Способ контроля кристаллизации кондитерскихмасс
22l3 4 5
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Соеетоиих
Соцналнотичеохи
Ресгтбднн сес-
Кл. 42h, 21
53l, 13/01
Заявлено 16 11.1967 (Pk 1133247/28-13) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 01.И1.1968. Бюллетень № 21
Дата опубликования описания 4.Х.1968
МПК G 02d
А 23g
УДК 535.511 664 149 (088.8) Комйтет по делам изобретений и OTKpbiTiiR при Солете Миниотрао
СССР
Авторы изобретения Ю. М. Айзинов, Л. П. Дмитриева, Г. P. Кокашинский, 3. Г. Климовцева и В. Н. Никифорова
Московская кондитерская фабрика «Красный Октябрь»
Заявитель
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КРИСТАЛЛИЗАЦИИ КОНДИТЕРСКИХ
МАСС
Предмет изобретения
Известен способ контроля кристаллизации кондитерских масс, например ирисной, в процессе производства (а также готовых изделий) путем микроскопирования исследуемого образца в световом потоке.
Для повышения точности контроля согласно предлагаемому способу микроскопирование осуществляют в проходящем через исследуемый образец поляризованном световом луче, измеряя при этом интенсивность светового потока в объективе микроскопа, величина которого прямо пропорциональна содержани о кристаллов в массе.
Предлагаемый способ заключается в следующемм.
По ходу технологического процесса отбирают пробу кондитерской массы, например ирисной. Определенное количество (15 — 20 иг) пробы помещают между двумя предварительно нагретыми до 100 С предметными стеклами. После этого стекло сдвигают относительно другого для получения на каждом стекле тонкого слоя (толщиной 25 — 50 мк) массы.
Предметное стекло закрепляют на столике поляризационного микроскопа и определяют интенсивность светового потока, величина которого пропорциональна содержанию кристаллов сахарозы в массе.
По предлагаемому способу можно также определять степень кристалличности готовых кондитерских изделий.
Способ контроля кристаллизации кондитерских масс, например ирисной, в процессе производства путем микроскопирования исследуемого образца, от.шчающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, микроскопирование осуществляют в проходящем поляризованном световом луче с измерением
20 при этом интенсивности светового потока с последующим определением содержания кристаллов.
