимой в измерение изгибом валков.

Оптические метки 4, установленные в отверПредмет изобретения

4;3376

Составитель В. Мартынов

Тскрсд Т. К) рилко

Редактор О. Юркова

Корректор Т. Гревцова

Ти пограгрия, пр. Сапчнова, 2

Заказ 1173/11 Изд. ¹ 1229 Тираж 760 Подписное

Ц1111?1ПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Похожие патенты:

Патент 411294 // 411294

Фотоэлектрический способ измерения толщины пластин из прозрачного л1атериала // 399723

Фотоимпульсное устройство для измерения ширины горячего раската // 384006

Фотоэлектрическое устройство для измерения ширины горячего проката // 378708

Оптическая деталь с тонкопленочным покрытием // 377612

Бесконтактный измеритель толщины листового // 376656

Способ измерения перемещения непрозрачной поверхности объекта в направлении ее нормали // 362184

Устройство для контроля толщины пленки в процессе напыления // 359509

Устройство для контроля толщины напыляемыхпленок // 358613

Устройство для бесконтактного измерения с •*;-•/. толщины прозрачной пластины^-^-^^•' // 357464

Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок // 2102702

Интерферометрическое устройство для измерения физических параметров прозрачных слоев (варианты) // 2141621

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Способ измерения толщины листового стекла и устройство для его осуществления // 2146355

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Интерферометрическое устройство для бесконтактного измерения толщины // 2147728

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Способ измерения толщины тонкого слоя прозрачной жидкости // 2149353

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Способ измерения оптической толщины плоскопараллельных прозрачных объектов // 2152588

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Устройство для контроля линейных размеров по принципу триангуляции // 2153647

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Способ контроля толщины пленки в процессе ее нанесения // 2157509

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Способ контроля толщины пленки в процессе ее нанесения и устройство для его реализации // 2158897

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Способ измерения толщины тонкого слоя прозрачной жидкости // 2165071

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости