Способ исследования структурных изменений в материалах

 

Я Я

О1! 4 А

Со»эз Советскии

Социалистических республик (11) 45363 9

Ц (Б Р P 7 F, ». И Я

К АВТОРСКОМУ СБИДЕТБЛЬС7 ВУ (61) Дополнительное к азт. свид-ву(22) Заявлено04.08,, 2 (21) 1815726/26-25 (51) M. Кл. (; 01И 2З/00 с присоединением заявки № (23) Прчоритет

Гасударственный комитет

Соввтв Иинистрон СССР оо далем иэо1ретений н открытий (43) Опубликовано25.05.76.Бюллетень ¹ 19

l f i S c L ? l r ë ë t Ï i » | Îi 1 (45) Дата опубликования описания30.09.76 (53) УДК 550.83 5(088.8) (72) Авторы изобретения В. К. Горшков, Л. Н. Львов и В. Q. KBJIBHTBpoB (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРНЫХ ИЗМЕНЕНИЙ

В МАТЕРИАГАХ

Известны способы исследования структурных изменений в материалах, ос1лованные на прэпускании через образцы рентгеновских лучей и нейтронов. В обоих случаях узкий пучок монохроматических излучений пропускают через образец, и пэ дифракционной каэтине от прошедылх из.ученллй опэеделяют . струк"„ "рные изменегля в сбэазце.

О како эти способы ках правило, м=лэчувствительны в случ=-е тои лх образов, осэбеннэ, если последние имеют малую —плотность (например, алюминий толщиной в несколько микрон), что сужает диапазон физических исследований материалов.

Для повышения чувствительнос.=н измере:лия структурных изменений в тэн==лх образUax пэ предлагаемому счособу через %сследуемый материал до и после структурных изменений в нем, пропускают оскол. - -.О ки деления тяжелых ядер, регистрируют их твердотельным каналовым детектэ..эом, например силикатным стеклом, и по»лзменен|лю размеров или плотности -следов, образо — .ихся эт осколков деления на поверх ности детектора р судят о соответствующемм ему структурном изменении в материале.

Предлагаемый способ позволяет наблк дать структурные изменения в любых материалах толщиной от долей дэ нескольких м»крон

Способ был опробован на алюминиевой фоль е толцчнэй около 4 мкм. Известно„ чтэ з процессе изготовления (прокатки)— фэл:ги в ней соз аются структурные нару1денлля, которые, в значительной степени ликвидируются, если фольгу подвергать термическому этжигу. Фольгу исследуют до и пэсле ее отжига. Источником осколков де ления служит спонтанно делящийся изотоп

С„. -252, который наносят на металлическую пластину. Для идентификации осколов деления, прошедших через образец, применяется силикатное стекло. В этом случае относительи|е размеры следов, образовавшихся от осколков деления на пэверхнс(сти стекла, находятся в прямой зависимости эт энергии и величины заряда оскол- ков. Осколки, скэлллмирэваннь е в узкий

Состаз»(тель р р

Корректор, „,(»ейзезмкн

Техред у(Семенов

Редактор 1,:, щ -;, (а

Заказ 6312

Изд.."а -, jjj jj jjfj jj j j осударстве»(ного ко о(тетэ Со, ет. "".»(к((c" :Oз СССР по делая изобрстеии(1 и отк-.ь.ткй

Москва. 1130 5„Раусдскаа и..о., фц.ща» 1(ОД (та ет т ут о",од бд (— »ре;,. л; к пучок,, r(oonyc»0(в течение g час. После облучен-»я стекло травят в плавиковой кислоте. З ка»кдой облуче(1 -»ой зоне стекла в оезультате Irpoмера около 50 следов, образовав(пихся от Я оско»»ков деления, опредепаот средний размер следов. Та»(как в случае, когда осколки 1»ада1»ерпепдикуля адо и поверх»(ост(1 стек»1, все следы от них приобре(ают круглу»о фо му„

ГО 11змере».-.-пе размеров, следов сво, и*. сд к (5 из . (ерени»о, х,-„иаметров. Измепение диамет )o2 проводится биологическим микроскопом, окуляр которого имеет;„.едите»а ную пикапу.

Эксперимент показывает, ««го в результате отжп;. а фольги средний гиаметэ следов !Ю увел»(ч "веется иа 7 о 1«ои то- !-. Ости изме»ое(п(я ме »ее 1%.

Ь икали ичных опытах, но с той рази»(= цей, что вместо термического отжига алюминиевую фол гу подвергают рад»(ацнднному облучению, также наблюдается изменение среднего диаметра следов от осколков деления.

Формула изобретения (:Способ исследования структур»»х измсНЕ»снй В МатарнаааХ ПутЕМ ПрОПуСКаияя излучений через материал и измерения.- параметров грошедших излучен»»й, о т л и= ч а 10 шийся тем, чтo, с целью г,овы« ((»сно»я чувствительности номере : ий ст,зут:турны. изменен ъ и то» них об-.аз :;=;, через ис(следуем. „«й ма-. .: p..>BI(0 и i.-oor,е структурн.;»х изменений в нек;:-„эопус»(а«от оскс:.— -. кл деления т»ьжелых ядер, po«ëoò;çêp/ю

1 и»(0117»r(p»rцгГрука. и;30»»»едние - ос :- 0/и, например, твердоте»:ь»»м :анало«аым детек- то,эом и по кэменени(о параметров осколков

Qyr Ят 0 СОО «ВЕ З«нт»ОП,Д "ТУД"Т У -»Н ; а . менен»1;.-.с в исследуемом об,:.аз-, т»(ръ = 1209 ПСД((,С((ОЕ

Способ исследования структурных изменений в материалах Способ исследования структурных изменений в материалах 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей
Изобретение относится к методам анализа материалов радиационными способами и может быть использовано для определения тяжелых элементов, в том числе и благородных металлов при низких субфоновых их содержаниях в горных породах, рудах и минеральных при поиске, разведке и отработке рудных месторождений

Изобретение относится к неразрушающему контролю с использованием рентгеновского излучения и может быть использовано для контроля материалов и изделий радиационным методом в различных отраслях машиностроения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в горнодобывающей и горноперерабатывающей отрасли народного хозяйства для контроля содержания полезного компонента в горных выработках, массивах, дробленой и измельченной горной массе, преимущественно для руд с неравномерно распределенным полезным компонентом и сложной структурно-текстурной характеристикой

Изобретение относится к технологическому оборудованию и предназначено для разметки границ активного слоя в твэлах в процессе их изготовления
Наверх