Устройство для измерения нелинейности отклонения луча в электроннолучевых трубках

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЙТЙЛЬСТВУ (11), 441611

Своз Советских

С оциалистимеских

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства— (51) М Кл.

Н 0 Э/М (22) Заявлено 07.08.72 (21) 1816746/ с присоединением заявки- /26 25 (32) Приоритет—

Опубликовано ®0<74 Бюллетень №32 (45) .Дата опубликования описания I5. I2.74Гасударственный иамитет

Совета Министров СССР ао далем нзаоретвний н отирытнЙ (53) УЙК

621.3.087.352 (088.8) (72) Авторы изобретения

К.С,Глиненко, З.Д.Грицкив и А.Д.Педан (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НЕЛИНЕИИОСТИ ОТКЛОНЕНИЯ ЛУЧА В

ЭЛЕКТРОННЫХ ТРУБКАХ

Цель достигается тем, что в предлагаемом устройстве оптическая проекционная система выполнена в виде объектива с переменным фокусs дым р а с ст о я н и е м, управляющий элемент.которого связан с шкалой коэффициентов оптического увеличения, непосредственно используемых для определения коэффициента нелиней1ц ности. Предлагаемое устройство позволяет точно установить коэффициент увеличения оптической системы при использовании комбинационного растра, чем обуславливается повы,5 шение точности измерения нелинейности отклонения электронного луча.

Трудоемкость измерений снижается за счет устранения необходимости детального обмера всего растра в поисках минимального и максимального значениИ расчетных величин.

На чертеже изображено предлагаемое устройство, аксонометрия.

Устройство содержит регулярный механический растр I, нанесенный

I на матированное стекло и располоИзобретение относится к области измерения параметров электроннолучевых трубок и аппаратуре с их применением.

Известно устройство для измерения нелинейности отклонения электронного луча в электроннолучевых трубках, состоящее из оптической проекционной системы и регулярного механического растра аналогичного измеряемому растру. Для контроля величины нелинейности в устройстве используется комбинационный растр, образующийся при сопряжении исследуемого растра трубки с аналогичным регулярным механическим растром.

Это устройство позволяет осуществлять оперативный контроль нелинейности по всему исследуемому полю экрана трубки, однако не дает возможности определить ее точное численное значение. йель изобретения - повышение точности, скорости и удобства изме рения нелинейности отклонения луча.

Львовский ордена Ленина политехнический институт

44 женный на определенном расстоянии от объектива 2 с переменным фокусным расстоянием. Шкала 3 значений коэффициента оптического увеличения связана с управляющим элементом обьектива - указателем 4.

Электроннолучевая трубка 5 с исследуемым растром 6 располагается на определенном расстоянии от устройства нормально к его оптическои оси. Устройство работает следующим образом. Исследуемый растр проецируется с некоторым коэйфициентом увеличения, определяемым положением управляющего элемента объектива, на механический растр, сориентированный соответственно исследуемому. При сопряжении обоих растров образуются комбинационные полосы, которые в местах равенства шагов йроекции исследуемого и механического растров имеют характерные признаки муарового или обтюрационного сопряжения: в первом случае комбинационные йолосы располагаются перпепдикулярно к биссектрисе угла между растрами, во второмвсе поле данного участка однородно по плотности. Если, напрааер, М» — шаг механического растра, а — шаг исследуемого растра, то упомянутое сопряжение, будет йметь место при % = К р, где Ккоэурициент увеличения оптической системы. Если исследуемый растр нелинеен, то в различных его участках имеются различные значения величин Н, в частности й2 » »» » и

gg aм . Для получения в этих участках муарового или обтюрационного сопряжения необходимо изменить коэффипиент увеличения проекционной системы таким образом, чтобы выполнялись равенства ф = k хасс У А4» »

Известна формула для определения коэффициента нелинейности -2ь Р . 01, 2»»й» + L которая после подстановки дает о/

К.иа» с yK»»»»»

Таким образом, отсчитав по шкале значения наибольшего и наименьшего коэффициента увеличения, при которых возникли муаровые или обтюрационные сопряжения, можно определить.коэффициент нелинейности растра.

3@v>oe устройство может применяться для измерения нелинеййости отклонения электронного луча в электроннолучевых трубках в диапазоне от сотых долей процента до сотен процентов.

Предмет изобретения зо Устройство для измерения нелинейности отклонения луча в электроннолучевых трубках, состоящее из оптической проекционной системы и регулярного механического раз5 стра, аналогичного измеряемому растру, отличающееся тем, что, с целью йовышения точности, скорости и удобства измерения, оптическая проекционная система выполнена в ю виде объектива с переменным фокусным расстоянием, управляющий элемент которого связан с шкалой коэффициентов оптического увеличения, непосредственно используемых

45 для определения коэффициента нелинейности.

Составитель б. ИИ РО@К И Ий

Рехы ор ИОРЛОВВ те*рее Неайййа Коррех ор ЯД Е 4й ""Рйр

Изд. Иг

Предлрнятне «Патент», Москва, Г-59, Бережковская наб., 24

Заказ Гнраж $gQ Подписное

UHHHllH Государственного комитета Совета Министров СССР ло делам нзобретеннй н открытий

Москва, 113035, Раушская наб., 4

Устройство для измерения нелинейности отклонения луча в электроннолучевых трубках Устройство для измерения нелинейности отклонения луча в электроннолучевых трубках Устройство для измерения нелинейности отклонения луча в электроннолучевых трубках 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к испытаниям электровакуумных приборов, в частности к электрическим испытаниям высоковольтных мощных титронов в импульсных квазидинамических режимах, и может найти применение при разработке и производстве мощных электровакуумных приборов

Изобретение относится к контролю характеристик электровакуумных приборов и может быть использовано при разработках и производстве вакуумных катодолюминесцентных индикаторов и люминофоров

Изобретение относится к микроэлектронике, измерительной технике, может быть использовано при производстве, проектировании электролюминесцентных индикаторов (ЭЛИ), а также их научных исследованиях

Изобретение относится к области квантовой электроники, в частности к газоразрядным лазерам

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при производстве вакуумных люминесцентных индикаторов (ВЛИ) и люминесцентных материалов

Изобретение относится к электротехнической промышленности, в частности к производству разрядных ламп

Изобретение относится к области электротехники, а именно к устройствам для испытания электровакуумных приборов

Изобретение относится к области электронной техники и приборостроения, в частности к способам контроля термоэмиссионного состояния поверхностно-ионизационных термоэмиттеров ионов органических соединений, используемых для селективной ионизации молекул органических соединений в условиях атмосферы воздуха в газоанализаторах типа хроматографов и дрейф-спектрометров

Изобретение относится к области проведения испытаний приборов и может быть использовано при изготовлении мощных генераторных ламп
Наверх