Флуоресцентный рентгеновский спектрометр

 

ФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ СПЕКТРОМЕТР, содержащий рентгеновскую трубку и размещенные наодном 'фокальном круге с поверхностью iобъекта кристалл - анализатор и де- •тектор, отличающийся тем, что, с целью увеличения отношения сигнал-фон анализируемой линии, в рентгенооптическо'М канале .между трубкой и объектом введен кристаллмонохроматор, рабочая поверхность которого, выполнена вогнутой. • •

СВОЗ СОВЕТСКИХ

СО@4АЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

3(50 0 01 И 23/22

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

И ABTGPCHOMY CBMQETEAbCTBY

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21 ) 1421826/26-25 (22) 13.04.70 (46) 07.06.83. Бюл. 9 21 (72) К.В. денисович и Н.И. Комяк (53) 621.386(088.8) (54)(57) ФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ СПЕКТРОИЕТР, содержащий рентгеновскую трубку и размещенные на

„SU„„20195 А одном фокальном круге с поверхностью

;объекта кристалл — анализатор и детектор, отличающийся тем, что, с целью увеличения отношения сигнал-фон анализируемой линии, в рентгенооптическом канале между трубкой и объектом введен кристаллмонохроматор, рабочая поверхность которого. выполнена вогнутой.

320195

Корректор В.Бутяга

Техред . Мигунова

Редактор Л.Письман

Заказ б 322/1

Тираж 873 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений н открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к технике рентгеноспектрального химического анализа.

Известны флуоресцентные рентгеновские спектрометры, содержащие рентгеновскую трубку, излучение которой подает на анализируемый образец, вызывая в нем вторичные флоурес центное излучение, которое разлагается в спектр кристаллом - анализатором. Для снижения порога чувствительности в таких спектрометрах используется монохрометрическое излучение вторичных излучателей, помещенных между Рентгеновской трубкой и анализируемым образцом.

Недостатком таких схем является, резкая потеря s них интенсивности спек тральных линий и наличие фонового излучения. 20

С. целью увеличения отношения сигнал-фон для аналитических линий при сохранении интенсивности их, а также для проведения локального анализа, в рентгеновский канал спек- 25 трометра между трубкой и объектом последования введен кристалл-монохроматор.

На чеРтеже дана. схема предлагаемого спектрометра.

На схеме изображены острофокусная рентгеновская трубка 1, кристалл-монохроматор 2, анализируемый объект 3, кристалл-анализатор 4, детектор 5 рентгеновского излучения.

Первичное излучение трубки 1, сфокусированное в пучок диаметром порядка 0,1 ьм., подается на изогнутый кристалл-монохроматор. 2, ориентированный таким образом, что от него отражается характеристическая линия анода рентгеновской трубки, излучение которой фокусируется на поверхности объекта 3 в пятно не-. сколько большее, чем диаметр фокуса рентгеновской трубки.

В локальной области объекта 3

I под влиянием монохроматического первичного излучения возникает флуоресцентное излучение химических элементов, которое разлагается в спектр кристаллом-анализаторсм 4 с последуюшей регистрацией спектральных линий детектором 5..

Сканирование объекта 3 позволяет снять карту распределения элементов по поверхности объекта.

Увеличение отношения сигналфон достигается за счет монохроматиэации первичного излучения. Локально ать анализа достигается эа счет фокусировки излучения кристаллом монохроматором.

Для нелокального анализа сверхмалых концентраций фокус трубки 1 может быть выбран линейчатым. Поверхности кристалла — монохроматора и кристалла -.анализатора при этом придают цилиндрическую форму. Для усреднения результатов анализа по поверхности объекта, последний.перемешают во время анализа.

Флуоресцентный рентгеновский спектрометр Флуоресцентный рентгеновский спектрометр 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к методам анализа материалов радиационными способами и может быть использовано для определения тяжелых элементов, в том числе и благородных металлов при низких субфоновых их содержаниях в горных породах, рудах и минеральных при поиске, разведке и отработке рудных месторождений

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их физических свойств, а именно для исследования параметров каналов нанометрических размеров в трековых мембранах, и может быть использовано при изготовлении объектов из трековых мембран для анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к области инструментального химического анализа, в частности к области аналитической химии

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к исследованию конструкций, содержащих делящееся вещество, например подкритических сборок и ТВЭЛов
Наверх