Установка для исследования структуры /металлов

Авторы патента:

зобретеии К. И. Бахти ров, А. А. Лисов, Л. А. Болховитик, Н. И. Марь мова,

G01J1/42 - действующие с помощью электрических детекторов излучения (оптические и механические элементы конструкции G01J 1/04; по способу сравнения с эталонным световым излучением или электрической величиной G01J 1/10)

У Р. г

ОП НИЕ

ИЗОБРЕтЕНИя

Союз Советских

Социалистических

Реслублик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

) . > ав!1с11хl ое OT 3 I3T. i3:.1дС 1 СльCTB3 Л"вЂ”

Заявлена 15.XII.1969 (№ 1384745j22-1) . 11Г1К 6 OITI 21, ИО г присоед:1не;1см заявк.i Л" ввЂ”

Комитет по делово изобретений и открытий при Совете Мииистрав

СССР

П р и ор11тгтвЂ”

Опубл;1ковапо 13.Ч,! 971. Бюллете;1ь X 16

У.!К 825.43 (088.8),1 ат;1 Оп" o.i iкОI13IIIIH ollIIcnH Iv 27.VI1.197!

Авторы

11зобрете1IIIH К. И. Бахтияров, А. А. Лисов, Л. А. Болховитин, Н. И. Марьянов„, Б. A. Черепашенец и А. Н. Поляков

Заяв;1тсль Московский инженерно-строительный институт имени B. В. Куйбышев;1

УСТАНОВКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МЕГАЛЛОВ

Изобретение относится к устройствам, предназначенным для и сслсдования грануломегрическнх характеристик микроструктуры металлов.

Известна установка для исследования структуры металлов, содержащая предметный сто1ик, фотоумно>китель, регистрирующее устройство.

1-1едостатко1м такой установки является необходимость ручной обработки результатов, что приводит к субъективным ошиокам.

Предложенная установка отличается от известной тем, что микроскопный тубус, фотонасадка и предметный столик смонтированы на станине, а выход фото умно>кителя соединен через согласующее усгрой1ство и устройство запуска с генератором эталонных импульсов, блоком сортировки .импульсов и элекгроимлульсными счетчиками, которые считают и сортируют по размерам элементы структуры металлаа.

Такая конструкция установки позволяет автоматизировать процесс анализа структуры металлов и повысить объективность исследо,ваний.

На чертеже изображена блок-схема устачовки.

На станине ми крофотометра имеется предметный столик 1 для крепления исследуемого образца. Столик соединен с перемещающим т>стропе lioM вЂ” содср>! ащчм эзс ;тродвпгатсчь редткктоp. Подв1 жный впащ 110щпися рол1гк и .1ашку с грузом для 1прот:1вовеса. Для устра:-1сния ВиОрацпй I =та новки псрсмсщающее усТройсгво отделено от станины. На станине моHTHph IoTcH микрос1 .О; Ihlil т1 оус с3, фотонасадка 4 и фотоэлектронный умножитель ФЭУ-19

5, .который iili TncT высоковольтный выпрямитель б со ста О:Iëèçn Topoì. Перед;катодом

10 умножителя у;тановлена диафрагма 7. Выход умно>к11геля сосдпнеч через согласующее уcTройство 8 с электронным реле устройства 33п1, ска 9. С т AI HO>!iIITC ill СОСдi4HPII Tn&>I C генератор 10 эталонных имотульсов. Устройство за15,пуска одновременно соединено с усилителем

IiО TОянного тока блока 11 сортировки импульсов, который, iB свою очередь, связан с электроимпульсными счетчиками 12 на счетно-индикаторной панели, 20 Установка работает следующим образом, Микрошлиф металла помещают на предметный столик 1. Исследуемая плоскость шлифа устана1вли вается B положение. перпендикулярное оптической оси микроскопного тубуса 8, с

25 помощью микрометрических винтов предметного столика. Устройство 2 с помощью электрод вигателя и редуктора со шкивом на выходном валике, соединенным с предметным столиком капроновой нитью, равномср1о переЗО мещает столик по направляющим станины.

Установка для исследования структуры /металлов

Способ измерения интенсивности света // 255418

Селективный тепловой приемник излучения // 243951

Патент 192432 // 192432

Патент 191850 // 191850

Патент 187356 // 187356

Патент 171134 // 171134

Нефелометрический датчик // 165005

Патент 160877 // 160877

Патент 160031 // 160031

Способ регистрации и измерения потока ик излучения // 2113745

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для регистрации и измерения потока ИК-излучения

Способ контроля линейности градуировочной характеристики фотоэлектрического преобразователя светового коэффициента пропускания // 2149364

Изобретение относится к технике измерения оптических характеристик атмосферы с целью определения метеорологической дальности видимости при метеообеспечении взлета и посадки воздушных судов, а именно к технике контроля линейности световых характеристик фотоэлектрических преобразователей светового коэффициента пропускания

Устройство для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием ультрафиолетового облучения и его варианты // 2150973

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Способ измерения световой характеристики фотоприемника и устройство для его осуществления // 2166739

Изобретение относится к области фотометрии и может быть использовано для измерения световых характеристик фотоприемников

Фотопреобразователь // 2172042

Изобретение относится к области измерения оптического излучения в ультрафиолетовой области спектра

Способ измерения интенсивности ультрафиолетового излучения солнца и устройство для его осуществления // 2184354

Изобретение относится к оптоэлектронике, в частности к способу и устройству для измерения интенсивности ультрафиолетового излучения

Устройство для измерения интенсивности уф-излучения от лампы и оборудованная таким устройством система уф- обработки // 2212024

Изобретение относится к устройству для измерения интенсивности излучения электромагнитной радиации, исходящей из лампового устройства, содержащего, по меньшей мере, одну УФ-лампу, предпочтительно относящуюся в типу ламп, размещенных в контейнере, предназначенном для дезинфицирующей или фотохимической обработки проточной воды

Времяпозиционный детектор излучения // 2217708

Изобретение относится к измерительной технике

Фотоконвертор // 2217783

Изобретение относится к области физики и электричества

Индивидуальное устройство контроля дозы ультрафиолетового излучения // 2245523

Изобретение относится к области контроля облучения ультрафиолетовым излучением