Устройство для рентгенофлуоресцентного бездисперсионного анализа

 

ОП ИСАЙИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик (11) 452 774

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТИЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства(22) Заявлено 23.12.71(21) 1728595/26-25 (51) М. Кл. 601 23/22 с присоединением заявки №

Государственный комитет

Соввта Министров СССР оа делам изобретений и открытий (32) Приоритет

Опубликовано 05.12.74, Бюллетень № 45 (53) УДК 621Э86 (088.8) Дата опубликования описания 25-12 .74

Ю. М. Гурвич, Р. И; Плотников, B. И. Столин, Л. А. Хуцишвнли и

В. И. Шаензон (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО, БЕЗДИСПЕРСИОННОГО АНАЛИЗА

Известны устройства для ренгенофкуо ресцентного бездисцерсионного анализа, содержашне источник излучения с выходным окном, выполненным в вице монохроматизируюшего фильтра, камеру образцов и детектор. Основным недостатком таких устройств, в особенности при анализе легких элементов, является невысокая чувствитель» ность анализа, обусловленная неудовлетворительным спектральным составом возбуждающего излучения или его малой ин тенсивностью.

С целью улучшения порога чувствитець ности анализа и повышенир его избиратель ности толшина выходного окна источника излучения обратна по величине линейному коэффициенту поглошения„ф материала окна для выделяемого флуоресцентного излуче ния материала анода, т. е. (ж у»

В предложенном устройстве окно источ ника излучения, например рентгеновской трубки, выполняется иэ материала, селек» тивно пропускаюшего характеристическое

2. излучение анода при сильном ослаблении тормоэно составляющей спектра. При окно, пропуская 30-40% выделяемого излучения, в десятки раз ослабб, ляет тормозную составляющую первичного . спектра.

Предложенное устройство позволяет исключить дополнительную фильтрацию воэбуждаюшего излучеййя,,что особенно важно

)О lipH бездисперсионном анализе легких эле» ментов. Например, для определения натрия о окно и анод рентгеновской трубки выполняют иэ магния, К-серии которого эффективно возбуждает натрий. Так как при плот

М 3 насти магниевого фильтра 1,5-2 г/см ere: линейный коэффициент поглоптвния для И 4

=тсоставляет 70-1000 см, толшина фиЛьтра должна быть равной 10-15 мкм.

Если для окна и анода рентгеновской трубки взят один и тот же материал, целесообразно конструктивно объединить два эти узла, чтобы приблизить фокус трубки

25 к исследуемому объекту, 452774

Составитель

Редактор Г.орловская Техред училке Корректор :

Заказ !Я Щ Изд. М 3Ц г Тираж 651

Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 1ИОЗБ, Раушская наб., 4

Предприятие «Патент», Москва, Г-59, Бережковская на5., 24

Предмет изобретении

Устройство для рентгенофлуоресцентного бездисперсионного анализа, содержащее источник излучения с выходным окном, выполненным в виде монохроматизирующего, фильтра, камеру образцов и детектор, . о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с

; целью улучшения порога чувствительности и повышения избирательности анализа, толщина выходного окна источника излучения

: ббратна по величине линейному коэффициенту поглощении материала окна для выделяемого

- флуоресцентного излучения материала анода.

Устройство для рентгенофлуоресцентного бездисперсионного анализа Устройство для рентгенофлуоресцентного бездисперсионного анализа 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к методам анализа материалов радиационными способами и может быть использовано для определения тяжелых элементов, в том числе и благородных металлов при низких субфоновых их содержаниях в горных породах, рудах и минеральных при поиске, разведке и отработке рудных месторождений

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их физических свойств, а именно для исследования параметров каналов нанометрических размеров в трековых мембранах, и может быть использовано при изготовлении объектов из трековых мембран для анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к области инструментального химического анализа, в частности к области аналитической химии

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к исследованию конструкций, содержащих делящееся вещество, например подкритических сборок и ТВЭЛов
Наверх