Способ определения давления остаточных газов в отпаянных жалюзийных фэу и диссекторах

 

()), 1

ОПИСАНИЕ

ИЗО6РЕТЕН ИЯ » 47406l

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 13.12.72 (21) 1856127/26-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл. Н 011 9/42

Гасударственный намитет

Сввета Министров СССР па делам изобретений и атнрмтий (53) УДК 531.788 (088.8) Опубликовано 14.06.75. Бюллетень ¹ 22 . I

Дата опубликования отгпсання 20.01.76 (72) Авторы изобретения

P. И. Багдуев и А. В. Малков (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДАВЛЕНИЯ ОСТАТОЧНЫХ

ГАЗОВ В ОТПАЯННЫХ ЖАЛЮЗИЙНЫХ ФЭУ

И ДИССЕКТОРАХ

1„li — 1, 1

1,D

I,,—

Иобретение относится к способам определения давления остаточных газов в отпаянных фотоэлектронных умножителях (ФЭУ) и диссекторах с жалюзийпой умножительной сис темой.

Известен ионизационный способ определения давления остаточных газов в овпаянных электро-вакуумных приборах, имеющих не менее трех электродов.

Однако создание ионизационного режима в области первых диподов не дает необходимую чувствительность из-за малой величины электронного тока и малого расстояния между дшьодами, а при измерении с использованием последних электродов в жалюзий ых

ФЭУ имеет место существенное влияние пролетных электронов, приводящих к резкому снижению точности.

Для исключения попадания пролетных электронов с высокой энергией на последний динод по предлагаемому способу межкаскадное напряжение на нескольких, например четырех, предпоследних динодах, устанавливают в два раза меньше межкаокадного напряжения предыдущих .динодов, а отношения величин напряжения на фотокатоде, аноде и по следнем диноде к величине напряжения на предпоследнем диноде устанавливают равным

3,3:1:1 соответственно.

На чертеже представлена принципиальная схема измерения давления остаточHbIx газов в отпаянных ФЭУ по предлагаемому способу.

Между фотокатодом 1 и предпоследним динодом 2 измеряемого ФЭУ подается напряжение Uo, распределение которого между динодами 3 ясно из схемы. На анод 4 подается положительное напряжение U,, относительно предпоследнего динода 2, а на последний дипод 5 — отрицательное напряжение, достац точное для отражения пролевпых электронов. регулировкой светового потока, падающего на фотокатод, устанавливают выбранное постоянное значение анодного тока. Электроны пролетая с предпоследнего динода 2 ыча анод 4, производят ионизацию молекул остато нных газов. Образующиеся положительные ионы собираются на посчедний дипод, в цепи которого измеряется ионный ток. Давление остаточных газов в отпаян ных ФЭУ определяется по формуле: чувствительность системы и режи.ма; ток в цепи последнего динода в процессе ионизации; ток в той же цепи без электронного тока;

474061

Предмет изобретения

Составитель Н. Ефремова

Текред T. Миронова

Корректор Е. Рожкова

Редактор И. Шубина

Заказ 5997 Изд. № 1510 Тираж 833 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Миннстроз СССР по делам изобретений и открытий

Москва, K-35, Раушскаи наб., д, 4/5

МОТ, Загорский филиал

1, — выбранный постоянный по величине электронный ток;

1,- — ионная составляющая тока.

Распределение напряжений на электродах

ФЭУ подобрано иа условия максимального подавления паразитных токов не ионного происхождения в цепи последнего динода, Способ определения давления остаточных газов в отпаянных жалюзийных ФЭУ и дис4 секторах Hoíèçàöионным методом, отлича о бийся тем, что, с целью исключения попадания пролетных электронов с высокой энергией на последний динод, межкаскадное напряжение на нескольких, например четырех, предпоследних динодах, устанавливают в два раза меньше межкаскадного напряжения предыдущих динодов, а опношения величин напряжения на фотокатоде, аноде и последнем

Го диноде к,величине напряжения на предпоследнем диноде устанавливают равным 3,3:1:1 .соответственно.

Способ определения давления остаточных газов в отпаянных жалюзийных фэу и диссекторах Способ определения давления остаточных газов в отпаянных жалюзийных фэу и диссекторах 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к испытаниям электровакуумных приборов, в частности к электрическим испытаниям высоковольтных мощных титронов в импульсных квазидинамических режимах, и может найти применение при разработке и производстве мощных электровакуумных приборов

Изобретение относится к контролю характеристик электровакуумных приборов и может быть использовано при разработках и производстве вакуумных катодолюминесцентных индикаторов и люминофоров

Изобретение относится к микроэлектронике, измерительной технике, может быть использовано при производстве, проектировании электролюминесцентных индикаторов (ЭЛИ), а также их научных исследованиях

Изобретение относится к области квантовой электроники, в частности к газоразрядным лазерам

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при производстве вакуумных люминесцентных индикаторов (ВЛИ) и люминесцентных материалов

Изобретение относится к электротехнической промышленности, в частности к производству разрядных ламп

Изобретение относится к области электротехники, а именно к устройствам для испытания электровакуумных приборов

Изобретение относится к области электронной техники и приборостроения, в частности к способам контроля термоэмиссионного состояния поверхностно-ионизационных термоэмиттеров ионов органических соединений, используемых для селективной ионизации молекул органических соединений в условиях атмосферы воздуха в газоанализаторах типа хроматографов и дрейф-спектрометров

Изобретение относится к области проведения испытаний приборов и может быть использовано при изготовлении мощных генераторных ламп
Наверх