Устройство для измерения падения напряжения на полупроводниковых вентилях

Авторы патента:

G01R31/26 - испытание отдельных полупроводниковых приборов (измерение содержания примесей G01N)

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Р1 42 6207

Союз Советоки

Социалиетииеекии

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 19.05.72 (21) 1787986/26-25 (51) М, Кл. G 01г 31/26 с присоединением заявки №

Государотвеииый комитет

Совета й1ииистрав СССР ла делам изоеретекий и открытий (32) Приоритет

Опубликовано 30.04.74. Бюллетень № 16

Дата опубликования описания 10.10.74 (53) УДК 621.317.7:621.

396.6 (088.8) (72) Авторы изобретения

Ю. А. Унт и Ю. А. Тислер (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАДЕНИЯ НАПРЯ)КЕНИЯ

НА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ВЕНТИЛЯХ

Изобретение относится к области измерений характеристик полупроводниковых приборов.

Известно устройство для измерения падения напряжения на полупроводниковых вентилях, содержащее источник постоянного тока, накопительный конденсатор, тиристор и ограничитель тока.

Однако в таком устройстве амплитуда тока зависит от многих факторов (напряжения источника импульсов, дополнительного резистора, падения напряжения на измеряемом вентиле) и ее стабилизация вызывает трудности, которые тем значительнее, чем больше значение тока. Наибольшие трудности связаны со стабилизацией источника импульсов напряжения.

Цель изобретения вЂ” повышение точности измерения.

Это достигается тем, что в предлагаемом устройстве тиристор соединен с последовательной цепью из обмотки дросселя насыщения, который имеет дополнительную обмотку, подключенную через дроссель к стабилизатору тока, и трансформатора тока.

На чертеже изображена схема устройства.

Источником импульсов напряжения служит накопительный конденсатор 1 и коммутирующий тиристор 2. Через резистор 3 конденсатор соединен с источником 4 постоянного напряжения. Испытуемый вентиль 5 подключен к схеме через трансформатор тока 6 с обмоткой 7. Между источником импульсов напряжения и нагрузкой включена обмотка дросселя 8 насыщения, подмагничивающая обмот5 ка 9 которого подключена через ненасыщающийся дроссель 10 к источнику 11 стабилизированного тока. Испытуемый вентиль 5 соединен с амплитудным вольтметром 12.

Устройство работает следующим образом.

10 В исходном состоянии конденсатор 1 заряжен через резистор 3 до напряжения источника 4. Сердечник дросселя 8 насыщен благодаря протеканию тока в подмагничивающей обмотке 9 от источника стабилизированного

15 тока. При отпирании тиристора 2 конденсатор разряжается через обмотку 7 дросселя насыщения и первичную обмотку трансформатора

G тока.

Дроссель насыщения включен в схему та20 ким образом, что намагничивающая сила разрядного тока конденсатора противоположна на магничивающей силе, возникающей под действием источника 11 тока. Вследствие этого в момент уравнивания упомянутых намаг25 ничивающих сил дроссель 8 выходит из насыщения и ограничивает дальнейшее увеличение тока разряда конденсатора. Амплитуда импульса тока в первичной обмотке трансформатора б определяется величиной тока источниЗО ка 11 и соотношением числа витков обмоток

426207

Предмет изобретения

Составитель 3. Челнокова

Техред Г. Дворина

Редактор Т. Рыбалова

Корректор Т. Добровольская

Заказ 2718/9 Изд. № 1533 Тираж 678 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 дросселя 8 и практически не зависит от напряжения на конденсаторе, его емкости, а также от напряжения на испытуемом вентиле.

Импульс тока трансформируется трансформатором тока 6 в требуемом соотношении в испытуемый вентиль. Длительность импульсов определяется насыщением трансформатора тока и при заданном сечении сердечника зависит от числа витков вторичной обмотки и падения напряжения на измеряемом вентиле.

Дроссель 7 предназначен для предотвращения попадания в источник тока 11 импульсов напряжения, трансформируемых в цепь подмагничивания дросселя.

Устройство для измерения падения напряжения на полупроводниковых вентилях, со5 держащее источник постоянного тока, накопительный конденсатор, тиристор, ограничитель тока и измерительный прибор, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерений, тиристор последователь10 но соединен с трансформатором тока и обмоткой дросселя насыщения, который имеет дополнительную обмотку, соединенную через дроссель со стабилизатором тока.

Устройство для измерения параметров транзисторов // 425139

Способ измерения пробивного напряжения ;?-п-переходов полупроводниковых приборов с лавинным механизмом пробоя // 421959

Устройство для разбраковки варикапов // 421958

Многоканальное устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов // 421957

Измерительный элемент // 421956

Устройство для измерения теплового сопротивления транзисторов // 421955

Устройство для измерения отношениястатических коэффициентов передачи токатранзисторов // 420969

Устройство для 1'13л\ерения электрически4 свойств полупроводниковых материалов | // 419817

Патент 417749 // 417749

Способ измерения падения напряжения на полупроводнике в мдпдм-структуре и устройство для его осуществления // 2101720

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Устройство для определения электрофизических параметров полупроводниковых пластин // 2101721

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Способ контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления элементов с вольтамперной характеристикой s-типа и устройство для его осуществления // 2105989

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Устройство для определения качества изготовления тиристоров // 2112989

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Установка для испытаний на радиационную стойкость // 2112990

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Способ определения поверхностного изгиба зон полупроводника s в мдп-структуре // 2117956

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Устройство и способ измерения поверхностного сопротивления полупроводниковых пластин // 2121732

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Установка для испытаний на радиационную стойкость // 2128349

Устройство для контроля светодиодов // 2130617

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Устройство диагностирования тиристорного преобразователя // 2133042

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим