Способ регистрации дифракционной картины
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства ¹â€”
М. Кл. Н 01j 37!26
Заявлено 31 V.1971 (М 1661899/26-25) с присоединением заявки №вЂ”
Приоритет
Опубликовано ОЗ.Х.1973. Бюллетень № 39
Дата опубликования описания 14.II.1974
Государственный комитет
Совета Министров СССР но делам иаооретеннй и открытий
УДК 621.385.833 (088.8) Авторы изобретения
Д. В. Иремашвили и В. М. Артемов
Заявитель «ч 11
СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ
ДИФРАКЦИОННОй КАРТИНЫ
Изобретение относится к технике электронно-структурного исследования твердых тел методом медленных электронов.
Известен способ регистрации дифракцпонной картины, состоящий из качественного визуального наблюдения дифракционной картины и количественного измерения интенсивности дифракционных рефлексов и фона.
Однако известный способ не обеспечиваег непрерывное наблюдение электронограммы и одновременное измерение в любой анализируемой точке:дифракционного,поля.
Целью изобретения является обеспечение непрерывного наблюдения .электроногpBMMbl и одновременного измерения интенсивности в любой анализируемой точке дифракционного поля.
Для этого вращают полусферический флуоресцирующий экран вокруг оси пушки медленных электронов, а коллектор электронов, например цилиндр Фарадея, перемещают вдоль оси, проходящей от середины к краю экрана, до совмещения с анализируемой точкой дифракционного поля.
На чертеже приведена схема устройства, позволяющего реализовать предложенный способ.
Устройство содержит поворотный сферический .флуоресцирующий экран 1 со щелью, против которой помещен коллектор 2. Коллектор, электрически изолированный от экрана 1, поворачивается вместе с экраном и, кроме того, перемещается вдоль щели. Исследуемый кристалл 3 бомбардируется пучком мед5 ленных электронов, формируемых пушкой 4.
Стрелками показаны направления вращения экрана и перемещения коллектора 2.
Для абсолютного измерения интенсивности анализируемой области наблюдаемой диф10 ракционной картины флуоресцирующий экран
1 .поворачивают вокруг осп пушки 4 медленных электронов до совмещения этой области со щелью в экране 1, а затем в эту область помещают коллектор 2.
Предмет изобретения
20 Способ регистрации дифракционной картины, например в электронографе медленных электронов. включающий визуальное наблюдение дифракционной картины на флуоресцирующем экране и количественное измерение
25 интенсивности дифракционного,поля, отличающийся тем, что, с целью обеспечения непрерывного наблюдения электронограммы и одновременного измерения интенсивности в л.обой анализируемой точке дифракционного по30 ля, вращают полусферический флуоресцирую399936
Составитель И. Ратенберг
Техред Л. Богданова Корректор В. Федулова
Редактор А. Зиньковский
Заказ 20б, 10 Изд. ¹ 45 Тираж 780 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, )K-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 щий экран вокруг оси пушки медленных электронов, а коллектор электронов, например цилиндр Фарадея, перемещают вдоль оси, проходящей от середины к краю экрана, до совмещения с анализируемой точкой дифракционного поля.
