Анализатор спектра ускоренных частиц

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

Записпв ос от авт. свидетел»стна №

3 аявле||о 05.1Х.1968 (№ 1268547/26-25) МПК 6 0|11 23j22 ф с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 30.Х11971. Ьюллегень М 36

Дата опубликования oIIIicaiiii;i 15.I II.1972

Комитет по делам иаобретений и открытий при Совете Министров

СССР

У,? |,1 5311,261(088.8) Авторы изобретения

И. А. Гришаев, В. И. Колосов, В. Д. Красников и В. В. Мельниченко

Заявитель

АНАЛИЗАТОР СПЕКТРА УСКОРЕННЫХ ЧАСТИЦ измерять спектры ускоренных частиц раздел»но в каждый Mомент времени импульса.

Анализатор спектра ускоренных частиц изображен на чертеже.

5 Пучок заряженных частиц проходит через ускоритель 1, коллиматор 2, магнитное отклоняющее устройство 8 и коллиматор 4 на детектор б. Импульсный сигнал с детектора попадает на временной селектор импульсов 6, 10 которъ|й прои 1 скает к регистр яр ющей аппа. ратуре 7 только необходимую часть пмпул»са. Путем изменения поля в отклоняющем устройстве последовательно снимаются спектры распределения частиц по энергиям в на

15 чале и в конце импульса, т, е. становится

Воза!Ожным 11змерение спектра, скоренн11х частиц в каждый момент времени пмпуль а ускорителя. Таким же образом измеряет, я спектр и в случае применения электро I;ii II

20 ческого анализатора спектра.

Анализатор спектра ускоренных част|щ, со25 L оя|цIIII из oTK;IQIIIII011I»1 0 cTp0}I< TI i, I i :I:111 матора-мопохроматора, детектора, регистрирующей аппаратуры и временного селектора импульсов, Отлачаюатнт|ся тем, что, с целью измерения энергетических спектров ускорси30 III»I частиц в любой момент ускоряющего имИзобретение относится к системам, анализирующим частицы по энергиям. Устройство может быть использовано на ускорителях, работающих в импульсном режиме, для измерения и контроля энергетического спектра ускоренных частиц в каждый момент времени импульса.

Известны анализаторы спектра ускоренных частиц, состоящие из отклоняющего устройства, детектора и регистрирующей аппаратуры. Принцип действия таких анализаторов основан «а том, что движущиеся заряженные частицы B электростатическом или магнитном поле отклоня|о1цего устройства изменяют свою первоначальную траекторию в зависимости от их энергии. При изменении поля с неподвижным детектором или при изменении положения детектора в фокальной плоскости отклоняющего устройства с постоянным полем снимается энергетический спектр ускоренных частиц.

Такие анализаторы не дают возможности измерить вклад части импульса в оощий энергетический спектр ускоренных частиц, что очень важно при работах по улучшению и контролю выходных параметров действующего ускорителя.

В предлагаемом анализаторе между детектором и регистрирующей аппаратурой введен временной селектор импульсов. Это позволяет

Предмст изобретени;i

318331

Составитель Е. Громов

Тскрсд Л. Богданова

Корректор Л. Орлова

Рсдакзор Б. Федотов

Заказ 359,15 Изд. ¹ !49 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий ири Совете Министров СССР

Москва, К-35, Раушская наб., д. 4!5

Типографии, пр. Сапунова, 2 пульса, сформированных любыми частями полного импульса тока пучка, между детектором и регистрирующей аппаратурой включен временной селектор импульсов.

Анализатор спектра ускоренных частиц Анализатор спектра ускоренных частиц 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к методам анализа материалов радиационными способами и может быть использовано для определения тяжелых элементов, в том числе и благородных металлов при низких субфоновых их содержаниях в горных породах, рудах и минеральных при поиске, разведке и отработке рудных месторождений

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их физических свойств, а именно для исследования параметров каналов нанометрических размеров в трековых мембранах, и может быть использовано при изготовлении объектов из трековых мембран для анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к области инструментального химического анализа, в частности к области аналитической химии

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к исследованию конструкций, содержащих делящееся вещество, например подкритических сборок и ТВЭЛов
Наверх