Способ анализа микрообъектов
271098
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства ¹
Заявлено 25.XI I.1967 (№ 1206725/26-25) с присоединением заявки ¹
Приоритет
Опубликовано 12.V.1970. Бюллетень ¹ 17
Дата опубликования описания 11ХП1.1970
Кл. 421, 3/50
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
МПК 6 01п
УДК 620.186.1(088,8) Автор изобретения
В. В. Бочарников
Заявитель
СПОСОБ АНАЛИЗА МИКРООБЪЕКТОВ которого пропорционален частному логарифмов отношений
1т (б )
In
I: 1з (бз) у
1,(b )
1п
1з (бз) bI ! и бз
=К бз
In—
bÄ
In—
К з з
In з
15 где 1,(b ) =
12 (Ь2)
1з (Ьз)
1,, 20
Ь=Фу, т", 30
Известны способы анализа м икр ообъектов с использованием сканирования изображения объекта световым лучом и измерения спектральной яркости зерен выделяемых. фаз на двух различных участках спектра.
Предложенный способ отличается от известного тем, что исследуемый объект освещают светом по крайней мере с тремя различными диапазонами длин волн и по частному логарифмов отношений яркости зерен судят о фазовом составе объекта. Это позволяет исключить влияние вариаций толщины зерен на результат анализа и повысить его точность.
На чертеже изображен один из вариантов устройства для реализации описываемого способа.
Изображение поверхности сканируемого препарата 1, сформированное оптической системой 2, . монохроматизируется цветоделительным устройством 8 и воздействует на фотоэлектрический преобразователь 4.
С выхода преобразователя 4 токи 1т, 12 и 1;„ являющиеся функциями спектральных яркостей b>, Ь.. и Ьз по меньшей мере в трех различных участках спектра, поступают на вход вычислительного устройства 5, ток на выходе
К Ь, К.b--;;
КзЬз, l и 12 — токи на выходе преобразователя, пропорциональные b, Ь2 и bh, где Ф вЂ” первичный световой поток от источника; у — коэффициент, учитывающий рассеяние и поглощение света различными спектрально изотропнымн неоднородностями и включениями фазы;
271098
Предмет изобретения
/ pezucmpamdpy
С но ниро8оние
Ос8егуеь де, Составитель М. В. Пантелеев
Редактор Н. Г. Михайлова Тсхрсд Л. В. Куклина Корректор С. А. Кузовенкова
Заказ 2207,, 7 Тираж 480 Подписное
Ц1-!ИИПИ Когиитста по делам изобретений ll открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Рау5нскзв паб,, д. 4 5
I èï0ãðàôèÿ, пр. Сапунова, 2 т — удельный коэффициент свето!!ропусканий (T 1 ) на единицу толщины /г;
К вЂ” коэффициент пропорциональности.
Из формулы следует, что ток 1 на выходе вычислительного устройства свободен от основных возмущающих факторов: вариации толщины Й от зерна, рассеяния и поглощения света у и нестабильности первичного светового потока Ф, а зависит лишь от удельных спектральных коэффициентов светопропускания, являющихся индивидуальной характеристикой выделяемой фазы.
Способ анализа микрообъектов с использованием сканирования изображения объекга светсвым лучом и измерением спектральной яркости зерен фаз, от гичающаггся тем, что, с цель!с искл!очс!5ия вариаций толщины зерен на результат анализа и повышения его точноности, исследуемый объект освещают светом
10 по крайней мере с тремя различными диапазонами длин волн и по частному логарифмов отношений яркости зерен судят о фазовом составе анализируемого объекта.
