Образец для определения модуля упругости слоев многослойного материала

Авторы патента:

G01N3/40 - исследование твердости или упругой твердости

G01N1/28 - Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D 1/00;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание

...+1c

О П И C- -ж-:й-"ВИЗОЬРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик (и 702263

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(5E)M. Кл. (22) Заявлено 12,01.73 (2() 1874020/25 28

6 01 т(1/28//

Е 01 Н З/гО с присоединением заявки РЙ (23) Прнори гетйвударстаеай комитат

СССР вв делам кзааратанвк н атармтв1

Опубликовано 05.12.79. Бюллетень,%45 (5З) ЛК620.174. . 22 (088. 8) Дата опубликования описания 07.12,79 (72) А вторы изобретения

Л.. A. Ярошевская и I . И. Силаева

Научно-исследовательский и конструкторско-технологический институт эмалированного химического оборудования (7I) Заявитель (54) ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ

СЛОЕВ МНОГОСЛОЙНОГО МАТЕРИАЛА

Изобретение относится к испытаниям материалов, и может быть использовано для определения упругих свойств многослойных материалов, в частчости многослойных покрытий.

Известен образец для определения мо% дуля упругости слоев многослойного материала, например стеклоэмвлевого покрытия, содержащий подложку из материала, принятого на основу, и слоев материала, размещенных нв части поверхности подложки (1).

Однако такой образец не обеспечивает достаточной точности определения модуля упругости слоев многослойного материала, т. к. для определения указанной xaparòeристики требуется испытать образец в ко.. личестве, равном числу слоев покрытия.

Цель изобретения вЂ” повышение тьчноц зв ги и ускорение испытаний.

Указанная цель достигается за счет того, что слои материала расположены ступенчато, . He чертеже изображен образец с трехслойным покрытием, нагружаемый по схеме чистого изгиба.

Образец включает подложку 1 и слои

2-4 материала, расположенные ступенчато. Нв подложку 1 и слои материала наклеены тензорезисторы 5.

Испытание образца происходит следующим обр азом

При изгибе образца замеряют относительные деформации поверхностей подложки 1 и слоев. 2-4- материала.

По геометрическим параметрам образ- ца и измеренным с помощью тенэореэисторов 5 деформациям подсчитывают мо дуль упругости подложки и слоев матери вл в. Ступенчатое расположение слоев материала обеспечивает определение модуля . упругости слоев многослойного материала на одном образце, благодаря чему повышв ется точность и сокращается время испытания.

Источники информапии, принятые во внимание при експержэе . Авторское свидетельство СССР

34 219855, кл. б 01 Й 3/40..о

Составитель В. Рыкова

Редактор A. Семенова Техреду, Ковалева Корректор В. Бутяга

Заказ 7579/40 ираж 1073 Подписное

UHHHI1H Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раущская наб., д. 4/5

Филиал ППП . Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

3,, .. .-". 702263 4 Ш о р м у в в и в е 6 p s т. у4 4 я т: вы(йовышвння тотнооти и у<широнин но» и мтайий, слои материала расположены сту

j- Ф оразеп для определения модуля упру- пенчато. гости сикоев многослойного матерйала, содержащий подложку из материалав принятого за основу, и слоев материала, размещенных на части поверхности подложки, 6 т и и ч а в шийся тем, что, с пе