Патент ссср 411356
4 н
О П 4Ф
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”
Заявлено 27.XII.1971 (№ 1729256/26-25) с присоединением ваяли №вЂ”
Приор,итет
Опубликовано 15,1.1974. Бюллетень № 2
Дата опубликования описания 15.V.1974
М. Кл. G 010 21!48
G 02Ь 17/06 Государственный камитет
Совет& Министров СССР но делам изобретений и открытий
УДК 535.8(088.8) Авторы изобретения
В. Н. Волков и В. А. Порозов
Заявитель
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ
КОЭФФИЦИЕНТА ОТРА)КЕНИЯ у У„р
Изобретение относится к области прикладной оптики.
Известны устройства для измерения коэффициента отражения полированной поверхности или покрытия на полированной поверх- 5 ности абсолютным методом, в которых одно зеркало сделано подвижным. Однако при использовании таких устройств при повороте зеркала световое пятно на нем меняет свое положение, т. е. происходит зеркальный по- 10 ворот пятна, на фотоприемнике также происходит зеркальный поворот пятна, кроме того, используется однократное отражение от исследуемой поверхности. Все это снижает точность измерения коэффициента отражения. 15
Для повышения точности измерения в предлагаемом устройстве отражатель состоит из четного количества зеркал и ось его поворота перпендикулярна плоскости, проходящей через падающий на отражатель и выходящий 20 из него луч.
На чертеже показано описываемое устройство, включающее луч света 1, уголковый отражатель 2, исследуемую деталь 3 и фотоприемник 4. 25
Направление движения луча показано стрелками, а направление поворота отражателя показано двойной стрелкой.
Луч. света 1 от источника света, например
ОКГ, падает на одно зеркало отражателя 2, 30 находящегося в положении 1, отражается на второе зеркало и попадает на фотоприемник.
Так происходит измерение падающей световой энергии, при этом исследуемая деталь 3 отсутствует. Затем на пути луча помещается исследуемая деталь, а уголковый отражатель
2 поворачивают в положение 11. Поворот отражателя происходит в плоскости чертежа.
Луч света отражается от поверхности исследуемой детали 3, падает,на уголковый отражатель 2, отражается от его двух зеркал и вторично падает на исследуемую деталь в ту же точку, от которой происходило первое отражение, но под другим углом падения.
После вторичного отражения от исследуемой детали луч света попадает на фотоприемник
4. Происходит измерение отраженной световой энергии. Коэффициент отражения исследуемой поверхности определяется по формуле где 1„ — падающая световая энергия;
1„р — отраженная световая энергия.
При такой схеме и при углах падения светового луча, меньших 10, описанное устройство свободно от указанных выше недостатков. Для существенного повышения точности измерения можно использовать не один угол411356
Предмет изобретения
Составитель А. Шеломова
Техред Л. Богданова
Редактор И. Шубина
Корректор Л. Орлова
Заказ 1102/8 Изд. № 1178 Тираж 651 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Мияыстров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-35, Раушская каб., д. 4/5
Тилографиа, пр. Сапунова, 2 ковый отражатель, а несколько, из которых часть неподвижна, а другая закреплена на подвижном основании.
Устройство для измерения коэффициента отражения абсолютным методом, содержащее отражатель; выполненный из зеркал, жестко связанных между собой и расположенных нод определенным углом друг к другу, источник света, образец и фотоприемник, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, отражатеЛЬ состоит из четного количества зеркал и ось его поворота перпендикулярна плоскости, проходящей через падающий на отражатель и выходящий из него луч.
