Устройство для определения нестабильности обратных токов переходов полупроводниковых

 

1» т.у».-., ф

О П И С А - Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 29Х.1970 (№ 1444463/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 16Л.1973. Бюллетень № 7

Дата опубликования описания 05.111.1973

М. Кл. G Olr 31/26

Комитет по делам изобретеиий и открытий при Совете Яииистров

СССР

УДК 621.382.2(088.8) Авторы изобретения В. 3. Лубяный, А. В. Божко, В. С. Тверезовский и А. П, Лебеденко

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕСТАБИЛЬНОСТИ

ОБРАТНЫХ ТОКОВ ПЕРЕХОДОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

ПРИБОРОВ

Рм 1о г +-- 1

Изобретение относится к электронной технике и предназначено для контроля параметроB полупроводни ковых приборов.

Известное устройство для определения нестабильности об ратных токов переходов полупроводниковых приборов, содержащее схему сравнения и регистрирующий нр ибор, не обеспечивает точности прои непрерывном измерен|ни.

Предлагаемое устройство, с целью увеличения точ ности при непрерывном измерении, содержит цифровое управляемое cOIIpoTIHBJIeние, образованное двумя элекприческими цепочкам и, одна из которых содержит последовательно соединенные эталонные сопротивления, а другая — последователь но соедин енные электронные ключи, средние точки двух цепей соединены между собой, а входы элекгронных ключей — со счетчиком, при этом цифровое управляемое сопротивление соеди нено с входами регистрирующего прибора и схемы сравнения, выход котцрой через последовательно соединенные триггер и ключ соединен со счетчиком, второй вход которого соединен с входом триггера, второй вход ключа соединен с генератором, На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства.

На схеме приняты следующие обозначения: схема 1 сравнения; триггер 2; ключ 8; генератор 4 импульсов; счетчик 5; регистри рующий прибор б; ключи 7 — 12; эталонные сопротивления 18 — 18.

Эталонные сопротивления совместно с ключами представляют собой последовательное цифровое управляемое сопротивление, которое совместно с испытуемым полупроводниковым прибором образует управляемый делитель напряжения.

Устройство работает следующим образом.

С приходом импульса «Пуск» триггер 2 н счетчик 5 устанавливаются в такое состояние, прои котором ключи 7 — 12 закорачивают сопротивления 18 — 18, а триггер разрешает по15 ступать импульсам с выхода генератора 4 через ключ 8 на счетный вход счетчика 5.

Счетчи1к, управляя ключами 7 — 12, увеличивает ступеньками сопротивление делителя; прои этом увеличивается ступеньками и напряжение U, снимаемое со средней точками делителя, которое подается на вход схемы 1 сравнения: где Up — напряжение, при котором испытывается полупроводниковый прибор;

r — омическое сопротивление испытуе30 ъюго прибора;

366423

tg 14 В 18 1Т Ф

Пуск

Составитель 3. Челнокова

Техред Г. Дворина

Редактор А. Батыгин

Корректор А. Степанова

Заказ 432/14 Изд. ¹ 114 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Рл — величина цифрового у правляемого со|противления, соответствующая коду, находящемуся в счетчике.

Это напряжение растет до тех пор, пока не сравняется с опорным напряжением U,„, п1ода ваемым на другой вход схемы сра внепия.

По сигналу со схемы сравнения триггер 2 переходит в другое состояние, пр и котором оН запрещает поступление импульсов на вход счетчика 5. З начени е кода в счетчике пропорционалыно значению об ратного тока. Пр и равенстве напряжений U и с!„„регистр ирующ ий прибо р фиксирует «Нуль».

Если измен ится со противление испытуемого полупроводникового прибора, то соответственно изменится и величина тока через делитель, изменится на пряжение, сн имаемое со сред ней точками делителя. Раз ность напряжений — опор ного и делителя — пропорциональна величине отклонения обратного тока полупров одник вого прибора. Эта раз иocTb не компенсируется цифровым управляемым сои!ротявлен ием, так как триггер 2 запрещает поступление импульсо в с генератора на вход счетчика. Для всех испытуемых приборов величина опорного напряженная Upzy, одна и та же, поэтому значение отклонения обратного тока выражается в относительных единицах.

Предмет изобретения

Устройство для определения нестабильности обратных токов переходов полупроводниковых при боров, содержащее схему сравнения и регистрирующий прибор, отличающееся тем, что, с целью увеличения точ ности IlpH .непрерывном,измерении, оно со держит цифровое управляемое со противление, образованное двумя электрическими цепочками, од на из которых coäåðæ Hò последовательно соединенные эталонные сопротивления, а другая— последовательно соедииенные электронные ключи, средни е точии двух цепей соединены между собой, а входы электронных ключей— со счетчиком, при этом цифровое управляемое сопротивление соеди нено с входами регистрирующего прибора и схемы сравнения, выход которой черкез последовательно соединенные тр иггер и ключ соединен со счетчиком, BToipoH вход которого соеди нен с входом триггера, второй вход ключа соединен с генератором.

Устройство для определения нестабильности обратных токов переходов полупроводниковых Устройство для определения нестабильности обратных токов переходов полупроводниковых 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх