Прозрачных объектов
О П И С А Н И Е 184480
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Ones Советвиив
Социалистических
Рвспублии
Зависимое от авт. свидетельства ¹
Кл. 42h, 36
Заявлено 26. т 1.1964 (№ 908540!26-10) с присоединением заявки №."1ПК 6 02Ь
Приоритет
Опубликовано 21.И1.1966. Бюллетень № 15
Дата опубликования описания 13.IX.19áá
Комитет по делам изобретений и аткрмтий при Совете Министров
СССР
УДК 535.827.2:535.314 (088.8) Автор изобретения
Ю. А. Черкасов
Заявитель
СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ПРОЗРАЧНЫХ ОБЪЕКТОВ
К МИКРОСПЕКТРОФОТОМЕТРИЧЕСКИМ ИЗМЕРЕНИЯМ
В ОТРАЖЕННОМ СВЕТЕ
2 и+1 л т 1,54 (n+-1) -
Известны способы подготовки прозрачных объектов к микроспектрофотометрическим измерениям в отраженном свете, заключающиеся в изготовлении прозрачно-полированного шлифа (тонкой отполированной с поверхности пластины, закрепленной с помощью канадского бальзама на предметном стекле).
Предложенный способ подготовки прозрачных объектов к микроспектрофотометрическим измерениям в отраженном свете отличается от известных тем, что пластины исследуемого объекта в шлифе полируют с обеих сторон, а шлиф помещают на поглощающую свет подложку с прослойкой иммерсионной среды, обеспечивающей оптический контакт шлифа с подложкой.
Осуществление описываемого способа под готовки объекта к измерениям основано на
Использовании известной зависимости коэффициента R отражения от показателя п преломления того же вещества. Эта зависимость может быть записана в следующем виде;
Подставляя в приведенную формулу значения показателя и преломления, можно вычислить соответствующие им значения коэффициента
R отражения и построить график зависимости
R от и. Этот график может быть использован для определения показателя и преломления прозрачных объектов по измеренным значениям коэффициента R отражения.
Предмет изобретения
Способ подготовки прозрачных объектов к микроспектрофотометрическим измерениям в отраженном свете, заключающийся в изготовлении прозрачно-полированного шлифа исследуемого объекта, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности результатов измерений, пластины исследуемого объекта в шлифе полируют с обеих сторон, а шлиф помеща-. ют па поглоп1ающую свет подложку с прослойкой иммерсионной среды, обеспечивающей оптический контакт шлифа с подложкой.
![Прозрачных объектов](https://img.poleznayamodel.ru/img_pat/372/3722214-s.jpg)