Патент ссср 172114

Авторы патента:

G01N21 - Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей (G01N 3/00-G01N 19/00 имеют преимущество; измерение механических напряжений вообще G01L 1/00; оптические элементы измерительных приборов G02B; анализ изображений путем обработки данных G06T)

G01N1/28 - Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D 1/00;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание

172И4

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 06.Х11.1963 (№ 868976/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 22.VI.1965. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания ЗОХ11.1965

Кл. 42l, 308

Государственный комитет по депам изобретений и открытий СССР

МПК G Oln

УДК 543.42 (088.8) 1 а г ) tX; :,!); г1,,) Ц

Б. Г. Воронов, В. Н. Воронцов, П. А. Никитин и Б. Л. Серд ков f:" I ), t à

Волгоградский научно-исследовательский институт технологии машиностроения

Авторы изобретения

Заявитель

ПРОБА ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА МЕТАЛЛОВ

И СПЛАВОВ

Предмет изобретения

Подписная ериппа М 178

Известные пробы для спектрального анализа металлов и сплавов выполняются в виде стержня, конуса, пирамиды и пр.

Предложенная проба отличается от известных тем, что она имеет выступающие поверхности в виде торцовых кольцевых поясков.

Это позволяет повысить точность анализа и ускорить его.

На чертеже изображена предлагаемая проба.

При отливке пробы анализируемые поверхности (кольцевьге пояски) располагаются в вертикальных плоскостях рабочей полости литейной формы, при этом по всей кольцевой поверхности получается однородная структура.

На заточенных кольцевых поверхностях пробы можно размещать большое количество

«пятен обжига» без снятия пробы со штатива спектрального аппарата.

10 Проба для спектрального анализа металлов и сплавов, выполненная в виде отливки, имеющей форму тела вращения. отличающаяся тем, что, с целью повышения точности и ускорения анализа, она имеет торцовые кольцевые

15 пояски, образующие выступающие поверхности.

172114

Составитель М. В. Пантелеев

Редактор И. Г. Карпас Техред Ю. В. Баранов Корректор О. Б. Тюрина

Заказ 1636/10 Тираж 1100 Формат бум. 60Х90 /в Объем О,! изд. л. Цена 5 коп

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д 4

Типография, пр, Сапунова, 2.