Устройство для сканирования поверхности цилиндрической заготовки

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

392330

CoI03 СОВ ется!нх

Социадии.,";-. =-:ч, gq

Респубп:": и

Зависимое от авт. свидетельства №

М. Кл. G 01Ь 11/30

Заявлено 10.IV.1970 (№ 1431722/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 27.VI I.1973. Бюллетень ¹ 32

Дата опубликования описания 14.XII.1973

Гасударственный камитет

Савета Министрав СССР ла делам изабретений и аткрытий

УДК 531.717.2(088.8) Автор изобретения

П. В. Кныш

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ СКАНИРОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ

ЦИЛ И НДРИЧ ЕСКОЙ ЗАГОТОВКИ

Предмет изобретения

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля изделий и может быть использовано в автоматах для сортировки полуфабрикатов в электронной промышленности.

Известно устройство для сканирования поверхности цилиндрической заготовки, например металлиз:.1рованного керамического основания резистора, содержащее подающий механизм и расположенные на траектории движения заготовки из механизма два опорных вращающихся ролика.

Однако производительность сканирования известным устройством недостаточна, так как отсутствуют элементы фиксации и демпфирования положения заготовки в процессе сканирования, вследствие чего приходится снижать скорость .вращения опорных роликов.

Целью изобретения является повышение производительности при контроле качества поверхности.

Для этого устройство снабжено вакуумной камерой с трубопроводом, выходная щель которого установлена в пространстве между роликами, расположенными один относительно другого на расстоянии 0,3 — 0,5 диаметра сканируемой заготовки.

На чертеже представлен эскиз предлагаемого устройства.

Оно содержит загрузочное гриспособление

1, накопитель 2 с дозатором 8, конец лотка 4 которого расположен над поверхность:о одного из опорных роликов б. Друго "1 ролик сооб5 щается с лотком б сортировщика 7, шибер 8 которого связан с дефектоскопом 9. Между опорными роликами, расположен:;ымп иа расстоянии 0,3 — 0,5 диаметра заготовки, установлена выходная щель 10 трубопровода ва10 куумной камеры 11.

Заготовка 12 поступает из загрузочного приспособления через накопитель 2 и лоток 4 дозатора 8 на опорные вращающиеся ролики б. Попадая в междуроликовое простраист15 во, она фиксируется вакуумным присосом, созданным щелью 10 трубопровода вакуумной камеры. После контроля дефектоскопом 9 в соответствии с его выходными сигналами заготовка подается через лоток б в канал сор20 тировщика 7.

25 Устройство для сканирования поверхиоcт и цилиндрической заготовки, например металлизированного керамического основания резистора, содериащее подающий мехшп1зм, расположенные на траектории движения заготозЗО ки нз меха11измя два опорных вращающихся ролика, отличающееся тем, что,-с целью повышения производительности при::онтроле качества поверхности, оно снабжено вакуумной камерой с трубопроводом, выходная щель

4 которого установлена в пространстве между роликами, расположенными один относительно другого на расстоянии 0,3 — 0,5 диаметра сканируемой заготовки.

Составитель Л, Духанин

Техред T. Курилко

Редактор О. Юркова

Корректор Л. Новожилова

Типография, лр. Сапунова, 2

Заказ 3376!10 Изд. № 1816 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, K-35, Раушская наб., д. 4/5

Устройство для сканирования поверхности цилиндрической заготовки Устройство для сканирования поверхности цилиндрической заготовки 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх