Патент ссср 270121

 

270121

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 20.Х.1966 (№ 1109259/26-25) Кл, 21g, 30/02 с присоединением заявки №

Приоритет

МПК С 01 3/00

УДК 550.837(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 08Х.1970. Бюллетень № 16

Дата опубликования описания ЗОХ11.1970

Автор изобретения

В. В. Бочарников

Заявитель

СПОСОБ РАДИО ВОЛ НОВОГО ПРОФ ИЛ И РОВАН ИЯ

10 где p — коэффициент удельного поглощения среды.

Формулы справедливы для случая тороидальных диаграмм направленности приемной и передающей антенн, направленных друг к

15 другу нулями. В случае другой формы диаграмм формулы изменяются.

Предмет изобретения

Способ радиоволнового профилирования, огличаюи ийся тем, что, с целью определения глубины залегания рудного тела, находят величины максимумов отраженного поля при двух различных положениях передающей и приемной антенн с заданными диаграммами

25 направленности.

Изооретение относится к геофизическим способам разведки месторождения полезных ископаемых и способам электроразведки.

Известный способ радиоволнового профилирования не позволяет определять глубину залегания рудного тела.

Предложенный способ отличается от известного тем, что находят величины максимумов отраженного поля при двух различных положениях передающей и приемной антенн с заданными диаграммами направленности.

Это позволит определить глубину залегания рудного тела.

Способ поясняется на фиг. 1, 2.

Передающую антенну располагают в некоторой точке А> профиля, а приемную антенну перемещают по профилю до нахождения максимального значения вторичного (отраженного) поля О, при этом фиксируют расстояние

D> между передающей и приемной антенной.

Затем передающую антенну (излучатель) перемещают в точку А> профиля и вновь отыскивают приемной антенной максимальное значение напряженности вторичного поля Нз и измеряют расстояние между антеннами D, Искомую глубину h залегания рудного тела находят графоаналитическим путем (см, фиг. 2) по двум формулам:

H»> y д| Dg + 4A д(6) = e (тбп +4h — т о + 4h. I, 270l21

pygmoid meva

Фиа 7 х(!, у!ц

/г/м/

Фиг. 2

Составитель Л. )Байдакова

Редактор T. 3. Орловская Техред А. А. Камышникова Корректор Л. И. Гаврилова

Заказ 2143/15 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская паб., д. 4/5

Типография, пр, Сапунова, 2

Патент ссср 270121 Патент ссср 270121 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области геологоразведочных работ, а именно к способам поиска нефтяных и газовых месторождений

Изобретение относится к геофизике, а более конкретно к способам электроразведки, основанным на изучении электромагнитных полей индустриального происхождения, и может быть использовано при поисках линейных проводящих зон в земной коре
Изобретение относится к геофизическим методам разведки полезных ископаемых, в частности к электрическим методам

Изобретение относится к прикладной медицине и разделу геофизики, занимающемуся поисками полезных ископаемых, и может быть использовано для регистрации и исследования положения аномальных зон поля Земли

Изобретение относится к способу и устройству для выявления структурных изменений в твердых телах

Изобретение относится к области геофизической разведки, в частности, к способам измерения параметров электростатического поля Земли

Изобретение относится к области электромагнитных исследований и может быть использовано преимущественно для поиска, обнаружения, распознавания и отслеживания трасс подводных протяженных металлосодержащих объектов, в том числе и заиленных в донный грунт, например, подводных трубопроводов, силовых кабелей и т.д

Изобретение относится к области магнитной геологоразведки и может быть использовано при разведке железорудных месторождений

Изобретение относится к области геофизики, преимущественно аэрономии, и может быть использовано при исследовании ионосферы в активных экспериментах, в которых по отклику среды на воздействие источника возмущения с известными параметрами определяются ее свойства
Наверх