Способ тепловой дефектоскопии изделий
АНЙ п 5468I3
ОПИС Е
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 11.09.74 (21) 2059008/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет
Опубликовано 15.02.77. Бюллетень ¹ 6
Дата опубликования описания 03.03.77 (51) М. Кл."- G 01N 25/72
Государственный комитет
Совета Министров СССР ло делам изобретений и открытий (53) УДК 621.791.1 (088.8) (72) Авторы изобретения
Ю. А. Попов и А. E. Карпельсон (71) Заявитель (54) СПОСОБ ТЕПЛОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ИЗДЕЛИЙ
Изобретение относится к тепловой дефектоскопии изделий.
Известен способ тепловой дефектоскопии изделий, заключающийся в нагреве поверхности изделия и последующей регистрации температурного распределения нагреваемой поверхности (17. Местоположение дефекта находят по виду полученного температурного рельефа.
Этот способ не позволяет исключить влияние излучательной способности поверхности изделия, что снижает точность измерений.
С целью повышения точности измерений по предлагаемому способу изделие нагревают сначала с одной, а затем, после его остывания, с противоположной поверхности, причем каждый раз регистрируют распределение температуры одной и той же поверхности, после чего сравнивают полученные распределения температуры, по которой судят о местоположении дефекта.
На фиг. 1 изображен процесс контроля; на фиг. 2 и 3 — температурные распределения вдоль линии сканирования.
Изделие с поверхностями А и Б и с дефектом Д в виде расслоения (см. фиг. 1) нагревается источником тепловой энергии с поверхности А, а радиометр измеряет температуру поверхности А. На фиг. 2 изображено распределение температуры Т на поверхности А вдоль линии сканирования (Х) этой поверхности радиометром через некоторое время после начала нагрева. На фпг. 3 изображено распределение температуры Т вдоль той же линии сканирования (Х), что и на фиг. 2, «о уже при нагревании образца со стороны поверхности Б, после того, как он остынет после первого нагревания. Участок а на фиг. 2 и 3 соответствует области поверхности над де10 фектом, участки 0 и в — областям поверхности с изменением коэффициента излучения как в большую, так и в меньшую сторону. На участке а (см. фпг. 2) уровень выходного сигнала радиометра выше, чем на бездефектных
15 участках, однако наличие помех из-за изменения величины коэффициента излучения на поверхности А не позволяет сразу выявить дефект по повышеншо уровня сигнала. Кривая температурного распределения на фиг. 3 пме20 ет тот же впд, что и на фиг. 2 на всех участках, кроме области дефекта. Температура на этом участке (а на фиг. 3) ниже, чем на бездефектных участках. Сравнение двух полученных кривы.;. (см. фиг. 2 и 3) позволяет
25 установить, что на участке, где они не совпадают (участок а), имеет место особенность в изделии (в данном случае — расслоение), а на участках б и в — изменение коэффициента излучения поверхности. Аналогичные резуль30 таты дает применение данного способа прп
54fiN13
Р((г, f
W(.(e. 2 фиг. 5
Составитель С. Беловодченко
Редактор Т. Логинова Техред А. Галахова Корректор Н. Аук
Заказ 244.(13 Изд. № 205 Тира>к 1054 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, >К-35, Раушская наб., д. 4 5
Типография, пр. Сапунова, 2 регистрации температурим>го распределения поверхности изделия при помощи тепловизора.
Формула изобретения
Способ тепловой дефектоскопии изделий, заключающийся в нагреве поверхности изделия и последующей регистрации температурного распределения нагреваемой поверхности, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, изделие иагревают сначала с одной, а затем, после е1о остывания, с противоположной поверхности, причем каждый раз регистрируют распределение температуры одной и той же поверхно5 сти, после чего сравнивают полученные распределения температуры, по которой судят о местополо>кении дефекта.
Источник информации, принятый во внимание при экспертизе:
10 1. Статья Н. Л. Бекешко в ж. «Дефектоскопия» № 5, 1975 г. (прототип).
