Патент ссср 168915

Авторы патента:

G01N21/45 - с помощью методов, основанных на интерференции волн; с помощью шлирного метода

G01J9/02 - методами интерферометрии (использование интерферометров для оптических методов измерения линейных размеров предметов G01B 9/02)

G01B9/02 - интерферометры

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ!

689И

Союз Советских

Социалистических

Реслублик

Зависимое от авт, свидетельства №

Заявлено 11.Х11.1963 (№ 869966 26-25) Кл. 42h, 34 с присоединением заявки №

ЧПК С 02d

УДК 535.853.4(088.8) Государственный кемитет по делам изобретений и открытий СССР

Приоритет

Опубликовано 26.11.1965. Бюллетень № 5

Дата опубликования описания 23.XI.1965

Авторы

ФЕРОл 1ЕТР проходит вторично через пластину А, а затем через вторую разделительную пластину В.

Оое пластины расположены в фокусах эллипса. Часть света, прошедшая через пластину А, 5 отражается от Мх и от пластины В. Таким образом, пути лучей в интерферометре равнозначны.

1о На фиг. 2 пластинка С компенсирует разность хода в ветвях интерферометра, образующуюся за счет прохождения лучом второи разделительной пластины.

Интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений за

20 счет двукратного прохождения луча в исследуемом объекте и локализации полос в любой точке его, в основу геометрического построения положен эллипс, в фокусах которого расположены две разделительные пластины, а vo

25 касательным вЂ” зерка„Ià, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в точке пересечения этих касательных к эллипсу.

Известны интерферометры для исследования прозрачных неоднородностей, в которых осуществляется либо двукратное прохождение луча в исследуемом объекте, либо локализация полос в любой точке объекта, Предложенный ингерферометр позволяет объединить эти способы исследования.

В основу геометрического построения предложенного интерферометра положен эллипс, в фокусах которого находятся две разделительные пластины, а по касательным вЂ” зеркала, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в точке пересечения касательных к эллипсу.

Для компенсации разности хода лучей в стекле в одну из ветвей интерферометра помещена плоскопараллельная стеклянная пластина, толщина которой равна толщине второй (по ходу луча) разделительной пластины.

На фиг. l изображена принципиальная схема построения интерферометра; на фиг. 2вЂ” та же оптическая схема с введенной компенсационной пластиной.

Свет от источника (на чертеже не изображен) отражается разделительной пластиной А на зеркало М, и проходит на зеркало М.

Зеркала расположены по касательным к эллипсу. Далее свет, отраженный от зеркала Мь

Подписная группа № 170

АМ + М1А + АВ =АМх+М2В.

Предмет изобретения

1В8915

Составитель Л. Я. Гойхман

Редактор Б. Шнейдерман Техред Л. К, Ткаченко Корректор Л. E. Марнсич

Заказ 3257717 Тираж 775 Формат бум. 60р, 90 /ц Объем 0,13 изд. л. Цена 5 коп.

ЦЫ1ИГ1И Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Сеоова, д. 4.