Интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей
ОП ИСАН И Е
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К ЛВтОРСКОМЬ СВИДИтИЛЬСТВ
Ьсюз Советских
Социалистических
Республик
УР ПЯЕДТР
ТЕлийт;;:4,—, У
Б.. БД110 т Г1 4
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 04.VII I.1966 (№ 1095793/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 31.Ч1.1967. Бюллетень № 12
Дата опубликования описания 25Х1I.1967
Кл. 42h, 34/11
МПК 6 02d
УДК 535А11(088.8) Комитет по делам иаобретвииЯ и открытиЯ при Совете Миииотров
СССР
Авторы изобретения
С. Я. Ловков и А. И. Харитонов
Заявитель
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ
НЕОДНОРОДНОСТЕЙ
Известный интерферометр типа Маха — Цендера состоит из источника света, коллиматора, эталонной и рабочей ветвей и приемной части. В рабочей камере установлена камера с исследуемой неоднородностью.
Этот интерферометр не позволяет одновреме iHQ получить несколько интерференциопных картин в одной плоскости с различной исходной настройкой (ориентировкой, шириной интерференционных полос и различной компенсацией разности хода).
Описываемый интерферометр отличается от известного тем, что в рабочей и эталонной ветвях установлены полупрозрачные пластины, созда ощие дополнительную независимую пару когерснтных световых пучков и направляющих их на систему плоских зеркал, полупрозрачную пластину и приемную часть, образующих вторую двухлучевую интерференционную картину.
Этот интерферометр позволяет получить одновременно две интерференционные двухлучевые картины в одной плоскости с различной
íàtià IbH0A настройкой (различной ориентировкой, шириной интерференционных полос H компенсацией разности хода).
На чертеже изображена схема описываемого интерферометра.
Световой поток от источника 1 света проходит коллиматор 2, попадает на полупрозрачную пластину 8 и делится ею на два пучка, один из которых проходит через эталонную ветвь — зеркало 4 и полупрозрачную пластину
5, а другой пучок — через рабочую ветвь— зеркало б и полупрозрачную пластину 5, и попадает в приемную систему 7.
Исследуемая неоднородность устанавливается в камере 8 в рабочей ветви интерферомет10 ра. С целью одновременного получения второй двухлучевой интерференционнои картины в рабочую и эталонную ветвь установлены полупрозрачные пластины 9 и 10. Они направляют один из световых пучков на плоское зер15 кало 11 и полупрозрачную пластину 12, дру. гой †- на зеркала 18, 14 и полупрозрачную пластину 12, после которой световые пучки попадают в приемную систему 15 интерферометра, 20 В эталонных ветвях интерферометра установлены компенсаторы 1б и 17. В случае применения в качестве источника света оптического квантового генератора установка компенсаторов в ветвях интерферометра не обя25 зательна.
Интерферометр позволяет получать в течение одного опыта одновременную информацию при изучении неоднородностей, характеризую30 щихся разными величинами плотностей, 1972!9
Предмет изобретения
Составитель И. Н. Небосклонова
Редактор Н. А. Джарагетти Техред Л. Я. Бриккер Корректоры: Н. В. Черетаева и Л. В. Наделяева
Заказ 2183(6 Тираж 535 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССР
Москва, Центр, пр. Серова д. 4
Типография, пр. Сапунова, 2
Иптерферометр для исследования прозрачных неоднородностей, состоящий из источника света коллиматора, эталонной и рабочей ветвей, в которой установлена камера с исследуемой неоднородностью, приемной части, отличающийся тем, что, г целью одновременного получения двух интерференционных картин, в одной плоскости с различной настройкой, в рабочей и эталонной ветвях установлены полупрозрачные пластины, создающие дополнительную независимую пару когерентных све5 товых пучков и направляющие их на систему зеркал, полупрозрачную пластину и приемную часть, образующих вторую двухлучевую интерференционную картину.
