Устройство для оценки качества поверхности
375478
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советскил
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства № 131897
Заявлено 18Х.1971 (№ 1662187/25-28) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 23.111.1973. Бюллетень № 16
Дата опубликования описания 28Х.1973
М. Кл. G 01Ь 11/30
Комитет по делам изобретений и открытий ори Совете Министров
СССР
УДК 531.717.86.082 (088.8) Авторы изобретения
А. В. Башарин, В. А, Солнцев, А. С. Потемкин, В. А. Богородский и Е. Е. Смирнова
Ленинградский ордена Ленина электротехнический институт им. В. И. Ульянова (Ленина) Заявитель
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ
Изобретение относится к бесконтактному контролю поверхности изделий и может быть использовано для определения качества поверхности, например шероховатости, изделий в машиностроительной промышленности.
По основному авт. св. № 131897 известно устройство для оценки качества поверхности с включением фотоприемника в мостовую схему.
К недостаткам этого устройства относится влияние на точность измерения колебаний накала источника света, колебаний напряжения источника питания, изменение во времени параметров лампы и фотоприемника, изменение температуры окружающей среды, отличия в физических свойствах поверхности материалов различных марок, имеющих одну и ту же степень шероховатости.
Цель изобретения — уменьшение влияния на точность измерения колебаний напряжения питания, нестабильности накала источника света, изменения температуры окружающей среды, изменения во времени параметров лампы и фотоприемника, кроме того, повышение точности контроля. Это достигается тем, что предлагаемое устройство снабжено вторым фотоиндикатором с двумя подвижными оптическими клиньями, включенным в плечо моста.
На чертеже приведена блок-схема предлагаемого устройства.
Устройство содержит источник света 1, измерительный фотоприемник 2 (фоторезистор), 5 эталонный фотоприемник 3 (фоторезистор). фокусирующую линзу 4, контролируемую поверхность 5, постоянные сопротивления б и 7, усилитель 8, индикатор 9 нуля, фокусирующую линзу 10, оптический клин 11, нейтральный
10 светофильтр 12, оптический клин 18, шкалу
14 измерительную и шкалу 15 поправок.
Устройство работает следующим образом.
Световой поток источника света разделяется
15 на два канала — измерительный и эталонный.
Световой поток измерительного канала через линзу 4 и систему, состоящую из оптических нейтральных клиньев 11 и 18. выполненных перемещающимися параллельно друг другу
20 и перпендикулярно к оси оптической системы, падает на поверхность 5 под углом, например
45 . Отраженный от поверхности 5 световой поток воспринимается фотоприемником 2. Световой поток эталонного канала через линзу
25 10 и светофильтр 12 падает на фотоприемник
8. В диагональ мостовой схемы включен усилитель 8 и индикатор 9, имеющий нуль в средней части шкалы. Балансировка моста производится клином 11 путем перемещения его
30 перпендикулярно оптической оси системы
375478
Предмет изобретения. Составитель А. Духанин
Редактор Н. Воликова Техред Т. Ускова Корректор О. Тюрина
Заказ 1508/4 Изд. М 1345 Тираж 755 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, 3(-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 вдоль шкалы 14. Введение поправок на марку металла производится клином 18 путем перемещения его вдоль шкалы 15 перпендикулярно к оптической оси системы. Перемещение оптических клиньев может быть как ручным, так и механическим. Светофильтр 12 обеспечивает начальное значение эталонного потока.
Устройство для оценки качества поверхности по авт. св. № 131897, отличающееся тем, что, S с целью повышения точности контроля, оно снабжено вторым фотоиндикатором с двумя подвижными оптическими клиньями, включенным в плечо моста.
