Патент ссср 363049

Авторы патента:

H01P3/20 - квазиоптические устройства для передачи волн, например, для фокусировки посредством диэлектрических линз (квазиоптические устройства вообще H01Q 15/00)

G01R27/26 - для измерения индуктивности и(или) емкости; для измерения добротности, например резонансным способом; для измерения коэффициента потерь; для измерения диэлектрических постоянных

363049

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 23.IX.1971 (¹ 1699839/26-9) с присоединением заявки №вЂ”

ПриоритетвЂ”

М. Кл. G Оlг 27/26

Н Оlр 3/20

Комитет оо делам изобретений и открытий ори Совете Яиниотров

СССР

УДК 621.318.335(088.8) Опубликовано 20.Х11.1972. Бюллетень № 3 за 1973.

Дата опубликования описания 2.1П.1973

Б С0" -таей А".Авторы

° изобретения

Г. А. Крафтмахер, В. В. Мериакри и А. Н. Сивов

Ордена Трудового Красного Знамени институт радиотехники и электроники АН СССР

Заявитель

КВАЗИОПТИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ НИТЕВИДНЫХ

ОБРАЗЦОВ

Предмет изобр етения

Изобретение относится к технике СВЧ и оптике и может, быть использовано в устройствах, измеряющих диэлектрическую проницаемость нитевидньп образцов.

Известные квазиоптические устройства для измерения диэлектрической проницаемости нитевидных об|разцов, состоящие из возбуждающего рупора, формирующей квазиоптический пучок линии, делителя, из|мерительной ячейки, имеют низкую точность измерения.

Цель изобретения вЂ” повышение точности измерения успройства.

Для этого измерительная ячейка выполнена в виде периодической решетки из нитевидных об,р азцов.

На чертеже представлена схема п редлагаемого устройства.

На схеме пртвняты следующие обозначения: возбуждающий рупор 1; приемные рупоры

2. 8; линза 4, формирующая квазио птический пучок; делитель 5; измерительная ячейка б; нити 7 измерительной. ячейки б.

Нити 7 образуют плоскую, решетку, расположенную нормально к распространению волны, которая мо жет вращаться вокруг го5 ризонтальной оси. По известным величинам шага решетки и диаметру ее стержней можно определить диэлектрическую проницаемость обуазца.

Квазиоптическое устройство для измерения диэлектрической проницаемости нитевидных

15 образцов, состоящее из возбуждающего рупора, формирующей квазиоптический пучок линии, делителя, измерительной ячейки, отличаюитееея тем, что, с целью повышения точности измерений, измерительная ячейка вы20 полнена,в виде периодической решетки из нитеви HbIx образцов.

363049

Составитель Ю. Еркин

Техред T. Миронова

Корректор А. Зотова

Редактор А. Батыгин

Заказ 994 Изд. 57 Тираж 404 подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений m открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография № 24 Союзполиграфпрома. Москва, Г-19, ул. Маркса вЂ” Энгельса, 14

Открытый резонатор // 362381

Открытый резонаторilghoofoshae {!^!в1]:0-1я'^^и"*шбиь;^кэ~; '"^т^ч // 362380

Квазиоптическое устройство // 357635

Устройство для управления параметрами электромагнитного излучения // 357634

Делитель луча для квазиоптической линии передач // 340352

Согласующий трансформатор для квазиоптическоготракта // 325655

Согласующий трансформатор на лучеводе // 305528

Патент 302776 // 302776

Патент 292576 // 292576

Способ измерения // 363048

Измеритель реактивностей // 363047

Способ определения удельных потерь тепла в элементах электротехнических устройств // 363024

Устройство для контроля индуктивности катушек в процессе их намотки на сердечник // 362261

Способ определения эквивалентной добротности кварцевого резонатора // 361510

Способ измерения rlc-параметров // 360624

Емкостный датчик измерения диэлектрической проницаемости пленочных материалов // 360598

Лиотска { // 359619

Устройство для измерения чувствительности магнитных отклоняющих систем // 357531

Патент 357512 // 357512

Способ измерения rlc-параметров // 2100813

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, индуктивных или резистивных датчиков