Способ обнаружения дефектов клеевого соединения
О П И С А Н И Е () 723442
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советски к
Социапистическин
Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 24. 1 1.78 (21) 2688734/18-25 с присоединением заявки М (23)Приоритет
Опубликовано 25.03.80. Бюллетень ¹ 1 1 (5! )М. Кд.
С 01 t4 25/72 йвудврстнвнны4 кемнтет
СССР йе янам нзебретсннй н вткрмтнй (53) УДК536.6 (088.8) Дата опубликования описания 28.03.80 (72) Авторы изобретения
В. А. Барминов и Л. Г. Зорина (7!) Заявитель (54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ
КЛЕЕВОГО СОЕДИНЕНИЯ
Изобретение относится к приборостроению, преимущественно точному, и может быть использовано для обнаружения дефектов клеевого соединения иэделий с тонкой обшивкой.
Известен способ обнаружения дефек— тов клеевого соединения, заключающийся в последовательном вакуумировании изделий при температуре, превышающей на
10-100 К температуру стеклования поо
10 лимерной основы клея или изделия, охлаждении до исходной температуры и фиксации величины вспучивания участков поверхности (1) .
Недостатком этого способа является опадение выявленных при вакуумировании вспучиваний диаметром более 20 мм при охлаждении изделий и невозможность фиксации дефектов.
Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ обнаружения дефектов клеевого соединения, заключающийся в последовательном вакуумированни изделий при температуре, превышающей на 10-100 К температуру стеклования полимерной основы клея или изделия, охлаждении под вакуумом до исходной температуры и фиксации величины вспучивания участков поверхности P) .
Однако при данном способе обнаружения дефектов затрачивается много времени на обнаружение дефектов вследствие охлаждения иэделия под вакуумом до исходной температуры.
Целью изобретения является ускорение процесса дефектоскопии.
Для этого изделие охле кдают под вае куумом до температуры на 10-20 К ниже темепратуры стеклования полимерной основы клея или изделия, а окончательное охлаждение до исходной температуры проводят при. атмосферном давлении.
Ускорение процесса дсфектоскопии достигается тем, что вакуумировацие иэделия происходит прн в1 (сокоэластичес ком состоянии полимерной основы клея или изделия, при этом достигаетсл полная де42 4
20 мм на изделиях сложной конфигурации с любой кривизной поверхности. Способ позволяет определить дефекты на краях изделия.
3 7234 формация тонкой детали. Вакуумирование прекращается при такой температуре, при которой полимер перешел в стеклообразное состояние, а конфигурация дефекта сохраняется вследствие релаксационных свойств полимеров. Изделие извлекается из вакуумной камеры, дефектное место фиксируется визуальными, оптическими и инструментальными методами. Оконча— тельное охлаждение изделия до исходной 10 температуры происходит вне вакуумной камеры при атмосферном давлении. Время проведения процесса дефектоскопии занимает 2 — 3 ч.
Пример . Проводят вакуумирование двух изделий с обшивкой из фольгированного стеклопластика, склеенных эпоксиполиамидным,клеем с температурой стеклования 333 К, в которых искус-, ственно созданы дефекты диаметром 25мм/О по следующему режиму:
Остаточное давление, 1,33 Па
Температура 373 К
Время 2 ч
Одно изделие охлаждают под вакуумом до исходной температуры 4 ч, другое— о до температуры 318 К в течение 1 ч.
B том и другом случае конфигурация дефекта сохраняется, но значительно сокращается время проведения процесса З0 дефектоско пни.
Предлагаемым способом могут быть обнаружены дефекты диаметром более
Формул а изобретения
Способ обнаружения дефектов клеевого соединения, заключающийся в последовательном вакуумировании при температуре, превышающей на 10-100 К
О температуру стеклования полимерной основы клея или изделия, охлаждении изделия до исходной температуры и фиксации величины вспучивания участков поверхности, отличающийся тем, что, с целью .ускорения процесса дефектоскопии, изделие охлаждают под вакуумом до температуры на 10-20 К о ниже температуры стеклования полимерной основы клея или иэделия, а окончательное охлаждение до исходной температуры проводят при атмосферном давлении.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Авторское свидетельство СССР
¹ 562760, кл. С 01 N 25/72, 1976.
2. Авторское свидетельство СССР по заявке № 2572508/25, кл, G015 25/72, 1978 (прототип).
Составитель С. Беловодченко
Редактор Т. Клюкина Техред Н, Бабурка Корректор Ю. Макаренко
Заказ 417/33 Тираж 10 19 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

