Способ измерения параметров угловой модуляции оптического излучения

Авторы патента:

ПОПОВ ЛЕВ НИКОЛАЕВИЧ

G01B9/02 - интерферометры

ь. - -:

ОПИС НИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

, 1,645020

Союз Советова

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт, свид-ву (22) Заявлено 09.03.76 (21) 2332667/18-25 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет (51) М. Кл.

G 01В 9/02

1осударствеиный комитет

Совета Министров СССР йо дедам изобретений и открытий (43) Опубликовано 30.01.79. Бюллетень № 4 (53) УДК 535.8(088.8) (45) Дата опубликования описания 30.01.79 (72) Автор изобретения

Л. Н. Попов (71) Заявитель Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ УГЛОВОЙ

МОДУЛЯЦИИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Изобретение относится к оптико-интерференционным способам измерения и может оыть использовано для измерения параметров частотной и фазовой модуляции когерентных источников света в широком диапазоне длин волн.

Известны способы измерения параметров модуляции источников света, которые основаны на использовании явления интерференции света, преобразовании угловой модуляции в амплитудную и измерении параметров угловой модуляции по глубине амплитудной модуляции.

К основным недостаткам известных способов относится невозможность проведения измерений в диапазоне высоких и сверхвысоких частот ввиду отсутствия соответствующих фотоприемников.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату является способ определения параметров угловой модуляции оптического излучения, основанный на его подаче B интер рерометр, изменении разности хода лучей в интерферометре и измерении параметров излучения на выходе для модулированного и пемодулированного излучений.

Недостатком этого способа являются его низкие точность и быстродействие измерсний, которые обусловлены флюктуациями интенсивности оптического излучения и низкой помехоустойчивостью применяемых устройств.

Целью изобретения является повышение точности и быстродействия измерений параметров угловой модуляции оптического излучения.

Указанная цель достигается тем, что изменение разности хода осуществляют по периодическому закону с амплитудой сканирования больше длины волны излучения, определяют глубины амплитудной модуляции основной частоты сканирования и по их значениям находят параметры угловой модуляции.

На чертеже изображено устройство для реализации способа.

Устройство содержит светоделительные кубики 1 и 2, поворотную призму 3 с отражающим покрытием 4, держатель 5. призмы

3, установленный на пьезоэлементе 6, генератор периодических сигналов 7, фотоприемник 8, измеритель глубины модуляции 9 и диафрагму 10.

Устройство работает следующим образом.

Входное излучение подается на кубик 1 и делится на два луча, один из которых проходит кубик 1, отражательную призму 3 и поступает на кубик 2. Другой луч, отражаясь от кубика 1, также поступает на ку64502О

Формула изобретейия

m = mplp sin

/21Ь Ото

Я 2 ) : mОl 2 3 81п 11, 2 /

Составитель А. Медведев

Техред А. Камышникова

Редактор Н. Коляда

Корректоры: Л. Котова и 3. Тарасова

Заказ 2628/5 Изд. № 127 Тираж 865 Подписное

НПО Государственного комитета СССР по делаМ изобретений и открытий

113035, Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

3 бик 2. Оба луча на выходе кубика 2 складываются и интерферируют Меж у сббой.

При подаче напряжения бт генератора 7 на пьезоэлемент 6 осуществляется движение призмы 3 и сканирование разности хода по периодическому закону. При подаче на вход интерферометра немодулированного излучения и осуществлении сканирования разности хода с амплитудой, больШей длины волны излучения, излучение на выходе устройства оказывается промодулированным по амплитуде с основной частотой сканирования. Измерителем модуляции 9 измеряют глубину амплитудной модуляции на частоте сканирования то выходного излучения. Затем на вход интерферометра подают исследуемое оптическое излучение с угловой модуляцией частоты О, девиацией частоты Av и индексом модуляции р. Измеряют глубину ж амплитудной модуляции этого излучения на выходе интерферометра и по измеренным значениям тн,м,д и тмод параметры модуляции Л и р вычисляют из соотношения

4 где /з вЂ” функция Бесселя нулевого порядка; то вЂ” йачальная разность хбда лучей, определясмая настройкой интерферометра.

Изобретение обеспечивает увеличение точности; быстродействие ИзМерений по крайней мере на порядок по сравнейию с известными способами.

Способ измерения параметров угловой модуляции оптИческого излучения, основан15 ный íà его подаче в интерфероМетр, изМенении рйзйостИ хода лучей в интерферометре и измерении параметров излучения на выходе для модулироьанного и немодулированного излучений, отличающийся

20 тем, что, с целью повышения точности и быстродействия измерений, изменение разности хода осуществляют по перИодическбму закону с амплитудой сканирования, большей длины волны излучения, опреде25 ля1от глубинь1 амг1литудной модуляции основной частоты сканирования и по их значениям находят параметры угловой модуляции.

Похожие патенты:

Способ дефектоскопии // 642606

Привод подвижного зеркала интерферометра // 641273

Поляризационный интерферометр // 635395

Способ калибровки шкалы длин волн сканирующего интерферометра // 634092

Интерферометр для исследования качества оптических элементов и прозрачных неоднородностей // 625132

Поляризационный интерферометр переменного сдвига // 619787

Голографический интерферометр // 607460

Интерференционный датчик контроля линейного перемещения // 606097

Интерферометр // 603840

Интерференционный способ измерения величины линейных и угловых перемещений // 599158

Двухлучевой интерферометр для измерения показателя преломления изотропных и анизотропных материалов // 2102700

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Звездный интерферометр майкельсона // 2103662

Устройство для автоматизированного измерения угловых величин // 2112208

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры

Интерферометр для контроля формы поверхности выпуклых гиперболических зеркал // 2114390

Устройство для записи голографических интерферограмм // 2119644

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Устройство для измерения поверхностных характеристик // 2124701

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Способ обработки сигнала кольцевого интерферометра волоконно-оптического гироскопа (варианты) // 2130587

Изобретение относится к области волоконной оптики и может быть использовано при конструировании электронного блока обработки информации волоконно-оптического гироскопа, а также других датчиков физических величин на основе кольцевого интерферометра

Интерферометр перемещения // 2139496

Изобретение относится к интерферометрам и может быть использовано для абсолютного измерения линейной длины отрезков

Микрорезонаторный волоконно-оптический датчик концентрации газов // 2142114

Изобретение относится к волоконно-оптическим автоколебательным системам на основе микромеханического резонатора, возбуждаемого светом, и может быть использовано в системах измерения различных физических величин, например, концентрации газов, температуры, давления и др

Способ измерения квазипериода дифракционного распределения излучения от узкой щели // 2145054

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в скоростных дифрактометрах