Способ изготовления полупроводниковых кристаллов
Сущность изобретения: на полупроводниковую пластину со сформированными структурами полупроводниковых приборов наносят слой металла омического контакта, а сверху слой металлического защитного покрытия. Механически разделяют полупроводниковую пластину на кристаллы. Защищают образовавшиеся боковые поверхности полимерным компаундом, химически удаляют металл защитного покрытия. В качестве металла омического контакта используют неблагородные металлы IY - YIII групп и их сплавы. 2 з. п. ф-лы, 1 табл.
Изобретение относится к изготовлению полупроводниковых приборов, в частности, к разделению полупроводниковых (п/п) пластин на отдельные кристаллы.
Известен способ разделения пластин, включающий нанесение на поверхность п/п пластины металла омического контакта, например ванадия. На поверхность ванадия наносят слой золота, пластину разделяют механическим путем на кристаллы с последующей промывкой в химическом травителе с целью удаления разрушенного слоя боковой поверхности кристалла. Получают с хорошим выходом кристаллы высоковольтной группы [1] . Недостатком данного способа является использование драгоценного металла-золота. Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ разделения п/п пластин, при котором на кремниевую пластину со сформированным p-n-переходом наносят слой металла омического контакта и сверху - защитный слой свинца, осуществляют механическое разделение платин на кристаллы, их промывку в травителе боковой поверхности и снятие защитного слоя свинца химическим путем [2] . Недостатком данного способа разделения пластин является то, что удается получать в основном кристаллы низковольтных групп [2] . Целью изобретения является получение п/п кристаллов, применяемых в производстве высоковольтных п/п приборов без использования драгоценных металлов. Это достигается тем, что на поверхность п/п пластин наносят любым способом слой неблагородного металла VI-VIII групп или их сплавы, на который наносят также любым способом второй слой защитного металла, стойкого к травителю кремниевый пластин, например, свинец или золото. Пластину разделяют на отдельные кристаллы механическим путем, промывают в химическом травителе боковой поверхности, защищают их боковую поверхность кремнийорганическим компаундом и после отверждения последнего производят снятие верхнего защитного слоя металла химическим путем. В случае использования свинца в качестве верхнего защитного слоя снятие его производят в перекисном растворе уксусной кислоты, в случае использования золота снятие осуществляют в царской водке. В этом случае раствор, содержащий золото, передают на регенерацию (выделение) золота. Для улучшения омического контакта при сборке приборов методом бесфлюсовой пайки допускается дополнительное нанесение металла нижнего слоя на планарные поверхности кристаллов после снятия верхнего слоя. Все технологические операции легко поддаются механизации и автоматизации, используются в технологии изготовления п/п приборов и не нуждаются в сложном специальном оборудовании. Однако, указанная последовательность технологических операций с использованием данных металлов, полимерных материалов и травителей позволяет получать высоковольтные приборы, не уступающие по своим электротехническим параметрам п/п приборам, содержащим в своем составе драгоценные металлы, например, золото. П р и м е р 1. На кремниевую пластину с p-n-переходом, нагретую до 300оС в вакууме 1









Формула изобретения
1. СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРИСТАЛЛОВ, включающий нанесение на полупроводниковую пластину со сформированными структурами приборов слоя металла омического контакта и слоя металла защитного покрытия, механическое разделение полупроводниковой пластины, обработку в травителе образовавшихся боковых поверхностей с последующим химическим удалением слоя металла защитного покрытия, отличающийся тем, что дополнительно перед химическим удалением слоя металла защитного покрытия проводят защиту образовавшихся боковых поверхностей полимерным компаундом, а в качестве металла омического контакта используют неблагородные металлы IV - VIII групп или их сплавы. 2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что слой металла омического контакта наносят толщиной 0,2 - 2,5 мкм. 3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что слой металла защитного покрытия наносят толщиной 0,5 - 30,0 мкм.РИСУНКИ
Рисунок 1
Похожие патенты:
Изобретение относится к технологии микроэлектроники, в частности к изготовлению полупроводниковых структур, и может быть использовано в электронной, электротехнической и других областях техники при изготовлении полупроводниковых микросхем
Изобретение относится к производству электронной техники и может быть использовано в технологии изготовления интегральных схем
Способ изготовления контактов к кремнию // 1661875
Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано для изготовления интегральных элементов микроэлектронных устройств
Изобретение относится к области электроники
Интегральная схема и способ ее изготовления // 2117418
Изобретение относится к производству полупроводниковых приборов и может быть использовано при создании структур "кремний на сапфире", предназначенных для изготовления дискретных приборов и интегральных схем, стойких к воздействию дестабилизирующих факторов, например к радиации
Способ изготовления микросхем // 2244364
Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в производстве микросхем
Прибор для поверхностного монтажа // 2316846
Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в производстве электронных приборов и интегральных схем
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при изготовлении чувствительных элементов датчиков давлений
Изобретение относится к технологии производства полупроводниковых приборов и может быть использовано при изготовлении мощных СВЧ-транзисторов с использованием гетероструктур на основе нитридов III группы
Запоминающее устройство с диэлектрическим слоем на основе пленок диэлектриков и способ его получения // 2343587
Изобретение относится к области полупроводниковой нанотехнологии и может быть использовано для прецизионного получения тонких и сверхтонких пленок полупроводников и диэлектриков в микро- и оптоэлектронике, в технологиях формирования элементов компьютерной памяти
Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано в новом технологическом процессе: изготовлении структур кремний на изоляторе или кремний на арсениде галлия (через окисел) путем прямого соединения полупроводниковых пластин
Способ изготовления датчиков давления // 2075137
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при изготовлении малогабаритных полупроводниковых датчиков давления