Камера для облучения ядерных эмульсий

 

воксск знлю

aL %}Ô 17- 9 Ì

Ф34(щиФт Фюя Ч Э А 1р

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Сотоз Советски к

Социалистических

Респубики (>a) 4 30740 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 11.1071 .(21) 1704595/26-25 с присоединением заявки Ph (23} Приоритет— (43) Опубликовано 2506.78., Бюллетень РЙ 23 (51) М. Кл.

6 01 T 5/10

ГЯЯРДЯРЯТЯЯЯЯНЯ IIQNIITIIT

Вяяятя Ияяяятряя OOCP яя дяяяя яяябрятяяяя

II ятярытяй (53) УДК539. 107 (088.8) (45) Дата опубликования описания 250578 (72) %вторы изобретения

Н.Ф.Халин и Н.Я.Руткевич (71) Заявитель (54) кАмеРА для ОБлучения ядеРных эиульсий

Изобретение относится к технике ядерных исследований и может найти применение при изучении ядерных реакций, происходящих на ядрах, входящих в состав эмульсий. 5

Известна камера для облучения ядерных эмульсий заряженными частицами, содержащая светонепроницаемый корпус с послечовательно установленными в нем мишенью и фотопластинами, закреплен- 10 ными на.вращающемся барабане. При вра щенки барабана фотопластины поочередно устанавливаются под пучок ускоренных частиц и облучаются.

Известная камера не обеспечивает 15 воэможности быстро облучать одновременно большое количество фотопластин.

Цель изобретения — повышение быстродействия камеры для облучения ядерных эмульсий. 20

Цель достигаетс я тем, что в корпусе камеры предлагаемой конструкции установлена разъемная кассета с последовательно расположенными комплектами фотопластин, укрепленных по окружности 25 соосно пучку, снабженная приводом поступательного перемещения, причем перед кассетой установлена диафрагма для формирования направленного на фотопластнны потока рассеяных частиц раз- ЗО мером, соответствующим длине фотопластин.

Предлагаемая камера изображена на чертеже с двумя разрезами, Камера содержит светонепроницаемый вакуумный корпус l, состоящий иэ тонкостенной трубы с фланцами, на которых герметично закреплены крышки 2,3 н дистанционные приводы 4 и 5, (4 — привод поступательного перемещения и 5 мальтийский механизм). Внутри корпуса за рассеивающей мишенью 6 установлена кассета 7 с фотопластинами 8. Рассеивающая мишень закреплена на штоке мальтийского механизма 5 перпендикулярно к коллимированиому пучку 9 ускоренных частиц. В кассете, 7 по окружности соосно оси пучка закреплены три,компл .кта фотопластин 8. Для удобства установки, съема и устрбнения засвечивания фотопластин кассета 7 выполнена разъемной и состоит. из каркаса 10 для крепления фотопластин, съемного Кожуха

11 с направляющими 12 для соединения с приводом 4 поступательного перемещения, тонкостенной трубы 13, на котпрую надевается каркас 10, выполненный из тонкостенных перегородок 14.

Комплекты фотопластин 8 (в данной конструкции в комплекте осемь фото430740 пластин, установленных по окружности) с помощью привода 4 поступательного перемещения последовательно устанавливаются под вырезающей диафрагмой 15 поток 16 заряженных частиц. Вырезывающая диафрагма 15 выполнена в виде двух тонкостенных труб 17 и 13. Труба 17 закреплена на передней крышке 2, а .труба 13 является частью кассеты 7 .в корпусе 1. Зазор между трубами 17 и

13 обеспечивает вырезание рассеянного потока 16 заряженных частиц и таким образом формирует кольцевой по сечению пучок, направленный на комплект фотопластин 8.

Эксплуатируют камеру следующим образом.

В кассету 7 вставляют фотопластины вне камеры и затем при отведенной в сторону крышке 3 вставляют кассету в камеру. При этом направляющие 12 кассеты соединяют с приводом 4 поступательного перемещения, а трубу 13 крепят к корпусу 1. После установки кассеты камеру закрывают крышкой 3.

Кассета 7 с первым (по ходу пучка) комплектом из восьми фотопластин, расположенных по окружности, приводом 4 устанавливается в рабочее положение, т.е. в зону облучения потоком заряженных частиц, вырезанным диафрагмой 15.

После облучения первого комплекта кассету перемещают во второе положение, при этом под пучок устанавливается второй комплект фотопластин, и Э т.д.

Предлагаемая конструкция камеры обеспечивает удобство эксплуатации, быстроту, легкость и высокую точность установки комплектов фотопластин под

f0 вырезанный диафрагмой поток заряженных частиц.

Формула изобретения

Камера для облучения ядерных эмульсий заряженными частицами, содержащая светонепроницаемый корпус с последова=ельио установленными в нем мишенью и фотопластинами, о т л и ч а20 ю щ а я с я тем, что, с целью повышения быстродействия, в корпусе установлена разъемная кассета с последовательно расположенными комплектами фотопластин, укрепленных по окружности соосно пучку, снабженная приводом поступательного перемещения, причем перед кассетой установлена диафрагма для формирования направленногo на фотопластины потока рассеянных частиц размером, соответствующим длине фотопластин.

Составитель Н.Халин

Редактор П,Горькова Техред E.давидович Корректор A.Âëàñåío

Заказ 3282/2 Тираж 702 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП Патент, r.Óærîðoä, ул.Проектная, 4

Камера для облучения ядерных эмульсий Камера для облучения ядерных эмульсий Камера для облучения ядерных эмульсий 

 

Похожие патенты:

Способ определения энергетического порога чувствительности ядерной эмульсиипри известных способах оценки значения энергетического порога чувствительности фотоэмульсий по средней плотности проявленных зерен на следе частицы с определенной ионизирующей снособиостью онираются на 5 произвольные предложения о величине флюктуации в передаче энергии частицей мнкро- 'кристаллу agbr. это не дает возможности быть уверенным в достоверности способов.по предлагаемому способу можно прямо 10 'получить кривую распределения лппфокрнсталлов agbr ядерной эмульсии по их чувствительности.способ основан на изучении фотографической эффективности результата попадания в 15 микрокристалл отдельного электрона известной энергии, тормозяи1.егося внутри мнкрокристалла до остановки. при этом миниг^итльная энергия электро]1а, которая сообщает микрокристаллу способность к проявлению может 20 быть отождествлена с чувствительностью микрокристалла.заключается способ в том, что на однослойном препарате исследуемой эмульсии экспонируют под электронным пучком последова- 25 тельность полей, отличающихся энергией электронов, но при постоянстве экспозиций. после нроявления препарата определяют плотность проявленных зерен в полях облучения и строят зависимость выхода нроявлен- 30 ных зерен от энергии электронов.нов выбирают такими, чтобы можно было пренебречь вероятностью кратных попаданий электронов в микрокристалл и выходом электронов за пределы микрокристаллов. этим условиям соответствуют экспозиции 0,1—0,2 электрона на микрокристалл и эпергия электронов при экспозиции, не превыщающая 2000 эв (максимальиый пробег в agbr~ -^10^0 см).тогда нолучеииая зависимость выхода проявленных зерен от энергии электронного пучка будет показывать долю микрокристаллов с норого>&.! чувствнтельности не выще заданного значення энергии, а дифференцированная кривая — распределенне микрокристаллов по чувствительности.предмет изобретенияспособ онределення энергетического порога чувствительности ядерной эмульсни по плотности проявленных зерен, находящихся в ноле облучення, отличающийся тем, что, с целью нолучення сведеннй о распределепи'и мнкрокрнсталлов agbr по чувствительности, изучают выход проявленных зерен на последовательности полей однослойного препарата, экспонированных npii постоянной экспозиции электронами с различной энергней в условнях эксноннровання, когда вероятность кратных попаданнй электронов в микрокристалл и выход электронов за нределы микрокристалла нренебрежимо малы. // 172407
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано при регистрации заряженных частиц на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах с применением твердотельных трековых детекторов
Изобретение относится к области электрометаллургии и может быть использовано для плавки в вакуумно-дуговых печах слитков из титана и его сплавов, легированных изотопом углерод-14, в частности для проведения авторадиографических исследований
Наверх