Устройство для подачи мелких деталей
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик (ii)562884 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 2,1.04.75 (21) 2127038/25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (43) Опубликовано 25.06.77. Бюллетень ¹ 23 (45) Дата опубликования описания 19.10.77 (51)М Кл H 01 L 21/68
Государственный комитет
Совета Министров СССР (53) УДК 621.382 (088.8) ао делам изобретений и открытий (72) Авторы изобретения (71) Заявитель
Н. И. Никулин (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОДАЧИ МЕЛКИХ
ДЕТАЛЕЙ
Изобретение относится к полупроводниковому производству и может применяться для подачи мелких деталей, например полупроводниковых кристаллов на операциях напайки их на но ики приборов, разбраковки, перегрузки в кассеты.
Известны устройства для подачи мелких деталей с использованием вакуумных присосок (1).
Известно устройство для подачи мелких деталей, в частности полупроводниковых кристаллов с предварительно растянутой эластичной липкой пленки, содержащее вакуумную присоску, выталкиватель со сферической рабочей поверхностью и прижимной элемент, выполненный в виде неподвижного кольцевого вакуумного присоса, относительно которого перемещается подложечка с кристаллами в горизонтальной плоскости. При этом поперечное сечение отверстия в вакуумном присосе представляет собой круг, на площади которого размещается несколько кристаллов (2).
Недостатком известных устройств являетея нарушение ориентации кристалла в процессе подъема его выталкивателем, так как кристалл в процессе деформации эластичной
:пленки не поддерживается прижимным элементом.
Цель изобретения — предотвращени= нарушения ориентации деталей.
Поставленная цель достигается тем, что прижимной элемент выполнен в виде соединенной с приводом возвратно-поступательного движения рамки с отверстием по форме кристалла, снабженной фланцем, высота которого превышает толщину кристалла на 03—
0,5 лти.
На чертеже схематически изображено предлагаемое устройство, общий вид.
Устройство для подачи мелких деталей содержит инструмент-присоску 1, выталкиватель 2, рамку 8 с отверстием 4 и фланцем
5, электромагнит б, пружину 7 и кассету 8 с эластичной липкой пленкой 9, на которой уложены детали, например полупроводниковые кристаллы 10. На рабочей части инструмента-присоски 1 имеется гнездо 11, соединенное с вакуумной системой (на чертеже не показана) каналом 12.
20 Устройство работает еледующим образом.
Рамка 3 под действием электромагнита б опускается в крайнее нижнее положение, при этом фланец 5 прижимает эластичную лип.кую пленку 9 к основанию кассеты 8, а полу23 проводниковый кр".ñòàëë 10 оказывается в отверстии 4 рамки 8, выполненном по форме кристалла. Зат=м выталкиватель 2 поднимается вверх, прокалывает эластичную липкую пленку 9 и отделяет кристалл 10 от пленки. Подключенный к вакуумной сети пнстру562884
Составитель Ю. Цветков
Текред В. Рыбакова
Корректор И. Симкина
Редактор О. Степина
Заказ 538/1430 Изд. Ов 77 Тираж 995 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Я-35, Раушская наб., д. 4/5
Тип. Харьк. фил. пред. «Патент» мент-присоска опускается вниз, забирает кристалл 10 и переносит его на позицию напайки.
После этого электромагнит отключается, рамка 8 под действием пружины 7 поднимается вверх, кассета 8, перемещаясь, подает под рамочку 3 очередной кристалл, и цикл работы повторяется.
Устройство исключает возможность нарушения ориентации кристаллов в процессе их отделения от эластичной липкой пленки и позволяет забирать кристаллы горячим инструментом-присоской. При этом исключается загрязнение кристаллов и обеспечивается их надежное отделение от эластичной липкой пленки.
Формула изобретения
Устройство для подачи мелких деталей, в частности полупроводниковых кристаллов с эластичной ли пкой пленки, содержащее инструмент-присоску, выталкиватель и прижимной элемент, отл и ч а ю щеес я тем, что, с
5 целью предотвращения нарушения ориентации деталей, прижимной элемент выполнен в виде соединенной с приводом возвратно-поступательного движения рамки с отверстием по форме кристалла, снабженной фланцем, высо10 та которого превышает толщину кристалла на 0,30,5 лл.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе.
1. Патент Великобритании № 1309990, кл. В 3 R, 1969.
2. Авторское свидетельство СССР
¹ 401270,,кл. Н 01 1 7/68, 1970.

