Способ определения деформаций элементов планера летательного аппарата в полете
О П И С Л Н И Е ЗИФ57
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Ссеотских
Социалистиее скис
Ресоублио
И АВТОРСКОМУ СВИДП ЕЛЬИ ВМ
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 18.!11.1970 (Ж 1414424 40-23) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 07.Х.1971. Бюллетень № 30
Дата опубликования описания 14.XII.1971
МПК G Olm 5 00
Комитет ао делам изобретений и OTKpblTHk ори Сосете Министров
СССР
УДК 621.3.082.5 (088.8) Автор изобретения
И. Г. Кол кер
Новосибирский электротехнический институт
Заявитель
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ЭЛЕМЕНТОВ
ПЛАНЕРА ЛЕТАТЕЛЬНОГО АППАРАТА В ПОЛЕТЕ
Предмет изобретения
Изобретение относится 1К испытаниям летательных аппаратов, а именно к способам определения деформаций элементов планера летательного аппарата в полете.
Извесгны способы о|пределения деформаций элементов планера летательного аппарата в полете путем непрерывной кадровой кинотеодолитной съемки накатанных на обшивку реперных шкал. Однако эти способы характеризуются низкой точностью измерений, большой трудоемкостью подготовки и лроведения эксперимента, большими материальными затратами на проведение эксперимента (в частности большим расходом кинопленки) и трудоемкостью обработки полученных данных изза невозможности широкого использования электронной вычислительной техники.
Целью изобретения являегся повышение точности измерений и снижение трудовых и материальных затрат на проведение эксперимента.и обработку данных.
Предлагаемый способ отличается тем, что перед кинопленкой в фокальной,плоскости устанавливают светопроницаемое стекло с тонкими базовыми линиями, расположенными в направлении движения пленки, перед стеклом размещаюг светонепроницаемую шторку с узкой щелью, расположенной перпендикулярно движению пленки и базовым линиям стекла, направляют объектив неподвижно установленной, кинокамеры так, чтобы щель шторки совпала с направлением реперной шкалы, а после съемки производят измерения деформаций в на|правлениях, перпендикулярных накатанной шкале по изменениям толщин линий, происходящим при съемке реперных шкал через узкую щель шторки.
Этот способ позволяет повысить точность измерений, сократить трудозатраты на подготовку и проведение эксперимента, сократить расход кинопленки, механизировать процесс обработки полученных данных за счет широкого использования электронно-вычислительных машин.
Способ определения деформаций элементов планера летательного аппарата в полете путем непрерывной кадровой кинотеодолитной съемки накатанных на обшивку реперных шкал, отличающийся гем, что, с целью повышения точности измерений н снижения затрат на проведение эксперимента и ооработку данных, перед кинопленкой В фокальной плоскости устанавливают светопроницаемое стекло с тонкими базовыми линиямн, располо>кенными в направлении движения пленки, перед
30 стеклом размещают светонепроницаемую
316957
Составитель В. Рукавицын
Текрсд Л. В. Куклина Корректоры: И. М. Шматова и E. И. Миронова
Редактор 3. Овчаренко
Заказ 3826!1 Изд. ¹ 1449 Тираж 473 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4, 5
Типография, пр. Сапунова, 2 шторку с узкой щелью, расположенной ггерпендпкулярно движению пленки и базовым лпппям стекла, направляют объектив пеподвихкпо установленной кинокамеры так, чтобы щель шторки совпала с направлением репервой шкалы, а после съемки производят измерения деформаций в направлениях, перпендикулярных накатанной шкале по изменениям толщин линий, происходящим при съемке ре5 первых шкал через узкую щель шторки.
