Имитатор для настройки дефектоскопов

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОЬРЕТЕ Н ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ «873105

Союз Советских

Социалистических .

Республик (61) Дополиительиое к авт. саид-ву 1Р 739391 (22) Заявлено 19. } 2. 78 (21) 2699684/25-28 (51)М. Кл. с.присоедииеиием заявки,%

6- Ol и 27/90

3Ъеударстааиай кемнтет

СССР

IIo делам изобретеиий и открытий (28)Приоритет (5З) П,К 620. 179. .14(088.8) Опубликовано 15. 10. 81 ° бюллетень М 38

Дата опубликования описания 15. 1О. 81

Д. И. Косовский и М. А. Хвостова (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) HMNTATOP ДЛ 1 НАСТРОЙКИ ДЕФЕКТОСКОПОВ

Изобретение относится к контроль1 но-измерительной технике и может быть использовано для настройки дефектоскапов с преобразователями, :вращающимися вокруг контролируемого изделия.

По основному авт. св. У 739391 известен имитатор для настройки дефектоскопов, выполненный в виде протяженного цилиндра, составленного из нескольких концентричных слоев, а искусственный дефект на цилиндре выполнен в виде сквозной прорези вдоль образующей цилиндра по крайней мере в одном из слоев(1.1.

Однако с помощью данного имитатора можно осуществлять настройку дефектоскопа лишь для измерения дефектов одной определенной глубины, а. для полного метоологического обеспечения дефектоскопа необходим комплект различных имитаторов. Кроме того, для воспроизведения слоя с заданной глубиной дефекта требуется изпотовлять слой листа с большой точностью.

Целью изобретения является повышение точности и расширение диапазона измеряемых дефектов с помощью одно5 го и того же имитатора.

Указанная цель достигается тем, что слои цилиндра вдоль продольной оси выполнены переменной толщины, I0 изменяющейся равномерно вдоль образующей слоев.

Разомкнутый слой переменной толщины воспроизводит дефект в виде несплошности переменной глубины и

15 содержит все значения глубин дефекта, определяемые толщиной данного слоя.

На чертеже приведено предлагаемое устройство.

Имитатор составлен из двух частей 1. и 2. Каждая часть имитатора выполнена в виде конического цилиндра, у которых толщина стенки изменяется в направлении продольной оси. . Части имитатора 1 и 2 соединяются так, 873105

Формула изобретения

Составитель В. Махров

Техред С.Мигунова Корректор E Рошко

Редактор П. Коссей

Заказ 9022/68 Тираж 910 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4!5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

3 что-изменение толщины их стенок про исходит во взаимно противоположных направлениях. Такое соединение позво.-.. ляет выполнять внешний слой с постоянным внешним диаметром, что обеспечивает лучшие условия эксплуатации иьщтатора, Индексами h и Ь „.„ обозначены ооответственно наибольшая и наименьшая глубины и ширина дефекта 5.

На боковой поверхности вдоль одной О из образующих Нуюлиндра нанесенашкала, деления которой обозначают толщину разомкнутого слоя в месте нх нанесения.

Поверка приборов с помощью имитатора осуществляется следующим образом.

Преобразователь прибора устанавливается на отметку шкалы, обозначающую ту глубину дефекта, по величине которой должен поверяться прибор. После этого фиксируют показание на шкале пРибора и, сравнивая его с действительным значением глубины дефекта имитатора, определяют точностные . параметры поверяемого прибора.

Данный имитатор позволяет уменьшить погрешность поверки приборов,, так как плавное изменение глубины дефекта делает возможным выбирать те ее значения, которые точно соответствуют требуемым величинам. Выполнение разомкнутого слоя перемен-... ной толщины позволяет создавать многоэначное имитатор-устройство, позволяющее поверять» не одно, а все значения в. диапазоне, определяемом разностью толщины разомкнутого слоя.

Возможность с помощью одного имитатора воспроизводить любые значения глубины дефекта в задаваемом диапазоне измерений освобождает от необходимости изготавливать комплект, состоящий из большого числа имитаторов.

Имитатор для настройки дефектоскопов по авт. св. У 739391, о т л и— ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности и расширения диапазона измеряемых дефектов с помощью одного и того же имитатора, слои цилиндра вдоль продольной оси выполнены переменной толщины, изменяющейся равномерно вдоль. образующей слоев, Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

Авторское свидетельство СССР

9 739391, кл. G 01 и 27/86, 1979 (прототип).

Имитатор для настройки дефектоскопов Имитатор для настройки дефектоскопов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх