Способ рентгенофлуоресцентного анализа

О П И С "А" -Ы И Е

ИЗОЬРЕтЕНИЯ

<п1 45009 9

Свюа Советских

Свциаливтичвских

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 16.10.67 (21) 1191646/26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 15.11.74. Бюллетень № 42

Дата опубликования описания 03.04.75 (51) M. Кл. G 01п 23/22

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.386(088.8) (72) Автор изобретения

В. И. Мурзинов (71) Заявитель (54) СПОСОБ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА

Известен способ рентгенофлуоресцентного анализа состава вещества, заключающийся в том, что измеряют интенсивность характеристического излучения определяемого элемента и элемента сравнения, который в виде подложки помещен вне пробы со стороны, противоположной облучаемой поверхности.

Недостатком известного способа является неполное устранение влияния состава наполнителя на результат анализа, обусловленное отсутствием идентичности условий возбуждения и измерения интенсивностей характеристических излучений определяемого элемента и элемента сравнения, поскольку определяемый элемент равномерно распределен в объеме пробы, а элемент сравнения находится под слоем пробы. Это приводит к тому, что элемент сравнения возбуждается потоком излучения, ослабленным слоем пробы, а его характеристическое излучение регистрируется детектором после прохождения того же слоя про. бы. Вторым недостатком известного способа является необходимость создания постоянной поверхностной плотности пробы, меньшей слоя насыщения для характеристических излучений определяемого элемента и элемента сравнения.

Для повышения точности анализа по предлагаемому способу элемент сравнения в виде тонкой пластины, предпочтительно прозрачной для характеристического излучения определяемого элемента, располагают в объеме пробы под некоторым углом к поверхности пробы так, чтобы один край пластины лежал на уровне поверхности проб, а другой находился на рас5 стоянии от поверхности, несколько превышающем слой насыщения для анализируемого излучения.

На чертеже показана схема расположения в пробе элемента сравнения по предлагаемому

10 способу, Такое расположение элемента сравнения эквивалентно его равномерному распределению в объеме пробы.

Измерения по этому способу производят в

15 следующей последовательности.

Если в качестве элемента сравнения используют определяемый элемент, то производят два измерения интенсивности характеристического излучения определяемого элемента: од20 но без элемента сравнения, а второе с элементом сравнения. Затем вычисляют разность этих измерений, на значение которой делят первый результат. Отношение этих величин является мерой концентрации определяемого

25 элемента. Если в качестве элемента сравнения используют другой элемент, с энергией характеристического излучения, близкой к энергии излучения определяемого элемента, но используемая аппаратура обеспечивает их одновре30 менную раздельную регистрацию, то измерения интенсивностей указанных излучений про450099

Предмет изобретения

Составитель Е. Коков

Техред М, Семенов

Корректор Н. Аук

Редактор И. Шубина

Заказ 741/16 Изд. № 1122 Тираж 651 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 изводят одновременно и вычисляют их отно шение, являющееся мерой концентрации определяемого элемента. В обоих случаях отношение интенсивностей излучения практически не зависит от состава наполнителя пробы и определяется только содержанием анализируемого элемента.

Таким образом, предлагаемыйспособ позволяет повысить точность анализа и обеспечить проведение анализа в насыщенных слоях пробы.

Способ рентгенофлуоресцентного анализа состава вещества, заключающийся в возбуждении и регистрации интенсивностей характеристического излучения определяемого элемента и элемента сравнения и нахождении содержания определяемого элемента по результатам этих измерений, отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа, элемент сравнения располагают в объеме пробы в виде тонкой пластины, прозрачной для излучения аналитической линии определя10 емого элемента и расположенной под некоторым углом к облучаемой поверхности пробы так, что один край пластины расположен на одном уровне с поверхностью пробы, а другой — на расстоянии от поверхности, несколь15 ко превышающем слой насыщения для излучения определяемого элемента.