Способ изготовления полупроводниковых кристаллов
Использование: в микроэлектронике при изготовлении полупроводниковых кристаллов. Сущность изобретения: на поверхность полупроводниковых пластин наносят слой неблагородного металла VI - VIII группы или их оплавы толщиной 0,2 - 2,5 мкм, поверх его наносят слой защитного металла толщиной 0,5 - 30,0 мкм и после механического разделения пластины на кристаллы и промывки в травителе проводят защиту боковой поверхности кристаллов компаундом и химическую обработку металла верхнего слоя. 7 з.п. ф-лы, 1 табл.
Изобретение относится к изготовлению полупроводниковых приборов, в частности, к изготовлению полупроводниковых (п/п) кристаллов.
Известен способ изготовления п/п кристаллов, включающий нанесение на поверхность п/п пластины металла омического контакта, например ванадия. На поверхность ванадия наносят слой золота, пластину разделяют на кристаллы механическим путем с последующей промывкой в химическом травителе с целью удаления разрушенного слоя боковой поверхности кристалла. Получают с хорошим выходом кристаллы высоковольтной группы [1] Недостатком данного способа является использование драгоценного металла-золота. Наиболее близким по своей технической сущности является способ изготовления п/п кристаллов, при котором на кремниевую пластину со сформированным р-n-переходом наносят слой металла омического контакта и сверху защитный слой свинца, осуществляют механическое разделение пластин на кристаллы, их промывку в травителе боковой поверхности и снятие защитного слоя свинца химическим путем [2] Недостатком данного способа разделения пластин является то, что удается получать в основном кристаллы низковольтных групп. Сущностью изобретения является получение п/п кристаллов, применяемых в производстве высоковольтных п/п приборов, без использования драгоценных металлов. Это достигается тем, что на поверхность п/п пластин наносят любым способом слой неблагородного металла VI-VIII групп или их сплавы, на который наносят также любым способом второй слой защитного металла, стойкого к травителю кремниевых пластин, например свинец. Пластину разделяют на отдельные кристаллы механическим путем, промывают в химическом травителе боковой поверхности, защищают их боковую поверхность кремнийорганическим компаундом и после отверждения последнего производят химическую обработку верхнего слоя металла до частичного или полного его снятия. В случае использования свинца в качестве верхнего защитного слоя химическую обработку производят в перекисном растворе уксусной кислоты или во флюсе. Защиту боковой поверхности кристаллов кремнийорганическим компаундом можно проводить любым способом, не допуская попадания компаунда на планарные поверхности кристаллов. Такая полимерная защита позволяет осуществлять различные технологические операции с защищенными кристаллами без загрязнения р-n-перехода, так например, обработку химическими травителями и флюсами, нанесение гальванических покрытий, напыление металлов, горячее лужение на планарные поверхности кристаллов и т.п. Для улучшения омического контакта при сборке приборов методом бесфлюсовой пайки допускается дополнительное нанесение как металла нижнего слоя на планарные поверхности кристаллов после снятия верхнего слоя, так и дополнительное нанесение слоя металлов I-V групп или их сплавов любым способом. Такое нанесение можно проводить как после удаления металла верхнего слоя, т.е. на металл нижнего слоя, так и после частичного удаления металла верхнего слоя или его окислов. Все технологические операции легко поддаются механизации и автоматизации, широко используются в технологии изготовления п/п приборов и не нуждаются в сложном специальном оборудовании. Однако указанная последовательность технологических операций с использованием данных металлов, полимерных материалов и травителей позволяет получать высоковольтные приборы, не уступающие по своим электротехническим параметрам п/п приборам, содержащим в своем составе драгоценные металлы, например золото. П р и м е р 1 (прототип). На кремниевую пластину диаметром 40 мм с р-n-переходом и слоем химического никеля наносят гальваническим путем защитный слой свинца толщиной 4 мкм. Пластину разделяют алмазными пилами на отдельные кристаллы и промывают в травителе боковой поверхности HF:HNO3=1:2 в течение 15 с. После промывки кристаллов в деионизованной воде их промывают в растворе Н2О2: СН3СООН:H2O=2:1:1 до удаления свинца. Промытые в воде и высушенные кристаллы передают на сборку п/п приборов. П р и м е р 2. На обе стороны кремниевой пластины диаметром 40 мм с р-n-переходом наносят слой химического никеля толщиной 0,5 мкм. Состав ванны никелирования следующий, г/л: никель сернокислый 18; натрий уксуснокислый 18; уксусная кислота 18; гипофосфит натрия 10. Условия никелирования: температура 75














Формула изобретения
1. СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРИСТАЛЛОВ, включающий нанесение на полупроводниковую пластину со сформированными структурами приборов слоя металла омического контакта и слоя металла защитного покрытия, механическое разделение полупроводниковой пластины, обработку в травителе образовавшихся боковых поверхностей с последующей химической обработкой слоя металла защитного покрытия, отличающийся тем, что дополнительно перед химической обработкой слоя металла защитного покрытия проводят защиту образовавшихся боковых поверхностей полимерным компаундом, а в качестве металла омического контакта используют неблагородные металлы Vi VIII групп или их сплавы. 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что химическую обработку проводят до полного удаления металла защитного покрытия. 3. Способ по п.1, отличающийся тем, что химическую обработку проводят с частичным удалением металла защитного покрытия. 4. Способ по пп.1 3, отличающийся тем, что после химической обработки наносят дополнительные слои металлов или их сплавов. 5. Способ по п. 4, отличающийся тем, что в качестве металла дополнительных слоев используют металлы подгруппы олова. 6. Способ по п. 4, отличающийся тем, что в качестве металла дополнительных слоев используют металлы подгруппы никеля. 7. Способ по п.1, отличающийся тем, что слой металла омического контакта наносят толщиной 0,2 2,5 мкм. 8. Способ по п.1, отличающийся тем, что слой металла защитного покрытия наносят толщиной 0,5 30,0 мкм.РИСУНКИ
Рисунок 1
Похожие патенты:
Изобретение относится к изготовлению полупроводниковых приборов, в частности, к разделению полупроводниковых (п/п) пластин на отдельные кристаллы
Изобретение относится к технологии микроэлектроники, в частности к изготовлению полупроводниковых структур, и может быть использовано в электронной, электротехнической и других областях техники при изготовлении полупроводниковых микросхем
Изобретение относится к производству электронной техники и может быть использовано в технологии изготовления интегральных схем
Способ изготовления контактов к кремнию // 1661875
Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано для изготовления интегральных элементов микроэлектронных устройств
Интегральная схема и способ ее изготовления // 2117418
Изобретение относится к производству полупроводниковых приборов и может быть использовано при создании структур "кремний на сапфире", предназначенных для изготовления дискретных приборов и интегральных схем, стойких к воздействию дестабилизирующих факторов, например к радиации
Способ изготовления микросхем // 2244364
Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в производстве микросхем
Прибор для поверхностного монтажа // 2316846
Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в производстве электронных приборов и интегральных схем
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при изготовлении чувствительных элементов датчиков давлений
Изобретение относится к технологии производства полупроводниковых приборов и может быть использовано при изготовлении мощных СВЧ-транзисторов с использованием гетероструктур на основе нитридов III группы
Запоминающее устройство с диэлектрическим слоем на основе пленок диэлектриков и способ его получения // 2343587
Изобретение относится к области полупроводниковой нанотехнологии и может быть использовано для прецизионного получения тонких и сверхтонких пленок полупроводников и диэлектриков в микро- и оптоэлектронике, в технологиях формирования элементов компьютерной памяти
Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано в новом технологическом процессе: изготовлении структур кремний на изоляторе или кремний на арсениде галлия (через окисел) путем прямого соединения полупроводниковых пластин
Способ изготовления датчиков давления // 2075137
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при изготовлении малогабаритных полупроводниковых датчиков давления