Способ определения критическихусловий конденсации веществ натвердой поверхности

О П И С А Н И Е (1) 81964а

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистииеских

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 02.01.79 (21) 2706029/18-25 (51) М. Кл. с присоединением заявки №вЂ”

Q 01 Х 21/55

Гооударствеиный комитет

СССР по делам изобретеиий и открытий (23) Приоритет—

Опубликовано 07.04.81. Бюллетень № 13

Дата опубликования описания 17.04.81 (53) УДК 535.24 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. В. Рыбаков, М. П. Бургасов и А. А. Чиро

Московский ордена Ленина авиационный институт им. Серго Орджоникидзе (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИТИЧЕСКИХ

УСЛОВИЙ КОНДЕНСАЦИИ ВЕЩЕСТВ

НА ТВЕРДОЙ ПОВЕРХНОСТИ

Изобретение относится к исследованию поверхностных свойств с помощью опти. ческих методов путем измерения коэффици ента отражения.

В физике поверхностных явлений известен способ определения критических условий конденсации веществ из парообразного состояния на твердые поверхности, заключающийся в создании постоянного градиента температуры на поверхности, находящейся под воздействием постоянного потока частиц пара и визуальной регистрации места нахождения граничной области между чистой и покрытой конденсатом поверхности (1).

Температура, соответствующая положению граничной области, принимается за критическую.

Недостаток этого способа состоит в том, что он не позволяет получить искомый ре- зультат с достаточной точностью, использовать химически активные с окружающей средой вещества конденсата.

Наиболее близким по технической сущности к заявленному способу является способ определения критических условий конденсации веществ на твердой поверхности, состоящий в помещении исследуемой пары материалов в вакуум, воздействии набегающего молекулярного потока на исследуемую поверхность, облучении поверхности световым излучением от внешнего источника и регистрации изменения его интенсивности (2).

В известном способе создается постоянный градиент температуры на поверхности, и зона появления конденсата на поверхности определяется по изменению прозрачности твердого вещества, температура соответствующая положению граничной области принимается за критическую.

Недостаток данного способа заключается в том, что он не позволяет получить результат для твердых непрозрачных материалов.

Кроме того, определение зоны появления конденсата осуществляется в воздушной атмосфере с помощью микрофотометра, что исключает возможность работы с парами химически активных веществ.

Целью изобретения является определение критических условий конденсации на поверхностях из непрозрачных материалов.

Поставленная цель достигается тем, что, применяя способ определения критических

819645

Формула изобретения условий конденсации веществ на твердой поверхности, состоящем в помещении исследуемой пары материалов в вакуумные условия, воздействии набегающего молекулярного потока на исследуемую поверхность, обучения поверхности световым излучением от внешнего источника и регистрации изменения его интенсивности, поддерживают температуру поверхности постоянной, увеличивают интенсивность набегающего молекулярного потока и определяют критические условия конденсации по изменению интенсивности отраженного света, что отображено на графике.

Способ осуществляется следующим образом.

Исследуемая пара материалов помещается в вакуумные условия. Поверхность нагревается до определенной температуры, которая поддерживается постоянной. Молекулярный поток увеличивающейся интенсивности направляется на исследуемую твердую поверхность, поверхность в месте па20 дения молекулярных частиц освещается внеш ним источником света постоянной интенсивности. При достижении молекулярным потоком критического значения на поверхности начинает образовываться конденсат, который своим появлением изменяет интенсивность света, отраженного поверхностью в выбранном направлении.

При проведении эксперимента одновременно, дискретно или непрерывно измеряются интенсивности падающего на поверхность З0 молекулярного потока и отраженного от поверхности света. Момент начала изменения интенсивности отраженного света фиксируется. Величина удельного молекулярного потока, достигаемая к этому моменту, принимается за критическую. Эксперименты проводятся для нескольких значений температуры поверхности, в результате чего получается определенная зависимость между температурой поверхности и величиной удель ного критического потока молекулярных час- 40 тиц для данной пары материалов.

На чертеже представлен график зависимостей от времени t удельного потока мо6;7 лекулярных частиц G и интенсивности отраженного от поверхности твердого тела света I, а также отмечет момент времени t, когда начинается изменение 1, что соответствует достижению потоком молекулярных частиц критической величины G<.

Использование предлагаемого способа on ределения критических условий конденсации веществ на твердой поверхности обеспечивает возможность получения искомого результата для непрозрачных твердых поверхностей и для веществ химически активных с окружающей средой, существенно сокраlllàåòñÿ время проведения измерений, так как для получения искомого результата не требуется выносить исследуемую поверхность из вакуумных условий.

Способ определения критических условий конденсации веществ на твердой поверхности, состоящий в помещении исследуемой пары материалов в вакуум, воздействии набегающего молекулярного потока на исследуемую поверхность, облучении поверхности световым излучением от внешнего источника и регистрации изменения его интенсивности, отличающийся тем, что, с целью определения критических условий конденсации на поверхностях из непрозрачных материалов, поддерживают температуру поверхности постоянной, увеличивают интенсивности набегающего молекулярного потока и определяют критические условия конденсации по изменению интенсивности отраженного света.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.1. Chariton und N. Semenoff «Uber die

kritische Temperature bei der condensation

von Netl1dampfei» Zeitschift fur Physik

Bd 25, р. 287, 1924.

2. Палатник Л. С. и Комник Ю. Ф. К вопросу о механизме конденсации металлов в вакууме. ДАН СССР т. 124, 1959 с. 808.

ВНИИПИ Заказ 290/20

Тираж 907 Подписное

Филиал ППП кПатент>, г. Ужгород, ул. Проектная, 4