Способ определения чистоты обработки поверхности изделия

250465

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 20.V,1968 (№ 1240806/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 12.VI I I.1969. Бюллетень № 26

Дата опубликования описания 19.1.1970

1(л. 42Ь, 12/02

МПК G 01Ь

УДК 521.715.2:531.717. .81 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЧИСТОТЫ ОБРАБОТКИ

ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЯ

Известен способ определения чистоты обработки поверхности изделия, заключающийся в том, что поверхность контролируемого изделия освещают, сравнивают интенсивность излучений, отраженных от поверхности изделия зеркально и диффузно, и по соотношению этих интенсивностей определяют чистоту обработки поверхности изделия.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что сначала получают голограмму 10 контролируемого изделия, производят освещение поверхности изделия, накладывая на поверхность изделия в восстановленное с голограммы его действительное изображение, и регистрируют при этом интенсивность зеркально 1ч и диффузно отраженного от поверхности изделия излучения, затем изменяют взаимное расположение изделия и его,действительного изображения на величину, большую, чем средняя высота микронеровностей поверхности, реги- 20 стрируют интенсивность зеркально отраженного от поверхности изделия излучения и по соотношению этих интенсивностей определяют чистоту обработки поверхностей.

Это повышает чувствительность и универ-. 25 сальность способа.

На фиг. 1 изображена принципиальная оптическая схема получения голограммы изделия; на фиг. 2 — схем а регистрации зер кальво и диффузно отраженного излучения при перво- 30

2 начальном взаимном расположении действительного изображения изделия и самого изделия; на фиг. 3 — схема регистрации зеркально отраженного излучения при измененном взаимном расположении действительного изображения изделия и самого изделия.

Определение чистоты обработки поверхности изделия согласно предложенному способу пр оиз водят следующим обр азом.

Пространственно когерентное монохроматическое излучение, например луч лазера 1 (фиг. 1), расширяют линзой 2, получая так называемый пучок 8 подсветки, и направляют на поверхность изделия 4. На пути излучения, отраженного от поверхности изделия, как зеркально — 5, так и диффузно — б, ставят фотопластинку 7. Чтобы записать на фотопластинку 7 голограмму изделия, на нее направляют луч 8 лазера, не взаимодействующий с изделием, так называемый опорный пучок. Затем получают голограмму изделия, производя фотообработку фотопластинки без смещения ее из первоначального положения, После этого освещают голограмму (фиг. 2 и 3) опорным пучком 8, в результате чего на поверхность изделия накладывают его действительное изображение. По закону обратного хода лучей излучение, отраженное от поверхности изделия, будет сфокусировано в той же точке, в которой был сфокусирован луч под250465 Риг. I

Составитель В. Иванова

Редактор М. Афанасьева Техред А. А. Камышникова Корректор Л. В. Юшина

Заказ 3559/6 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 светки. Вместо линзы 2 ставят детектор 9, регистрирующий интенсивность излучения. При сохранении первоначального взаимного расположения действительного изображения изделия и самого изделия в точке а сфокусируется излучение, отраженное как зеркально, так и диффузно от поверхности изделия в телесном угле, перекрываемом голограммой, Если теперь взаимное расположение изделия и его действительного изображения изменить на величину, большую, чем средняя высота микронеровностей ловерхности, то .вблизи точки а будет сфокусирована только та часть излучения, которая отражена от поверхности изделия зеркально (фиг. 3).

Сравнивая интенсивность излучений, зафиксированную детектором 9, в первом и во втором случае, определяют чистоту обработки поверхности изделия.

Предмет изобретения

Способ определения чистоты обработки поверхности изделия, заключающийся в том, что освещают поверхность контролируемого изделия, сравнивают интенсивность излучений, отраженных от поверхности изделия зеркально и диффузно, и по соотношению этих интенсивно5 стей определяют чистоту обработки поверхности изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и универсальности способа, сначала получают голограмму контролируемого изделия, производят освеще10 ние поверхности изделия, накладывая на поверхность изделия восстановленное с голограммы его действительное изображение, и регистрируют при этом интенсивность зеркально и диффузно отраженного от поверхности изде15 лия излучения, затем изменяют взаимное расположение изделия и его действительного изображения на величину, большую, чем средняя высота микронеровностей поверхности, регистрируют интенсивность зеркально отраженно20 го от поверхности изделия излучения и по соотношению этих интенсивностей определяют чистоту обработки поверхностей.