Способ термической обработки тонкопленочных резисторов
(72) Авторы изобретения
В. А, Демьяненко, В. Ф. Шумейко и А. Н. Сердюков (71) Заявитель (54) СПОСОБ ТЕРМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ
РЕЗИСТОРОВ
Изобретение относится к тонкопленочной. технологии и может быть использовано при. термической обработке тонкопленочных резисторов и тонкопленочных резисторных схем из металлосилицидных сплавов.
Известен способ термической обработки резисторов и резисторных схем из металлосилицидных cBJIRBQB с контактными площадками,из неблагородных металлов и медными проволочными выводами (1).
Однако этот способ не позволяет получать 10 резисторы с высокими метрологическими ха-. рактеристиками, и в первую очередь с высокой стабильностью и малым ТКС.
Наиболее. близким к предлагаемому явш ется способ термической обработки тонко1$ пленочных резисторов на основе металлосилицидных сплавов, включающий нагрев, изотермическую выдержку и охлаждение до комнатной температуры (2).
Однако известный способ термической обработки не позволяет применять его для резисторов с контактными площадками и то. коподводами из неблагородных металлов. Это связано с тем; что во время термической;об- работки контактные узлы или контактные площадки интенсивно окисляются, что уменьшает надежность резисторов и резисторных схем в процессе эксплуатации, приводит к плохой свариваемости контактных, площадок, и проволочных выводов, снижает.выход годных на операции присоединения выводов;
Цель изобретения — увеличение выхода годных изделий путем уменьшения окисления контактных узлов.
Поставленная цель достигается тем, что в способе термической обработки тонкопленочных резисторов на основе металлосилицидных сплавов, включающем нагрев, изотермическую выдержку и охлаждение до комнатной температуры, операции нагрев, изотермическая выдержка и охлаждение до комнатной температуры осуществляют в замкнутом герметичном. объеме с удельной нормой воздуха в диапазоне от 0,005 до 0,02 см /ем поверхности обрабатываемых слоев.
Изотермическую выдержку осуществляют при 325 С в течение 60 мин. Время охлаждеИз табл. 1 видно, что оптимальным режимом термической обработки является предлагаемый. Меньшее: время охлаждения приводит к нестабильности, большее — нецелесообраз35 но.
На чертеже представлено приспособление для термической обработки подложек с реэистоТаблица 1
ТКС х 10, 1/ q
Время охлаж дения, ч
Изотермическая выдержк
Стабильность эа 8 ч при
70 С, %
Температура, С
Время, мин
325
17
-0,08
0,012
337
17
-14,73
0,025
325
17
Ю,60
0,028
308
17
-4,30
+44;80
0,021
337
17
0,015 ния определяется естественным охлаждением отключенной муфельной лечи типа МП-2УМ.
Через 17 ч с момента отключения температуэа обрабатываемых резисторных схем не превышает 40 С.
Термическая обработка. резистивной плен.и на воздухе приводит к снятию внутренних, .:апряжений и ускорению реакций между комгонентами пленки и подложки, к увеличению аморфной фазы за счет окисления резистивной пленки кислородом, и в результате — к стабилизащ и метрологических параметров резисторов и резисторных схем из металлосилицидных сплавов. Ограничение объема воздуха с удельной нормой не более 0,02 см /см поверхности обрабатываемых слоев при термической обработке приводит к достаточному уменьшению окисления контактных площадок.
Степень окисления контактных площадок тем меньше, чем меньше воздуха остается в приспособлении. При+этом обычно сохраняется адсорбированный на обрабатываемой поверхности резистивной пленки кислород, необходимый и . достаточный для окисления резистивной пленки и стабилизации метрологических параметров резисторных схем.
Определение оптимального режима термической обработки в ограниченном объеме воздуха, проведенное симплексным методом, представлено в табл. 1.
886068
4 рами и резисторными схемами на основе металлосилицидного сплава.
Подложки 1 с напыленными резисторами размещаются внутри вкладыша 2 в корпусе
3 и закрываются крышкой 4 с прокладкой
5 из алюминиевой фольги. Крышка прижимается шестью винтами. Температура измеряется термопарой, горячий спай которой размещается в канале, высверленном в крышке.
1п II р и м е р. Проводят термическую обработку тонкопленочных резисторов на основе металлосилицидного сплава РС вЂ 37.
Режим проведения обработки и характеристики резисторов приведены в табл. 2.
1ч Как следует иэ табл. 2, сварка токоподводов с контактными площадками выполнена после термообработки. Сварка токоподводов с контактными площадками в предлагаемом способе может производиться и до термообработки, однако это не удобно в производстве.
Использование предлагаемого способа термической обработки резисторов и резисторных схем на основе металлосилицидных сплавов с контактами из неблагородных металлов д обеспечивает по сравнению с существующим промышленным способом термообработки повышение выхода годных на операции присоединения выводов после термической обработки до 96%, что дает экономический эффект 25 тыс. руб. При этом температурйый
30 коэффициент сопротивления резисторов не хуже 30 ° 10 1/ С, стабильность не хуже
0,15% за 500 ч при 75 С, повышается надежность резисторов в процессе эксплуатации.
Кроме того, термообработка предлагаемым способом исключает необходимость использования в контактном узле благородных металлов (золота).
8860б8
1 а.
I ca
° И Ф 1
IA
° М о
СЧ о
О
o" о
3Г) I !
1 ь
00 1 1 о о о ю
С ). о Я а о@ и 4 <р
35 5
РЪ
И д (es ио Ыо
Ю ь . оо ои м
I O
1 М » о зс
М ф
5 ай
3 4 е о. ц
Ю и
Ot Я )4
Ig р, 1 34 э
Ig > ci, g ct
1Оой(Мщ
1
1 g б и
1
@ci.
3 м р
С 4
0 оо
ОНОГО
В,оО
886068
Формула изобретения
Составитель О. Чернышев
Техред Ж.Кастелевич Корректор I . OraP
Редактор E. Дичинская
Заказ 10567/81 Тираж 787 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4
Способ термической обработки тонкопленочных резисторов на основе металлосилицидных сплавов, включающий нагрев, изотермическую
/ выдержку и охлаждение до комнатной температуры, о т л и ч а ю .шийся тем, что, :с целью увеличения выхода годных изделий путем уменьшения окисления контактных узлов, операции нагрев, изотермическая выдержка и охлаждение до комнатной температурь1 осуществляют в замкнутом герметичномом объеме с удельной нормой воздуха в диапазоне от 0,005 до
0,02 см Ь/см поверхности обрабатываемых слоев.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Демьяненко В. А. и Губа Н, Г. Иссле-. дование процесса термостабилизацни тонко-! пленочных делителей напряжения на основе металлосилицндного сплава. Печатные реэисто. ры и приборы на их основе. Тезисы докладов Всесоюзной научно-технической конференции. М., 1973. щ 2. Ермолаев Г. А. Влияние термической обработки на электрофиэические свойства тонких резистивных пленок. сплава РС-3710.
Прецизионные печатные и тонкопленочные резисторы. Тезисы докладов конференции. по технологии приборостроения. Кишинев, 1972 (прототип).



