Способ получения микропробы поверхностного

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

19704О

Союз Советских (Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 11 V.1966 (№ 1077616/26-25) Кл. 21g, 53/00 с присоединением заявки №

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

МПК Н 03b

УДК 621.375.8(088.8) Приоритет

Опубликовано 31.Ч.1967. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания 10.Ч11.1967

Авторы изобретения

А. А. Жуков, А. Н. Кокора и В. Л. Жукова

Заявитель

СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ МИКРОПРОБЫ ПОВЕРХНОСТНОГО

СЛОЯ МАТЕРИАЛА

Известен способ получения микропробы поверхностного слоя материала с помощью оптического квантового генератора (ОКГ), излучение которого используется для возбуждения в микрообъемах эмиссионного спектра исследуемых элементов на поверхности изучаемых материалов. Практически эмиттирующее облако выбиваемого материала приходится довозбуждать искровым разрядом. Локальность известного способа не превышает

30 — 50 мк.

Предложенный способ заключается в том, что под микроскопом выбирают участок шлифа исследуемого материала (стали или чугуна), покрывают выбранный участок прозрач. ной для излучения ОКГ пластиной или пленкой, фокусируют излучение ОКГ на выбранный участок псверхностного слоя исследуемого материала и лучом ОКГ напыляюг микропробу на прозрачную пленку. Проба может быть получена в любых условиях, в том числе в полевых, герметизирована и передана на анализ в стационарную лабораторию.

Анализ мокнет проводиться различными известными способами: спектр альным, активационным и др.

Предложенный способ увеличивает локальность до 10 мк и повышает точность последующих измерений.

Предмет изобретения

Способ получения микропробы поверхностного слоя материала, отличающийся тем, что, с целью повышения локальности и точности измерения содержания компонентов, выбирают подлежащий анализу участок на шлифе под микроскопом, покрывают этот участок прозрачной для излучения оптического квантового генератора (ОКГ) пленкой или пластиной, фиксируют излучение ОКГ на выбранный участок поверхности исследуемого материала и напыляют микропробу на пленку или пластину путем испарения исследуемого материала лучом ОКГ.