Устройство для измерения 'коэффициента поглощения плазмы

н>p

no Е.,-i i;

ОНОg H4П, : л .л /

Е 275512 °

ОПИСА

Союэ Советскит

Социалистическил

Респуслик

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свпдстсльства J¹

Кл. 42/, 13 03

Заявлено 23.1V.1989 (№ 1332294 26-25) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано ОЗ.VII.1970. Бюллетень № 22

Дата опубликования описания 15.Х.1970

Комитет по делаМ изобретений и открыти(ори Совете Министров

СССР

ЧПК 6 01п 21/02

УДК 535.24:537.5 (088.8) Авторы изобретения

А. Н. Хвощев, JI. И. Щукин и А. Г. Костин

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕН ИЯ КОЭФФИ ЦИ ЕНТА

ПОГЛОЩЕНИЯ ПЛАЗМЬ!

Изобретение относится к устройствам для анализа матерна lcB опти !ескими методами путем исследования поглощения световых лучей, в частности к устройствам для из;!ерения коэффициента поглои1ения плазмы, в которых ! спользуется собственное излучение мотцного импульсного разряда и газах.

Известно устройство для измерения коэффициен а поглощени!! плаза!ы, содержа!цсе отражающий узел в виде сплошного зеркала и регистрирующий прибор, размещенные на одной оптической оси с противоположных сторон исследуемого объекта. Устройство по-Воляет определять усредненное значение коэффициента поглощения, приче д используется

IvIHHH i1J I +BC BCnhll1IKH ИСПЫтУЕМОй ной лампы, одна из которых осуществляется без отражающего зеркала.

Известное устройство позволяет получить лишь интегральное значение коэффициента поглощения плазмы импульсных ламп и не обеспечивает нахождения радиального распределения этого ксэффициента, а также определения коэффициента поглощения плазмы за время действия одного импульса. Это уменьшает точность измерений за счет погрешности, вызываемой нестабильностью последовательных и ь:,пульсов.

Целью изобре1ения является измерение пространственного распределения коэффици. ента поглощения плазмы за время действия одного импульса.

Для этого отражающий узел установки выполнен в виде примыкающей к исследуемому объекту решетки из полированных с торцов пластин металла, пласта!ассы или другого материала, спо Ооного Отражать световой поток необходимого диапазона длин волн. Отражающий узел может быть выполнен в виде отра10 жающих штрихов, нанесенных на подложку нз стекла, пластмассы, алюминия, серебра и т. и., или непосредственно на поверхность исследуемого объекта, например импульсной кварцевой лампы. Отражающая noBepxnocxb

15 решетки расположена нормально по отношению и оптической оси установки.

Для удобства эксплуатации установка мо>кет быть снабжена устройством для калибровки, например осветителем с коллиматором, 20 размещенным на ее оптической оси со стороны, .противоположной расположению регистрирующего прибора.

Предложенное устройство для измерения

25 пространственного распределения коэффициента .поглощения плазмы обеспечивает точный расчет светотехнических параметров осветительных устройств, а также позволяет проводить исследования низкотемпературной плазЗ0 мы, например, в реактивных двигателях, 2755 ь2

1

5

Составитель Е. Буряк

Редактор Т. 3. Орловская

Корректор С. М. Сигал

:- àKà3 2799>9 Тираж 480 Подписзи.е

11НИИПИ Комитета по делам изобретений и открвппй при Совете Министров с СГ

Москва, Я(-35, Раушская паб., д. 4>5

Типография, пр. Сапупова, 2

Ф 3

На чертеже показана блок-схема предло>кенного устройства, содер>кащая устройство для калибровки 1, отражающий узел 2 и регистрирующий прибор 8, размещенные один за другим на оптической оси.

Устроиство для калиоровки 1 состоит из источника света 4, например лампы накалива.ния, расположен:oH в фокусе линзы — конденсатора 5, дающей почти параллельный световой .поток, и предназначено для устранения 10 погрешностей, вносимь.х цилиндрической формой исследуемого объекта.

Отражающий узел 2 выполнен в виде зеркальной решетки б, например, из пластин алгоминия, полированных с торцов. Зеркальная 15 решетка 6 примыкает к исследуемому объекту

7 и размещена на одной оптической оси с ним.

Решетка может быть выполнена из полированных с торцов пластин любого материала, способного эффективно отражать световые лучи 20 в необходимом диапазоне длин волн; в виде отражающих штрихов, нанесенных на подложку из указанного материала, стекла, пластмассы, серебра и т. и.; в виде отражающих штрихов, нанесенных непосредственно на излучаю- 25 щую поверхность исследуемого объекта, например импульсной лампы, имеюшей колбу различной конфигурации. Отражающая говерхность решетки должна располагаться нормально по отношению к оптической оси уста- 30 нонки.

Регистрирующий прибор 8 содержит линзу

8 и спектрограф 9. Во время работы установки изображение посредством линзы 8 проектируют на входную щель спектрографа 9. Окончательное изображение сечения решетки б регистрируют на выходе спектрографа посредством фотографирования.

Устройство, работает следующим образом.

Включают источник света 4 и,посредством 40 линзы 8 фокусируют изооражение решетки на щели опектрографа 9, после чего производят фотосъемку полученного изсоражения, развернутого по спектру, и отключают источник света 4, служащий для калибровки. Затем 45 включают исследуемый объект, например лампу-вспышку. Возникающий при этом световой поток, направленный в противоположную от

4 спектрографа 9 сторону, отражается от зеркальной решетки 6 и, частично поглотившись в плазме, складывается со световым погоном, направленным в сторону сиектрографа 9, после чего проходит через фокусирующую линзу

8 и попадает на входную щель спектрографа, засвечивая фотопластиг ку. В результате получают спектр, промодулированный по сечению видимого изображения импульсной лампывспышки.

Полученные сиектрограммы обрабатывают с помощью микрофстометра. причем микрофотогметиирование производят поперек полученного спектра, т. е. при постоянной длине волны. Количество микрофотограмм определяется желаемой точностью воспроизведения зависимости коэффициента поглощения от длины волны.

Предмет изобретения

1. У стройство для измерения коэффициента поглощения плазмы, содержагцее отражающий узел и регистрирующий прибор, предназначенный для регистрации ггространственного распределения спектра исследуемого объекта, помещаемого гче>кду отра>кающим узлом и регистрирую-цим приоором, от гичающеес>г тем, что, с целью определения пространственного распределения коэффициента поглощения плазмы за время действия одного импульса, отражающий узел устройства выполнен в виде примыкающей к исследуемому объекту решетки, отражающая поверхность которой располо>кена по отношени.о .к оптической оси установки под углом, близким к прямому.

2. Устройство по п. 1, отлича>ощееся тем, что, решетка отр а>на гошего узла наорана нз полированных с торцов пластин из материала, обладающего высоким коэффициентом отражения.

3. Устройстзо по и. 1 или 2, от,гичаюигеес>г тем, что, с целью обеспечения удобства эксплуатации, оно содержит калибровочный эталон, например лампу накаливания с коллиматором, располо>кенный на оптической оси установки со стороны отражаю;цей решетки, противополо>иной* стороне. обращенной к регистрирующему прибору.